微电子装置与管脚安排方法制造方法及图纸

本发明专利技术揭示一种微电子装置，其包含共享预定数目的预选管脚的核心集成电路及外围扫描测试接口，在进入外围扫描测试模式时，外围扫描测试接口可以控制测试信号经由共享的预选管脚输入或输出。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术是关于一种微电子装置，特别是一种核心集成电路及外围扫描测试接口共享预定管脚的的微电子装置。
技术介绍
印刷电路板上通常安装有多个例如集成电路(IC)等的微电子装置，而为了确保板上各个IC之间正确的互连，通常以执行互连测试的方式来做确认。例如，符合IEEE 1149.1规范的外围扫描(Boundary Scan)测试，即为互连测试的一种典型方式。一般而言，一个微电子装置包含用以执行主要功能的核心集成电路及用于测试的外围扫描测试接口。图1是显示已知的微电子装置100，其包含核心集成电路101、以及用于外围扫描测试的外围扫描测试接口架构及其专用管脚。如图1所示，外围扫描测试接口包含测试存取端口(TAP)控制器102、指令暂存器103、旁通暂存器104、及多个外围扫描单元105。在图1中所示的五个管脚TDI、TDO、TCK、TMS、及TRST是专用于外围扫描测试的管脚，在微电子装置100的其它功能模式时并不会使用到这些管脚。当执行外围扫描测试模式时，TDI是作为串行数据输入之用，TDO是作为串行数据输出之用，TMS是作为模式选择输入之用，TCK是作为时钟输入之用，而TRST是作为本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种微电子装置，包含：　核心集成电路；及　外围扫描测试接口，与该核心集成电路共享预定数目的预选管脚，其至少包括一共享管脚在外围扫描测试模式或一般功能操作模式之间切换。

【技术特征摘要】
1.一种微电子装置，包含：核心集成电路；及外围扫描测试接口，与该核心集成电路共享预定数目的预选管脚，其至少包括一共享管脚在外围扫描测试模式或一般功能操作模式之间切换。2.根据权利要求1所述的微电子装置，其中，该外围扫描测试接口根据该共享管脚在外围扫描测试模式或一般功能操作模式而决定模式选择信号。3.根据权利要求2所述的微电子装置，其中，该外围扫描测试接口包含：测试存取端口控制器，用以根据该模式选择信号以启动外围扫描测试模式，使测试信号经由该共享预选管脚输入或输出。4.根据权利要求3所述的微电子装置，其中，该外围扫描测试接口还包含：测试信号路径选择器，用以根据该测试存取端口控制器的状态以决定该共享预选管脚为外围扫描测试模式或一般功能操作模式。5.根据权利要求4所述的微电子装置，其中，该测试信号路径选择器根据该测试存取端口控制器的状态与该模式选择信号的逻辑运算结果，而决定该共享预选管脚为外围扫描测试模式或一般功能操作模式。6.根据权利要求5所述的微电子装置，其中，该测试信号路径选择器包含：逻辑门，接收代表该测试存取端口控制器的状态的信号与该模式选择信号，并输出路径控制信号；及多工器，根据该路径控制信号，使该测试信号经由该共享预选管脚输入或输出。7.根据权利要求...

【专利技术属性】
技术研发人员：李明哲，李日农，吴祥煌，
申请(专利权)人：瑞昱半导体股份有限公司，
类型：发明
国别省市：71[中国|台湾]