多功能电子设备检测笔制造技术

一种多功能电子设备检测笔，它主要由二片ＬＭ３３９（ＣＯＭＰ－［１］～ＣＯＭＰ－［电压比较器，三极管Ｏ－［１］～Ｏ－［６］、发光二极管ＬＥＯ－［１］～ＬＥＯ－［４］，电阻Ｒ－，电位器ＨＷ、ＬＷ电容Ｃ－［１］～Ｃ－［６］双联开关Ｋ－［１］、Ｋ－［２］构成参考电平电路，正负极性包络检波电路，半延时电路，窗口检测电路和信号注入电路，静态偏置电路；该测试笔即可检测单电源电压或双电源电压的任何类型的数字电路和非数字电路等，使用方便。（*该技术在2000年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术适用于测试电子设备的一种多功能电子设备检测笔。目前，电子设备测度笔有逻辑式的，只能对某种特点类型的数字电路的逻辑进行测试，如TTL逻辑测试笔，CMOS逻辑测试笔，只对一种数字电路的测试，使用单一，更不能测试非数字电路。本技术的目的在于避免以上所述的不足之处，而提供一种多功能电子设备检测笔。本技术主要由二片LM339(COMP2～COMP7)电压比较器，六个二极管(D1～D6)，四个发光二极管(LED1～LED4)，30个电阻(R1～R30)，二个电位器(HW、LW)，6个电容(C1～C6)、二个双联开关(K1、K2)构成参考电平电路，正负极性包络检波电路，半延时电路，窗口检测电路和信号注入电路、静态偏置电路，该电路通过印刷板安装在外壳(1)内，在外壳的前端装有探头(2)，后端引出一根导电线(3)，外壳的表面加工有四个发光二级管孔和TTL、CMOS、OTHER、注入、检测选择开关槽，并装有HW、LW高低电位器。本技术将结合电原理图作进一步描述1、参考电平电路由R1～R6、HW LW和K1组成。R1～R5串接组成TTL规范的高低阀值电平设置支路，R4－R6串接组成CMOS规范本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种多功能电子设备检测笔，它包括二极管Ｏ↓［１］～Ｏ↓［６］，电阻Ｒ↓［１］～Ｒ↓［３０］，电容Ｃ↓［１］～Ｃ↓［６］，电位器ＨＷ、ＬＷ，其特征在于参考电平电路由Ｒ↓［１］～Ｒ↓［６］、ＨＷ、ＬＷ和开关Ｋ１组成；正负极性包络检波回路由Ｏ↓［１］、Ｏ↓［２］、Ｃ↓［１］、Ｃ↓［２］组成，Ｏ↓［１］、Ｃ↓［１］和Ｏ↓［２］、Ｃ↓［２］分别构成对检测信号正极性和负极性的包络检波回路，并和与检测窗口电路相连，半延时电路由Ｒ↓［１８］～Ｒ↓［２５］、Ｃ↓［３］、Ｃ↓［４］、ＬＥＤ↓［３］、ＬＥＤ↓［４］电压比较器ＣＯＭＰ↓［５］、ＣＯＭＰ↓［６］组成两个对称的半延时电路；窗口检测电路由Ｒ↓［９］－Ｒ↓［...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：辛湘越，
申请(专利权)人：辛湘越，
类型：实用新型
国别省市：43[中国|湖南]