【技术实现步骤摘要】
本技术为一种印刷电路板的元件测试装置,特别是有关于一种能测试在印刷电路板(Printed Circuit Boards)上的集成电路(Integrated Circuit,以下简称IC)、连接器及插槽等电子元件,其接脚是否开路或损坏的测试装置。
技术介绍
一般印刷电路板上连接有许多的电子元件,其包括电阻、电容等被动元件,或者晶体管、IC等主动元件,若欲测试该印刷电路板上的电子元件是否有损坏或者线路是否开路或接脚空焊等,就需要使用相关的测试仪器来测量,而其中IC元件的测试是最困难的,传统印刷电路板的测试方式包括有功能测试(functional testing)、线上电路测试(in-circuit testing)及制造缺陷分析仪(manufacturing defectanalyzers)等测试方式。其中,功能测试是指在一印刷电路板上连接完成所有的电子元件,然后提供一预设的输入信号给该印刷电路板,并监控其输出信号,最后判断输出信号或其功能是否正确。然而,这种功能测试的方法在只有少数或单独电子元件连接于印刷电路板上而言,就无法测试出输出信号或测出的功能并不正确。通常 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员:周德昌,
申请(专利权)人:系新科技股份有限公司,
类型:实用新型
国别省市:
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