一种高频主轴的回转精度动态测试装置以及该装置的使用方法制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种高频主轴的回转精度动态测试装置，包括：至少两个测试部以及连接部，测试部包括底板；底座，设置在底板上，具有第一凹槽，该第一凹槽内设置有第一光杆，该第一光杆沿第一水平方向延伸，具有第一端部和第二端部；滑台，套设在第一光杆上；第二光杆，具有第三端部和第四端部，第三端部固定在滑台上，第二光杆沿第二水平方向延伸，该第二水平方向和第一水平方向垂直；传感器支架，套设在滑台以及第二光杆上；第一千分尺，设置在底座上，并且靠近第一端部；第二千分尺，设置在滑台上，并且靠近第四端部；位移传感器，设置在传感器支架上，相邻测量部之间通过连接部垂直连接在一起。

【技术实现步骤摘要】
一种高频主轴的回转精度动态测试装置以及该装置的使用方法
本专利技术涉及一种机床主轴回转精度，具体涉及一种高频主轴的回转精度动态测试装置以及该装置的使用方法。
技术介绍
随着科学技术的快速发展，数控机床正朝高速精密的方向发展，而随着机床主轴转速的提高，机床主轴对回转精度要求更为严格，所以在对机床主轴动态回转精度进行测试时，需要有更高的精确度。目前机床主轴回转精度的测试方法，主要包括：方法一、打表测试法：将标准芯轴插入机床主轴，使用千分表对芯轴表面进行测量。这种方法的缺陷在于：(1)方法简单，会引入锥孔的偏心误差，不能进行误差分离；(2)准静态测试，不能反映主轴在工作转速下的回转误差；(3)精度差，不能应用于高速高精密的主轴回转精度测量。方法二、单向测试法：将标准球安装在主轴上，在主轴的敏感方向上安装位移传感器进行单方向测量，并进行去误差和消偏处理得出测量值。这种方法的缺陷在于：(1)加工误差敏感方向随着刀具的旋转在各个轴向横截面上360度变化，无法保证测试的精度；(2)没有特本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种高频主轴的回转精度动态测试装置，其特征在于，包括：/n至少两个测试部以及连接部，/n其中，所述测试部包括：/n底板；/n底座，设置在所述底板上，具有第一凹槽，该第一凹槽内设置有第一光杆，该第一光杆沿第一水平方向延伸，具有第一端部和第二端部；/n滑台，套设在所述第一光杆上，用于沿所述第一光杆进行往复运动；/n第二光杆，具有第三端部和第四端部，所述第三端部固定在所述滑台上，所述第二光杆沿第二水平方向延伸，该第二水平方向和所述第一水平方向垂直；/n传感器支架，套设在所述滑台以及所述第二光杆上，用于沿所述滑台以及所述第二光杆进行往返运动；/n第一千分尺，设置在所述底座上，并且靠近所述第一端部，...

【技术特征摘要】
1.一种高频主轴的回转精度动态测试装置，其特征在于，包括：
至少两个测试部以及连接部，
其中，所述测试部包括：
底板；
底座，设置在所述底板上，具有第一凹槽，该第一凹槽内设置有第一光杆，该第一光杆沿第一水平方向延伸，具有第一端部和第二端部；
滑台，套设在所述第一光杆上，用于沿所述第一光杆进行往复运动；
第二光杆，具有第三端部和第四端部，所述第三端部固定在所述滑台上，所述第二光杆沿第二水平方向延伸，该第二水平方向和所述第一水平方向垂直；
传感器支架，套设在所述滑台以及所述第二光杆上，用于沿所述滑台以及所述第二光杆进行往返运动；
第一千分尺，设置在所述底座上，并且靠近所述第一端部，用于推动所述滑台沿靠近所述第二端部的方向移动；
第二千分尺，设置在所述滑台上，并且靠近所述第四端部，用于推动所述传感器支架沿靠近第三端部的方向移动；
位移传感器，设置在所述传感器支架上，
相邻所述测量部之间通过所述连接部垂直连接在一起。


2.根据权利要求1所述的高频主轴的回转精度动态测试装置，其特征在于：
其中，相邻的所述测试部之间通过所述连接部卡合连接在一起。


3.根据权利要求1所述的高频主轴的回转精度动态测试装置，其特征在于：
其中，所述测试部还包括弹簧组件，该弹簧组件包括第一弹簧和第二弹簧，
所述第一弹簧套设在所述第一光杆上，并且设置在所述第一凹槽和所述滑台之间，靠近所述第二端部，
所述滑台具有滑台主体以及延伸段，所述第二光杆的所述第三端部固定在所述延伸段上，并且与所述滑台主体平行，
所述第二弹簧套设在所述第二光杆上，并且设置在所述延伸段和所述传感器支架之间，靠近所述第三端部。


4.根据权利要求1所述的高频主轴的回转精度动态测试装置，其特征在于：
其中，所述第一千分尺和所述第二千分尺均包括微分筒、千分尺旋钮支架以及测微螺杆，
所述测微螺杆为球型测微螺杆。


5.根据权利要求1所述的高频主轴的回转精度动态测试装置，其特征在于：
其中，所述第一千分尺和所述第二千分尺均包括千分尺旋钮支架，所述第一千分尺的所述千分尺旋钮支架设置在所述第一凹槽的中间位置，所述第二千分尺的所述千分尺旋钮支架设置在所述滑台的中间位置。


6.根据权利要求1所述的高频主轴的回转精度动态测试装置，其特征在于：
其中，所述测试部的数目为两个，即第一测试部和第二测试部，所述第一测试部和所述第二测试部设置在同一平面内，所述第一测试部的所述底板具有第一连接端，
所述第二测试部的所述底板具有第二连接端，所述连接部包括卡块和第二凹槽，
所述第二凹槽的一端设置在所述第一连接端上，另一端设置在所述第二连接端上，所述卡块的形状和大小与所述第二凹槽相匹配，所述卡块卡合在所述第二凹槽内，使得两个所述底板垂直连接在一起。


7.根据权利要求1所述的高频主轴的回转精度动态测试装置，其特征在于：
其中，所述测试部的数目为四个，即第一测试部、第二测试部、第三测试部以及第四测试部，所述第一测试部、所述第二测试部、所述第三测试部以及所述第四测试部设置在同一平面内，
所述第一测试部的所述底板包括第一连接端和第八连接端，
所述第二测试部的所述底板包括第二连接端和第三连接端，
所述第三测试部的所述底板包括第四连接端和第五连接端，
所述第四测试部的所述底板包括第六连接端和第七连接端，所述连接部的数目为四个，即第一连接部、第二连接部、第三连接部以及第四连接部，
所述第一连接部包括第一卡体和第二凹槽，
所述第二连接部包括第二卡体和第三凹槽，
所述第三连接部包括第三卡体和第四凹槽，
所述第四连接部包括第四卡体和第五凹槽，
所述第二凹槽的一端设置在所述第一连接端上，另一端设置在所述第二连接端上，
所述第三凹槽的一端设置在所述第三连接端上，另一端设置在所述第四连接端上，
所述第四凹槽的一端设置在所述第五连接端上，另一端设置在所述第六连接端上，
所述第五凹槽的一端设置在所述第七连接端上，另一端设置在所述第八连接端上，
所述第一卡体的形状和大小与所述第二凹槽相匹配，并且卡合在所述第二凹槽内，使得所述第一测试部的所述底板和所述第二测试部的所述底板垂直连接在一起，
所述第二卡体的形状和大小与所述第三凹槽相匹配，并且卡合在所述第三凹槽内，使得所述第二测试部的所述底板和所述第三测试部的所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：郭淼现，叶逸，江小辉，丁子珊，
申请(专利权)人：上海理工大学，
类型：发明
国别省市：上海;31