测量治具制造技术

本实用新型专利技术公开一种测量治具，包括底座、活动块及枢设于底座的盖子，其中，底座上设有轨道，在该轨道所处面的一端处设有凸台，其包括第一阶和第二阶，在第二阶的面上设有第一弹性组件；活动块为装设于底座并滑动于轨道，其上凹设一与第二阶配合形成容纳元器件的容纳空间的槽，且槽中设有第二弹性组件，元器件的引脚分别与第一、第二弹性组件接触；盖子以测量时盖压待测物避免了“飞件”现象的发生；底座及活动块上分别开设有贯穿孔，测量时与第一弹性组件和第二弹性组件相连的引线可自该贯穿孔引出，测量仪器的探针或尖嘴夹借助该引线从而量测出元器件的电性参数。通过上述结构，元器件的引脚可稳定的与测量仪器相连接，提高了测量结果的准确性。（*该技术在2017年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

测量治具
、"i本技术涉及一种电子元器件的测量治具，特别是涉及表面贴装元器件
技术介绍
对于表面贴装型的电子元器件，诸如电解电容、陶瓷电容等等，由于该 类电子元器件本身较小，在对其进行一些电性参数测量时，利用时下现有的测 量仪器测量，与其相连的鳄鱼夹、探针或者尖嘴夹往往会与该类元器件的引脚 发生接触不稳的情况，测量仪器输出的数据准确度不高，并且由于是人为掌控 该类治具去夹持元器件， 一来操作不方便，二来有时亦会出现飞件的现象。
技术实现思路
鉴于上述问题，本技术的主要目的在于提供了一种可对不同长度及类 型的表面贴装型电子元器件进行夹持，其操作方便，保证了元器件测量时的稳 固性，并且保护了测量人员的安全。为了实现上述目的，本技术采用了下述技术方案所述测量治具包括一底座、 一活动块以及一盖子，其中，所述底座为具有 一本体，且于该本体上开设有一轨道，并且于该轨道所处面的一端处设有一凸 台，该凸台为呈阶梯状，且分别包括第一阶和第二阶，在第二阶的面上设有第 一弹性组件；所述活动块为装设于底座上并且滑动于轨道，在该活动块的一面 上凹设一槽，该槽与所述凸台的第二阶配合形成一容纳待测元器件的容纳空间， 又，对应于所述第一弹性组件且在该槽中设置有第二弹性组件，并且在该活动 块上且相对应于底座轨道的位置处开设一螺丝孔，以借助螺丝来将活动块固定 于底座上；在所述活动块的另一面上且相对于所述底座上的轨道开设一滑动槽； 所述盖子为枢设于所述第一阶，以在测试时盖压住待测物并保证待测物与第一、 第二弹性组件接触完好。另外，在所述底座及活动块上分别开设有一贯穿孔，且该所述贯穿孔为分 别于与第一弹性组件和第二弹性组件所处的位置连通，得以实际测试时可将与 第一弹性组件和第二弹性组件相连接的引线从该贯穿孔引出，进而使得在测量 时，测量仪^力勺探针或者尖嘴夹得以借助该引线而量测出待测元器件的一些电 性参数。通过上述结构，表面贴装型电子元器件的引脚可以很稳的与测量仪器相互连接，进而得到稳定的测量数据，且该类表面贴装型电子元器件为配合盖子而 "藏"起，从而避免了量测时"飞件"现象的发生。附图说明图l为所逸测量治具的整体结构示意图； 图2为所逸底座的结构示意图； 图3为所逑活动块的正面结构示意图； 图4为所述活动块的背面结构示意图。具体实施方式卜面结合附图以及具体实施例来对本技术进行详细说明。 参照图l中所示，所述测量治具为配合表面贴装型电子元器件，诸如电解电容、陶瓷电容等等于测量时所用的固定夹持的测量治具，其包括一底座IO、 一 活动块20以及一盖子30。其中，结合图2中所示，所述底座10为包括一本体(图 中未示)，且于该本体的部分处上设有一轨道IOI，在该本体上且设置有该轨道 101的剩余部分的面上设有一凸台102，该所述凸台102呈阶梯状，且分别包括第 一阶1021和第二阶1022，在该所述第二阶1022的面上设有第一弹性组件10221， 该第一弹性组件10221可为一金属弹簧片。结合图3中所示，所述活动块20为装设于上述底座10上并且滑动于所述轨道 101,在该活动块20的一面上凹设一槽201，且该槽201与所述凸台102的第—阶 1022配合形成一容纳待测元器件的容纳空间，又，对应于所述第一弹性组件 10221且在该槽201中置设有第二弹性组件2011，该第二弹性组件2011可为一金 属弹簧片，量测时，所述待测元器件的引脚(图中未示)为分别与第一弹性组件 10221和第二弹性组件2011相触，通过该上述结构，进而得到稳定的测量数据； 所述盖子30为枢设于所述第一阶1021，其在量测前为处于打开状，且开始量测 时，则盖压住待测元器件(图中未示)，从而使得该待测元器件的引脚得以与第 一、第二弹性组件(10221、 2011)紧密接触，另，该结构亦避免了量测时出现"飞 件"的情况。此外，在该所述活动块20上且相对应于底座10轨道101的位置处开设一螺丝 孔202，以借助螺丝50来将活动块20固定于底座10上，又，参照图4中所示，在 所述活动块20的另一面上且相对于所述底座10上的轨道101开设一滑动槽208， 且该滑动槽208为套于所述轨道101上使得所述活动块20得以滑动于底座10上； 以及在所述底座10及活动块20的-'侧面上分别开设有一贯穿孔(103或203)，该 所述贯穿孔(f03或203)为分别于与第一弹性组件10221和第二弹性组件2011所 处的位置连通，得以在实际测试时可将与第一弹性组件10221和第二弹性组件 2011相连接的引线(图中未示)从该贯穿孔(103或203)引出，进而使得在测量时， 测量仪器的探针或者尖嘴夹(图中未示)得以借助该引线而量测出待测元器件的 一些电性参数。又，在所述活动块20凹设有槽201的面上且相对于该槽201槽缘的位置处到 末端处刻有刻度，且配合第一弹性组件10221和第二弹性组件2011之间的固定距 离，以及在量测不同长度待测元器件时通过该刻度的读取得以知道调整活动块 20及底座10之间的滑动距离，从而得知待测元器件的长度。请再参照图l中所示，实际测量时，且从第一弹性组件10221和第二弹性组 件2011引线出来并且自所述贯穿孔(103或203)引出，测量仪器之探针或者尖嘴 夹固定或者夹紧于该所述引线。所述待测元器件，譬如电解电容或者陶瓷电容等元器件则放置于由所述底 座10上之第二阶1022与活动座20上的槽201形成的容纳空间，并且该所述元器件 的两端引脚为与第一弹性组件10221和第二弹性组件2011接触，其中，如果待测 元器件的长度比较长的话，则测量人员可以适当的调整好活动块20及底座10之 间的位置，即滑动活动块20拉大第一弹性组件10221和第二弹性组件2011之间的 距离并使得待测元器件的引脚与该所述第一弹性组件10221和第二弹性组件 2011接触便可，然后旋紧活动块20上的螺丝50将活动块20固定于底座10上，最 后将所述盖子30盖下，其压覆于元器件使得元器件的引脚与第一弹性组件10221 及第二弹性组件2011之间紧密接触。通过上述，由于本技术所述的测量治具为通过与元器件相接触的第--弹性组件10221和第二弹性组件2011上引出的引线与测量仪器上之连接的探针或者尖嘴夹相互固定或夹紧的，其过程中避免了人为的去把持，并且待测元器 件为放置于一容纳空间，即而避免了先前测量方式中夹具与元器件之间的接触 不稳定，测量结果不准确的情况。权利要求1.一种测量治具，其特征在于，包括一底座，其包括一本体，且于本体上设有一轨道，并且于该轨道所处面的 一端处设有-一凸台，该凸台为阶梯状且分别包括第一阶和第二阶，在第二阶的 面上设有第一弹性组件；以及一活动块，其为装设于底座并且滑动于轨道上，在该活动块的一面上凹设 一槽，且其与凸台的第二阶形成一容纳空间，并且对应于第一弹性组件且在该 容纳槽中设置有第二弹性组件；又，在所述活动块的另一面上且相对于所述底 座上的轨道开设一滑动槽。2. 如权利要求1所述的测量治具，其特征在于，还包括一盖子，其为枢设于 所述第一阶。3. 如权利要求1所述的测量治具，其特征在于，在底座及活动块上分别开设 有一贯穿孔，且该所述贯穿孔为分本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测量治具，其特征在于，包括　　　　一底座，其包括一本体，且于本体上设有一轨道，并且于该轨道所处面的一端处设有一凸台，该凸台为阶梯状且分别包括第一阶和第二阶，在第二阶的面上设有第一弹性组件；以及　　　　一活动块，其为装设于底座并且滑动于轨道上，在该活动块的一面上凹设一槽，且其与凸台的第二阶形成一容纳空间，并且对应于第一弹性组件且在该容纳槽中设置有第二弹性组件；又，在所述活动块的另一面上且相对于所述底座上的轨道开设一滑动槽。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：曾钦珂，
申请(专利权)人：佛山市顺德区顺达电脑厂有限公司，
类型：实用新型
国别省市：44[中国|广东]