电路板测试方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种电路板测试装置，包括微处理器单元、信号源单元、测试操作台以及数据分组单元，微处理器单元控制信号源单元向固定于测试操作台的电路板中相应的走线输入测试信号；数据分组单元根据走线的类型对所需测试走线输出的信号进行测试，并将测试后得到的信号发送给微处理器单元进行分析处理，从而得到所述所需测试走线的状态信息。本发明专利技术同时公开了一种电路板测试方法，该装置及方法能够实现对于电路板的自动、全面测试，且测试效率较高。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及电路板测试技术，尤其涉及一种电路板测试方法及装置。
技术介绍
在集散型控制系统(DCS, Dsitributed Control System )或可编程逻辑控 制器(PLC, Programmable Logic Controller)系统中，采用机笼单板插槽或机 架式设计时，需使用母板。母板是连接单板或模块的基础。母板的焊接和制 板的可靠性，决定了系统运行的稳定性和可靠性。基于母板在设计中的重要 作用和特殊地位，对其进行全面、有效的测试就变得非常关键和重要。母板的特点是面积大、走线密集、接插件数量多、走线类型丰富。其 中，就接插件来看，包括64芯欧插、DB25、 DB9、 20芯欧插、8芯接线端子 等；就走线类型来看，包括电源走线、屏蔽地线、 一对一信号线、 一对多信 号线等。在母板测试过程中，主要测试母板的焊点是否存在短路、母板上的走线 是否存在断线，母板上的接插件是否存在方向性错误等。目前，现有技术中 对母板进行测试的方法主要有两种一种是由人工按照母板上的走线，用万用表进行——测试。但是，这种 测试方式仅测试走线的——对应性，已需要非常大的工作量，若需进一步测 试相邻走线间是否短接，则工作量将更加庞大；同时，在大量重复劳动时， 在测试过程中遗漏测试一定数量走线的可能性很大。基于以上原因，使得这种母板测试方法工艺上难以保障，且测试效率低下。另一种母板测试方法是用基于母板使用的单板来测试其对应的母板。这种方法的缺点是基于母板使用的单板有自身的使用要求，并不能使用母板 上的所有走线和连接，只能使用其中的一部分，因此，使用单板测试其对应 的母板并不能达到全面测试母板上所有走线和连接的目的。综上所述，现有技术中的母板测试方法，并不能自动、全面地对母板进 行测试，且测试效率j氐下。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术要解决的技术问题是，提供一种电路板测试方法及装 置，能够实现对于电路板的自动、全面测试，且测试效率较高。为此，本专利技术实施例采用如下技术方案本专利技术提供了一种电路板测试装置，该装置包括微处理器单元、信号 源单元、测试才乘作台、数据分组单元；其中，微处理器单元，用于根据电路板上当前所需测试走线及测试内容，控制 信号源单元向电路板上相应的走线输出测试信号，以及控制数据分组单元对 所述当前所需测试走线输出的信号进行测试；还用于对数据分组单元发来的 测试后得到的信号进行分析处理，得到所需测试走线的状态信息；信号源单元，用于在^i:处理器单元控制下向测试才喿作台上所安装电3各斧反 的相应走线发送测试信号；测试操作台，用于为所需测试的电路板提供连接信号源单元和数据分组 单元的接口；数据分组单元，用于在微处理器单元控制下，对所述所需测试走线输出 的信号进行测试，并将测试后得到的信号发送给微处理器单元。其中，所述数据分组单元还用于在微处理器单元控制下，使用与所述 所需测试走线类型相适应的测试方法进行所需测试走线的所述测试；相应的,微处理器单元进一步用于根据所需测试走线的类型，控制数据分组单 元使用与所述所需测试走线类型相适应的测试方法进行所需测试走线的所述 测试。该装置还包括结果显示单元，用于将微处理器单元分析处理得到的走 线的状态信息向用户显示。该装置还包括接口转换单元，用于进行数据分组单元与测试操作台之 间的接口转换。微处理器单元包括模拟开关控制单元、模拟开关单元以及数据输入处 理单元；其中，模拟开关控制单元，根据电路板上当前所需测试的走线、测试内容以及走线类型，控制模拟开关单元中各个模拟开关的开关状态；模拟开关单元，用于通过自身所包含各个模拟开关的开关状态的改变， 控制信号源单元向电路板上相应的走线输出高低电平测试信号，以及控制数 据分组单元选择当前所需测试的走线以及与所需测试走线相适应的测试方 法；数据输入处理单元，用于对数据分组单元发来的所述测试后得到的信号 进行分析处理，得到所需测试走线的状态信息。数据分组单元包括电源线测试单元、 一对一走线方式测试单元、以及 一对多走线方式测试单元；其中，电源线测试单元，用于对电絲4反中电源线输出的信号进行测试；一对一走线方式测试单元，用于对电路板中一对一走线输出的信号进行 测试；一对多走线方式测试单元，用于对电路板中一对多走线输出的信号进行 测试。所述结果显示单元包括简易显示单元和/或详细显示单元；其中， 简易显示单元，用于根据所述状态信息使用蜂鸣器和/或LED灯进行走线 状态信息的显示；详细显示单元，用于直接将电路板中走线的所述状态信息进行输出显示。 该装置进一步包括通讯单元，用于将所述状态信息转发给详细显示单元。 本专利技术同时提供了 一种电路板测试方法，该方法包括 根据电路板上当前所需测试走线、测试内容向电路板中相应走线的 一侧 输入测试信号；对所述当前所需测试走线输出的信号进行测试；将测试后得到的信号进行分析处理，得到所述所需测试走线的状态信息。 其中，对输出的信号进行测试之前，该方法进一步包括根据所述所需 测试走线的类型，确定与所述所需测试走线相适应的测试方法。 该方法进一步包括将得到的所述状态信息向用户进行显示。所述分析处理具体为将获得的所述测试后得到的信号与一样本数据进行逐位比较，数据相同的数据位，该数据位对应的走线状态为未发生故障；而数据不相同的凄t据位， 该数据位对应的走线状态为故障；其中，所述样本数据为所述所需测试走线均未发生故障时对其输出的信号测试 后得到的信号。走线的类型包括电源线、 一对一走线方式、以及一对多走线方式。 所述显示具体为使用蜂鸣器和/或LED灯进行走线状态信息的显示；和/或 使用上位机直接将电路板中走线的所述状态信息进行输出显示。 对于上述技术方案的技术效果分析如下直接通过微处理器单元控制信号源单元向电路板中的走线输入测试信 号，并通过数据分组单元实现对于走线输出信号的测试，之后，再次通过微 处理器单元完成对于测试后得到信号的分析处理，得到电路板中各走线的状 态信息，所有过程由装置自动完成，无需人工进行走线的测试，提高了测试 效率。而且，本专利技术所述测试方法和装置通过在各个走线的一侧输入测试信号, 测试走线另 一侧输出的信号的方法进行走线状态的测试，可以对电路板中的 所有走线进行测试；而且，由于测试自动完成，不存在遗漏所需测试的走线 的情况。基于以上两点，本专利技术所述测试方法及装置使得对于电路板中走线 的测i式更力。全面。附图说明图1为本专利技术电路板测试装置结构示意图； 图la为本专利技术电路板测试装置中微处理器单元实现示例图； 图lb为本专利技术电路板测试装置中模拟开关单元实现示例图； 图lc为本专利技术电路板测试装置中信号源单元实现示例图； 图ld为本专利技术电路板测试装置中接口转换单元实现示例图；图le为本专利技术电路板测试装置中电源线测试单元实现示例图lf为本专利技术电^各板测试装置中一对一走线方式测试单元实现示例图lg为本专利技术电路板测试装置中一对多走线方式测试单元实现示例图lh为本专利技术电絲4反测试装置中简易显示单元实现示例图li为本专利技术电^各板测试装置中通讯单元实现示例图2为本专利技术电路板测试方法流程示意图。具体实施例方式本专利技术的基本思想是微处理器单元控制信号源单元向电路板中相应的 走线输入测试信号；数据分组单元根据走线的类型使用本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电路板测试装置，其特征在于，该装置包括：微处理器单元、信号源单元、测试操作台、数据分组单元；其中，　微处理器单元，用于根据电路板上当前所需测试走线及测试内容，控制信号源单元向电路板上相应的走线输出测试信号，以及控制数据分组单元对所 述当前所需测试走线输出的信号进行测试；还用于对数据分组单元发来的测试后得到的信号进行分析处理，得到所需测试走线的状态信息；　信号源单元，用于在微处理器单元控制下向测试操作台上所安装电路板的相应走线发送测试信号；　测试操作台，用于 为所需测试的电路板提供连接信号源单元和数据分组单元的接口；　数据分组单元，用于在微处理器单元控制下，对所述所需测试走线输出的信号进行测试，并将测试后得到的信号发送给微处理器单元。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：徐建龙，郑伟建，夏晓麟，
申请(专利权)人：浙江中控技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：86[中国|杭州]