【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】专利说明采用时序自旋激励的磁共振 本专利技术涉及磁共振领域,尤其涉及降低由超高场中的线圈B1非均匀性导致的磁共振应用中的空间非均匀性,其中所述线圈B1非均匀性是由对象的电介质和导电性效应导致的,在此将具体参照其对本专利技术予以说明。更一般而言,下文涉及降低一般由(例如)线圈加载、仪器缺陷、静态(B0)磁场非均匀性、电介质或涡流效应等引起的磁共振应用中的空间非均匀性。 通常将磁共振扫描仪中采用的射频线圈配置为在空载条件下在检查区域内产生基本均匀的B1场。也就是说,射频线圈在检查区域内未布置对象的情况下产生基本均匀的B1场。理想地,置于检查区域内的对象将由此受到基本上具有空间均匀性的B1场的作用,该B1场将在整个对象内界定基本上具有空间均匀性的自旋偏折角(tip angle)分布,由此获得准确的磁共振成像和/或波谱特性(spectroscopy)。 但是,将诸如人体成像对象的目标插入到检查区域可能导致B1场发生变形,尤其是在3T或更强的B0场中。这样的变形通常是由电介质和/或导电性效应导致的,并且与所述目标内变得可以与所述目标的尺寸相比较的RF波长相关。随着成像对象 ...
【技术保护点】
一种磁共振扫描仪,包括: 主磁体(20,22),其用于至少在检查区域内生成静态磁场; 磁共振激励系统(36,36’),其包括布置为向所述检查区域内注入射频能量的至少一个射频线圈(30,301,302,303)和与所述至少一个射频 线圈的不同输入端口耦合的至少两个射频放大器(38,40,40’);以及 控制器(66,70),其控制所述磁共振激励系统,从而在所述检查区域内的对象(16)中产生随时间变化的空间B↓[1]场分布,对所述场分布进行时间积分,从而在所述对象 内界定具有降低的空间非均匀性的空间偏折角分布。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...
【专利技术属性】
技术研发人员:Z翟,GD德梅斯泰,MA莫里希,PR哈维,
申请(专利权)人:皇家飞利浦电子股份有限公司,
类型:发明
国别省市:NL[荷兰]
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