一种引伸计校准装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种引伸计校准装置，包括底座、竖杆和竖直设置的保持杆；所述底座水平设置；所述竖杆竖直设于底座上；所述竖杆上固定有上测量臂和下测量臂；所述上测量臂上可锁紧地滑动连接有竖直设置的上测量柱；所述下测量臂上可锁紧地滑动连接有与上测量柱同轴的下测量柱；所述上测量柱的下端可锁紧地滑动连接有上保持臂；所述下测量柱的上端可锁紧地滑动连接有下保持臂；所述保持杆的两端分别连接上保持臂和下保持臂。本实用新型专利技术设置了保持杆、上保持臂和下保持臂，通过上保持臂和下保持臂以及保持杆以保证上测量柱和下测量柱之间的同轴度，从而避免上测量柱与下测量柱之间的同轴度误差而导致校准结果不准确，以提高校准的准确性。

【技术实现步骤摘要】
一种引伸计校准装置
本技术涉及计量领域，尤其是涉及一种引伸计校准装置。
技术介绍
在材料力学性能检测试验中，引伸计是很重要的一个测量仪器，电子引伸计具有精度高、灵敏度高、稳定性好、使用方便等特性，被广泛用于静、动变形测量中。电子引伸使用一段时间后需要对引伸计进行校准才能使用，以保证测试的准确性，然后现有的引伸计校准装置在测试时，往往会因上测量柱与下测量柱之间的同轴度不良而造成引伸计校准不精确，从而影响实验数据的准确性。因此，有必要设计一种引伸计校准装置来解决上述问题。
技术实现思路
本技术的目的是针对现有技术中由于上测量柱与下测量柱之间的同轴度不良而造成校准偏差的问题而提出一种引伸计校准装置。实现本技术目的的技术方案是：一种引伸计校准装置，包括底座、竖杆和竖直设置的保持杆；所述底座水平设置；所述竖杆竖直设于底座上；所述竖杆上固定有上测量臂和下测量臂；所述上测量臂上可锁紧地滑动连接有竖直设置的上测量柱；所述下测量臂上可锁紧地滑动连接有与上测量柱同轴的下测量柱；所述上测量柱的下端可锁紧地滑动连接有上保持臂；所述下测量柱的上端可锁紧地滑动连接有下保持臂；所述保持杆的两端分别连接上保持臂和下保持臂。所述上测量臂的一端设有与竖杆配合的通孔，并通过锁紧螺钉固定在竖杆上；所述上测量臂的另一端设有第一安装缺口；所述第一安装缺口的两内壁上对称设有与上测量柱配合的第一安装槽；所述上测量臂的第一安装缺口端设有用于调节第一缺口开口大小的锁紧螺钉。所述下测量臂的一端设有与竖杆配合的通孔，并通过锁紧螺钉固定在竖杆上；所述下测量臂的另一端设有第二安装缺口；所述第二安装缺口的两内壁上对称设有与下测量柱配合的第二安装槽；所述下测量臂的第二安装缺口端设有用于调节第二缺口开口大小的锁紧螺钉。所述上保持臂的一端设有与上测量柱配合的通孔，并可通过螺钉锁紧在上测量柱上；所述上保持臂的另一端设有第三安装缺口；所述第三安装缺口的两内壁上对称设有与保持杆配合的第三安装槽；所述上保持臂的第三安装缺口端设有用于调节第三安装缺口开口大小的锁紧螺钉。所述下保持臂的一端设有设有与下测量柱配合的通孔，并可通过螺钉锁紧在下测量柱上；所述下保持臂的另一端设有第四安装缺口；所述第四安装缺口的两内壁上对称设有与保持杆配合的第四安装槽；所述下保持臂的第四安装缺口端设有用于调节第四安装缺口开口大小的锁紧螺钉。采用了上述技术方案，本技术具有以下的有益效果：(1)本技术设置了保持杆、上保持臂和下保持臂，通过上保持臂和下保持臂以及保持杆以保证上测量柱和下测量柱之间的同轴度，从而避免上测量柱与下测量柱之间的同轴度误差而导致校准结果不准确，以提高校准的准确性。(2)本技术设置了第一安装缺口，能够调节上测量臂对上测量柱之间的夹紧力，便于上测量柱的运动。(3)本技术设置了第二安装缺口，能够调节下测量臂对下测量柱之间的夹紧力，便于下测量柱的拆卸。(4)本技术设置了第三缺口和第四缺口，以便于将保持柱与上保持臂与下保持臂连接，安装更加方便。附图说明为了使本技术的内容更容易被清楚地理解，下面根据具体实施例并结合附图，对本技术作进一步详细的说明，其中图1为本技术的结构示意图。图2为本技术实施例2的结构示意图。附图中的标号为：底座1、竖杆2、保持杆3、上测量臂4、下测量臂5、上测量柱6、下测量柱7、上保持臂8、下保持臂9、强磁块10、限位杆11。具体实施方式(实施例1)见图1，本实施例的引伸计校准装置，包括底座1、竖杆2和竖直设置的保持杆3。底座1水平设置，竖杆2竖直设于底座1上。竖杆2上固定有上测量臂4和下测量臂5。上测量臂4上可锁紧地滑动连接有竖直设置的上测量柱6。下测量臂5上可锁紧地滑动连接有与上测量柱6同轴的下测量柱7。上测量柱6的下端可锁紧地滑动连接有上保持臂8。下测量柱7的上端可锁紧地滑动连接有下保持臂9。保持杆3的两端分别连接上保持臂8和下保持臂9。进一步的，上测量臂4的一端设有与竖杆2配合的通孔，并通过锁紧螺钉固定在竖杆2上。上测量臂4的另一端设有第一安装缺口。第一安装缺口的两内壁上对称设有与上测量柱6配合的第一安装槽。上测量臂4的第一安装缺口端设有用于调节第一缺口开口大小的锁紧螺钉，以便于上测量柱6的安装和运动。进一步的，下测量臂5的一端设有与竖杆2配合的通孔，并通过锁紧螺钉固定在竖杆2上。下测量臂5的另一端设有第二安装缺口。第二安装缺口的两内壁上对称设有与下测量柱7配合的第二安装槽。下测量臂5的第二安装缺口端设有用于调节第二缺口开口大小的锁紧螺钉，以便于下测量柱7的固定和安装。进一步的，上保持臂8的一端设有与上测量柱6配合的通孔，并可通过螺钉锁紧在上测量柱6上。上保持臂8的另一端设有第三安装缺口。第三安装缺口的两内壁上对称设有与保持杆3配合的第三安装槽。上保持臂8的第三安装缺口端设有用于调节第三安装缺口开口大小的锁紧螺钉，以便于上保持臂8与保持柱3的连接。进一步的，下保持臂9的一端设有与下测量柱7配合的通孔，并可通过螺钉锁紧在下测量柱7上。下保持臂9的另一端设有第四安装缺口。第四安装缺口的两内壁上对称设有与保持杆3配合的第四安装槽。下保持臂9的第四安装缺口端设有用于调节第四安装缺口开口大小的锁紧螺钉，以便于下保持臂9与保持柱3的连接。本实施例的测试方法：1、将下测量柱7固定在下测量臂5上，然后将下保持臂9的一端固定在下测量柱7上，另一端与保持柱3的下端固定；2、然后将上测量柱6插设在上测量臂4上，将上保持臂8的一端套设在上测量柱6上，另一端与保持柱3的上端固定；3、将引伸计的两个测头分别用皮筋绑在上测量柱6和下测量柱7上；4、向上拉动上测量柱6，放入标准量块在上测量柱6与下测量柱7之间，压下上测量柱6使得上测量柱6将量块夹紧在上测量柱6与下测量柱7之间；5、读取引伸计的数值与标准量块的数值进行比较，判定引伸计校准是否合格。(实施例2)见图2，本实施例与实施例1基本相同，不同之处在于：本实施例的下测量柱7为千分头，同样能够实现对引伸计的校准。将千分头固定在下测量臂5的第二缺口的第二安装槽中，保持千分头的测量柱可以运动，并且千分头的测量柱上设置强磁块10，强磁块10与上测量柱6之间无吸引力。强磁块10通过限位杆11与保持柱3固定连接，防止强磁块10跟转。具体校准方法：1、首先将千分头固定在下测量臂5的第二缺口的第二安装槽中，保持千分头的测量柱可以运动，然后将下保持臂9的一端套设在千分头的测量柱上，另一端与保持柱3的下端固定；2、装入上测量柱6至上测量臂4中，使得上测量柱6的底端与千分头的测量柱上的强磁块10接触，将上测量柱6固定在上测量臂4上，然后将上保持臂8的一端固定在上测量柱6上，另一端与保持柱3的上端固定；3、将引伸计的两个测头分别用皮筋绑在上测量柱6和千本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种引伸计校准装置，其特征在于：包括底座(1)、竖杆(2)和竖直设置的保持杆(3)；所述底座(1)水平设置；所述竖杆(2)竖直设于底座(1)上；所述竖杆(2)上固定有上测量臂(4)和下测量臂(5)；所述上测量臂(4)上可锁紧地滑动连接有竖直设置的上测量柱(6)；所述下测量臂(5)上可锁紧地滑动连接有与上测量柱(6)同轴的下测量柱(7)；所述上测量柱(6)的下端可锁紧地滑动连接有上保持臂(8)；所述下测量柱(7)的上端可锁紧地滑动连接有下保持臂(9)；所述保持杆(3)的两端分别连接上保持臂(8)和下保持臂(9)。/n

【技术特征摘要】
1.一种引伸计校准装置，其特征在于：包括底座(1)、竖杆(2)和竖直设置的保持杆(3)；所述底座(1)水平设置；所述竖杆(2)竖直设于底座(1)上；所述竖杆(2)上固定有上测量臂(4)和下测量臂(5)；所述上测量臂(4)上可锁紧地滑动连接有竖直设置的上测量柱(6)；所述下测量臂(5)上可锁紧地滑动连接有与上测量柱(6)同轴的下测量柱(7)；所述上测量柱(6)的下端可锁紧地滑动连接有上保持臂(8)；所述下测量柱(7)的上端可锁紧地滑动连接有下保持臂(9)；所述保持杆(3)的两端分别连接上保持臂(8)和下保持臂(9)。


2.根据权利要求1所述的一种引伸计校准装置，其特征在于：所述上测量臂(4)的一端设有与竖杆(2)配合的通孔，并通过锁紧螺钉固定在竖杆(2)上；所述上测量臂(4)的另一端设有第一安装缺口；所述第一安装缺口的两内壁上对称设有与上测量柱(6)配合的第一安装槽；所述上测量臂(4)的第一安装缺口端设有用于调节第一缺口开口大小的锁紧螺钉。


3.根据权利要求1所述的一种引伸计校准装置，其特征在于：所述下测量臂(5)的一...

【专利技术属性】
技术研发人员：成奏雨，谢浩俊，张佳瑜，许经纬，
申请(专利权)人：常州达姆斯检测技术有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏;32