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本实用新型涉及测试和老化设备技术领域，特别涉及可实现激光芯片老化过程光功率实时监控的装置，光功率监控机构连接于上位机电脑，用于采集激光芯片在老化过程中产生的激光数据，光功率监控机构的监控基座一侧固定有光功率探测PCB组件，另一侧固定有清洁吹...
该专利属于镭神技术(深圳)有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过镭神技术(深圳)有限公司授权不得商用。

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