可实现激光芯片老化过程光功率实时监控的装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及测试和老化设备技术领域，特别涉及可实现激光芯片老化过程光功率实时监控的装置，光功率监控机构连接于上位机电脑，用于采集激光芯片在老化过程中产生的激光数据，光功率监控机构的监控基座一侧固定有光功率探测PCB组件，另一侧固定有清洁吹气条，芯片夹具紧靠清洁吹气条，光功率探测PCB组件连接于上位机电脑，清洁吹气条内部固定有多个多孔陶瓷衰减片。与现有技术相比，本实用新型专利技术的可实现激光芯片老化过程光功率实时监控的装置无需搭载积分球运动扫描机构，结构设计更简单且设备体积大幅减小，可实现大功率激光芯片老化过程中光功率单通道独立实时采集，使各通道之间关联性降低且设备通道密度更高。

【技术实现步骤摘要】
可实现激光芯片老化过程光功率实时监控的装置
本技术涉及测试和老化设备
，特别涉及可实现激光芯片老化过程光功率实时监控的装置。
技术介绍
由于光功率探测器和光学衰减片均无法承受大功率芯片的激光能量，因此老化设备中实现光功率监控是通过直线运动装置驱动积分球收光的方式，激光在球表面均匀反射后衰减输入探测器来读取光功率值，老化过程中的激光芯片需要逐一循环扫描。积分球运动扫描的方式导致设备机构复杂且体积变大，积分球无法实时监控每个通道的光功率变化，仅能实现周期性的循环扫描，监控效果欠佳。
技术实现思路
为了克服上述问题，本技术提出一种可有效解决上述问题的可实现激光芯片老化过程光功率实时监控的装置。本技术解决上述技术问题提供的一种技术方案是：提供一种可实现激光芯片老化过程光功率实时监控的装置，包括光功率监控机构，所述光功率监控机构一侧设置有老化恒温平台，所述老化恒温平台上固定有多个芯片夹具，每一芯片夹具上固定有激光芯片；所述光功率监控机构、老化恒温平台、芯片夹具均设置于测试老化设备内，所述光功率监控机构连接于上位机本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.可实现激光芯片老化过程光功率实时监控的装置，其特征在于，包括光功率监控机构，所述光功率监控机构一侧设置有老化恒温平台，所述老化恒温平台上固定有多个芯片夹具，每一芯片夹具上固定有激光芯片；/n所述光功率监控机构、老化恒温平台、芯片夹具均设置于测试老化设备内，所述光功率监控机构连接于上位机电脑，用于采集激光芯片在老化过程中产生的激光数据；/n所述光功率监控机构包括监控基座，所述监控基座的一侧固定有光功率探测PCB组件，另一侧固定有清洁吹气条，所述芯片夹具紧靠清洁吹气条，所述光功率探测PCB组件连接于上位机电脑；/n所述清洁吹气条内部固定有多个多孔陶瓷衰减片。/n

【技术特征摘要】
1.可实现激光芯片老化过程光功率实时监控的装置，其特征在于，包括光功率监控机构，所述光功率监控机构一侧设置有老化恒温平台，所述老化恒温平台上固定有多个芯片夹具，每一芯片夹具上固定有激光芯片；
所述光功率监控机构、老化恒温平台、芯片夹具均设置于测试老化设备内，所述光功率监控机构连接于上位机电脑，用于采集激光芯片在老化过程中产生的激光数据；
所述光功率监控机构包括监控基座，所述监控基座的一侧固定有光功率探测PCB组件，另一侧固定有清洁吹气条，所述芯片夹具紧靠清洁吹气条，所述光功率探测PCB组件连接于上位机电脑；
所述清洁吹气条内部固定有多个多孔陶瓷衰减片。


2.如权利要求1所述的可实现激光芯片老化过程光功率实时监控的装置，其特征在于，所述监控基座包括固定底座和支承台座，所述支承台座固定于固定底座上方，固定底座固定于测试老化设备内。


3.如权利要求2所述的可实现激光芯片老化过程光功率实时监控的装置，其特征在于，所述支承台座呈长条状，开设有一排容置槽，所述光功率探测PCB组件上设置有一排PD探测器，PD探测器设置于容置槽内。


4.如权利要求1所述的可实现激光芯片老化过程光功率实时监控的装置，其特征在于，所述清洁吹气条内设置有多个衰减槽，多孔...

【专利技术属性】
技术研发人员：罗骏，李伟，
申请(专利权)人：镭神技术深圳有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44