用于三坐标测量设备的检测模块和三坐标测量设备制造技术

本实用新型专利技术公开一种用于三坐标测量设备的检测模块，所公开的检测模块包括第一基准面(101)、第二基准面(102)和第三基准面(103)，其中，所述第一基准面(101)、所述第二基准面(102)和所述第三基准面(103)中的至少一者设置有检测结构(107)。上述用于三坐标测量设备的检测模块能解决目前的三坐标测量设备出现数据异常时难以快速分析出异常原因的问题。本实用新型专利技术公开一种三坐标测量设备，所公开的三坐标测量设备包括移动臂(400)、测量平台(700)和根据上文所述的用于三坐标测量设备的检测模块，所述移动臂(400)的一端安装有测针(500)，所述检测模块能够固定安装于所述测量平台(700)。

【技术实现步骤摘要】
用于三坐标测量设备的检测模块和三坐标测量设备
本技术涉及三坐标测量
，尤其涉及一种用于三坐标测量设备的检测模块。
技术介绍
三坐标测量设备能够在三维可测的空间范围内，根据测针系统返回的点数据，通过三坐标测量设备的软件系统计算各类工件的几何形状、尺寸等，广泛应用于精密零件制造业。为了准确测量出工件的尺寸，三坐标测量设备通常需要使用不同型号的多组测针才能完成测量，测量过程中容易出现问题导致数据异常，例如，测针关联误差、测针磨损、测针脏污、加长杆垂直度误差等。在三坐标测量设备出现数据异常时，常见的处理方法是通过重新校验测针、校验设备、重复测量、与其它测量设备进行比对等方法逐步去分析验证，通常需要4至5个小时才能分析出异常原因，浪费时间且严重影响三坐标测量设备的工作效率。因此，希望有一种装置能够克服或者至少减轻现有技术的上述缺陷。
技术实现思路
本技术公开一种用于三坐标测量设备的检测模块，以解决目前的三坐标测量设备出现数据异常时难以快速分析出异常原因的问题。为了解决上述问题，本技术采用下述技术方案：第一方面本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于三坐标测量设备的检测模块，其特征在于，包括第一基准面(101)、第二基准面(102)和第三基准面(103)，其中，所述第一基准面(101)、所述第二基准面(102)和所述第三基准面(103)中的至少一者设置有检测结构(107)。/n

【技术特征摘要】
1.一种用于三坐标测量设备的检测模块，其特征在于，包括第一基准面(101)、第二基准面(102)和第三基准面(103)，其中，所述第一基准面(101)、所述第二基准面(102)和所述第三基准面(103)中的至少一者设置有检测结构(107)。


2.根据权利要求1所述的用于三坐标测量设备的检测模块，其特征在于，所述第一基准面(101)、所述第二基准面(102)和所述第三基准面(103)相互垂直。


3.根据权利要求2所述的用于三坐标测量设备的检测模块，其特征在于，所述检测模块包括第四基准面(104)和第五基准面(105)，其中，所述第四基准面(104)与所述第一基准面(101)相互平行，所述第五基准面(105)与所述第二基准面(102)相互平行。


4.根据权利要求3所述的用于三坐标测量设备的检测模块，其特征在于，所述第一基准面(101)、所述第二基准面(102)、所述第三基准面(103)、所述第四基准面(104)和所述第五基准面(105)均设置有所述检测结构(107)。


5.根据权利要求4所述的用于三坐标测量设备的检测模块，其特征在于，所述第一基准面(101)、所述第二基准面(102)、所述第三基准面(103)、所述第四基准面(104)和所述第五基准面(105)分别设置有不同类型的所述检测结构(107)。


6.根据权利要求5所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：冯摇，
申请(专利权)人：捷普电子新加坡公司，
类型：新型
国别省市：新加坡;SG