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本发明涉及一种高频主轴的回转精度动态测试装置，包括：至少两个测试部以及连接部，测试部包括底板；底座，设置在底板上，具有第一凹槽，该第一凹槽内设置有第一光杆，该第一光杆沿第一水平方向延伸，具有第一端部和第二端部；滑台，套设在第一光杆上；第二光...
该专利属于上海理工大学所有，仅供学习研究参考，未经过上海理工大学授权不得商用。

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