用于三坐标测量设备的检测模块和三坐标测量设备制造技术

本实用新型专利技术公开一种用于三坐标测量设备的检测模块，所公开的检测模块包括第一基准面(101)、第二基准面(102)和第三基准面(103)，其中，所述第一基准面(101)、所述第二基准面(102)和所述第三基准面(103)中的至少一者设置有检测结构(107)。上述用于三坐标测量设备的检测模块能解决目前的三坐标测量设备出现数据异常时难以快速分析出异常原因的问题。本实用新型专利技术公开一种三坐标测量设备，所公开的三坐标测量设备包括移动臂(400)、测量平台(700)和根据上文所述的用于三坐标测量设备的检测模块，所述移动臂(400)的一端安装有测针(500)，所述检测模块能够固定安装于所述测量平台(700)。

【技术实现步骤摘要】
用于三坐标测量设备的检测模块和三坐标测量设备
本技术涉及三坐标测量
，尤其涉及一种用于三坐标测量设备的检测模块。
技术介绍
三坐标测量设备能够在三维可测的空间范围内，根据测针系统返回的点数据，通过三坐标测量设备的软件系统计算各类工件的几何形状、尺寸等，广泛应用于精密零件制造业。为了准确测量出工件的尺寸，三坐标测量设备通常需要使用不同型号的多组测针才能完成测量，测量过程中容易出现问题导致数据异常，例如，测针关联误差、测针磨损、测针脏污、加长杆垂直度误差等。在三坐标测量设备出现数据异常时，常见的处理方法是通过重新校验测针、校验设备、重复测量、与其它测量设备进行比对等方法逐步去分析验证，通常需要4至5个小时才能分析出异常原因，浪费时间且严重影响三坐标测量设备的工作效率。因此，希望有一种装置能够克服或者至少减轻现有技术的上述缺陷。
技术实现思路
本技术公开一种用于三坐标测量设备的检测模块，以解决目前的三坐标测量设备出现数据异常时难以快速分析出异常原因的问题。为了解决上述问题，本技术采用下述技术方案：第一方面，本技术实施例提供一种用于三坐标测量设备的检测模块，所述检测模块包括第一基准面、第二基准面和第三基准面，其中，所述第一基准面、所述第二基准面和所述第三基准面中的至少一者设置有检测结构。第二方面，本技术实施例提供一种三坐标测量设备，包括移动臂、测量平台和根据上文所述的用于三坐标测量设备的检测模块，所述移动臂的一端安装有测针，所述底座能够固定安装于所述测量平台。本技术采用的技术方案能够达到以下有益效果：本技术实施例公开的用于三坐标测量设备的检测模块中，检测模块包括第一基准面、第二基准面和第三基准面，并且在至少一个基准面上设置有检测结构，三坐标测量设备可测量检测结构以获取测量数据，然后将测量数据与标准数据进行比对即可快速发现数据异常，并根据数据异常情况进行分析，可快速找到异常原因，从而可快速排除三坐标测量设备的故障，保障设备的测量精度，并且节约排除故障所需的人力、财力和时间。附图说明此处所说明的附图用来提供对本技术的进一步理解，构成本技术的一部分，本技术的示意性实施例及其说明用于解释本技术，并不构成对本技术的不当限定。在附图中：图1为根据本技术的一种实施方式的三坐标测量设备的示意图；图2为图1所示的三坐标测量设备中的检测模块的主视图；图3为图2所示的检测模块的右视图；图4为图2所示的检测模块的俯视图；图5为图2所示的检测模块的后视图；图6为图2所示的检测模块的左视图。附图标记说明：100-模块本体、101-第一基准面、1011-S形结构、1012-三维曲面结构、1013-斜圆柱孔结构、102-第二基准面、1021-圆锥孔结构、1022-第一弧形结构、1023-第一弧形凹槽结构、1024-平面结构、103-第三基准面、1031-半圆柱孔结构、1032-腰形孔结构、1033-圆柱孔结构、1034-平面结构、1035-T形圆柱孔结构、1036-六边形孔结构、1037-半腰形孔结构、104-第四基准面、1041-第二弧形结构、1042-阶梯凹槽结构、105-第五基准面、1051-第三弧形结构、1052-第二弧形凹槽结构、1053-圆环结构、1054-V形凹槽结构、1055-第三平面结构、106-第六基准面、107-检测结构、1071-柱形测针检测结构、1072-球形测针检测结构、200-底座、201-安装孔、300-连接杆、400-移动臂、500-测针、600-定位块、700-测量平台。具体实施方式为使本技术的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本技术具体实施例及相应的附图对本技术技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。以下结合附图，详细说明本技术各个实施例公开的技术方案。根据本技术的一个方面，公开了一种用于三坐标测量设备的检测模块，参见图1，检测模块包括第一基准面101、第二基准面102和第三基准面103，第一基准面101、第二基准面102和第三基准面103的位置可关系可根据三坐标测量设备所需检测的测针和测量方式进行适当的选择。其中，第一基准面101、第二基准面102和第三基准面103中的至少一者设置有检测结构107，测量结构107的具体结构可根据三坐标测量设备的检测需求(例如，所需检测的测针类型、所需检测的测量方式等)进行适当的选择。本技术实施例公开的用于三坐标测量设备的检测模块中，检测模块包括第一基准面101、第二基准面102和第三基准面103，并且在至少一个基准面上设置有检测结构107，使用检测模块之前，通过可靠的测量方式获取检测模块的标准数据，然后，三坐标测量设备可测量检测结构107以获取测量数据，然后将测量数据与标准数据进行比对即可快速发现数据异常，并根据数据异常情况进行分析，可快速找到异常原因(例如，测针关联误差、测针磨损、测针脏污、加长杆垂直度误差等)，从而可快速排除三坐标测量设备的故障，保障三坐标测量设备的测量精度，并且节约排除故障所需的人力、财力和时间。其中，可通过校准单位或者上级计量单位测量和校准，获取标准数据。此外，考虑到检测模块在使用过程中难免发生磨损等情况，因此，检测模块优选按照预定周期(例如，每间隔一个月、每间隔三个月、每间隔半年等)进行校准，以确保检测模块的准确性。检测模块的材质可根据实际需要进行适当的选择，优选为不易变形磨损的材质，以延长检测模块的使用寿命，并且提高检测模块的可靠性和准确性。可选地，再次参见图1，第一基准面101、第二基准面102和第三基准面103相互垂直，检测模块在使用时，可使得第一基准面101、第二基准面102和第三基准面103对应于三坐标测量设备自身的坐标系放置，有助于快速获取测量数据，以及比对测量数据和标准数据。此外，在本技术实施例中，检测模块还包括第四基准面104和第五基准面105，其中，第四基准面104与第一基准面101相互平行，第五基准面105与第二基准面102相互平行，从而能够更加全面的检测三坐标测量设备。可选地，参见图2至图6，第一基准面101、第二基准面102、第三基准面103、第四基准面104和第五基准面105均设置有检测结构107，用户可通过实际检测需求选择适当的检测结构107。进一步地，第一基准面101、第二基准面102、第三基准面103、第四基准面104和第五基准面105分别设置有不同类型的检测结构107，进一步扩大检测模块的适用范围，且使得获取的测量数据更加全面。进一步地，检测结构107包括柱形测针检测结构1071和球形测针检测结构1072，检测模块可同时用于检测柱形测针和球形测针。其中，柱形测针本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于三坐标测量设备的检测模块，其特征在于，包括第一基准面(101)、第二基准面(102)和第三基准面(103)，其中，所述第一基准面(101)、所述第二基准面(102)和所述第三基准面(103)中的至少一者设置有检测结构(107)。/n

【技术特征摘要】
1.一种用于三坐标测量设备的检测模块，其特征在于，包括第一基准面(101)、第二基准面(102)和第三基准面(103)，其中，所述第一基准面(101)、所述第二基准面(102)和所述第三基准面(103)中的至少一者设置有检测结构(107)。


2.根据权利要求1所述的用于三坐标测量设备的检测模块，其特征在于，所述第一基准面(101)、所述第二基准面(102)和所述第三基准面(103)相互垂直。


3.根据权利要求2所述的用于三坐标测量设备的检测模块，其特征在于，所述检测模块包括第四基准面(104)和第五基准面(105)，其中，所述第四基准面(104)与所述第一基准面(101)相互平行，所述第五基准面(105)与所述第二基准面(102)相互平行。


4.根据权利要求3所述的用于三坐标测量设备的检测模块，其特征在于，所述第一基准面(101)、所述第二基准面(102)、所述第三基准面(103)、所述第四基准面(104)和所述第五基准面(105)均设置有所述检测结构(107)。


5.根据权利要求4所述的用于三坐标测量设备的检测模块，其特征在于，所述第一基准面(101)、所述第二基准面(102)、所述第三基准面(103)、所述第四基准面(104)和所述第五基准面(105)分别设置有不同类型的所述检测结构(107)。


6.根据权利要求5所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：冯摇，
申请(专利权)人：捷普电子新加坡公司，
类型：新型
国别省市：新加坡;SG