测量超导材料微波表面电阻的复合谐振腔制造技术

本实用新型专利技术涉及一种测量超导材料微波表面电阻的复合谐振腔。本实用新型专利技术采用在原有开式腔的介质谐振腔结构外加背景腔，形成复合谐振腔结构，并发明专利技术了同心定位机构，背景腔上设置微波吸收材料，吸收和衰减耦合装置沿径向辐射的所有寄生膜，一举解决了这个难题，同时又杜绝了其他的向内辐射，给内部的开式腔提供了一个微波全黑的背景，形成了一个虚拟的、无限大的空间，对中心定位的要求降低了，扩大了中心定位的裕度；背景腔的设置给定位机构提供了参照坐标，即在背景腔的腔壁上设置定位螺孔，采用定位螺杆分别对两块导电平板、中间介质进行精确的同心放置定位，大幅度提高了定位精度。本发明专利技术结构简单，操作方便。（*该技术在2015年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种测量装置，特别涉及一种测量超导材料表面电阻的复合谐振腔。
技术介绍
微波表面电阻Rs在电子学的各种领域，尤其是电信领域、微波无源器件技术等领域都是一个极其重要的材料参数，它表征了材料的微波表面损耗的性能和材料表面的加工水平。对于常规材料，可以利用比较精确测量的直流电阻率，通过公式换算得到理想情况下的微波表面电阻，但只能作为参考，因为它还和机械加工水平有关。对于超导材料的微波表面电阻，就不可能通过直流电阻率和公式换算得到理想情况下的微波表面电阻，它只能是一个测量的参量。因此，准确、精密地测量这一参数，对于了解材料的物理和其他特性，发展新材料提供方和超导微波元件的设计需求方都有重要意义。在本技术专利技术之前，根据被测样品的制备特征和几何形状，微波表面电阻的测量的方法可有多种，最常用的方法是谐振腔法。根据目前国际标准草案(TC-90INTERNATIONAL STANDARDSuperconductivity-Part 7)中关于微波表面电阻标准测量中规定的方法是一种被称为开式腔的介质谐振腔，此腔是由两片表面平整的导体平板和一块介质圆柱杆(如Al2O3，蓝宝石)组成，如图1本文档来自技高网...

【技术保护点】
测量超导材料微波表面电阻的复合谐振腔，上、下两个导电平板，中间是介质杆，与导电平板同心放置，两侧是耦合装置，由耦合电缆、电缆连接器组成，形成介质谐振腔，其特征在于在介质谐振腔外设置一个背景腔，形成复合谐振腔。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：吉争鸣，吴培亨，许伟伟，
申请(专利权)人：南京大学，
类型：实用新型
国别省市：84[中国|南京]