一种芯片测试量产前自动补偿的实现方法技术

本发明专利技术公开了一种芯片测试量产前自动补偿的实现方法，属于集成电路半导体测试领域，通过设置三个数据文件，利用软件函数对测试数据自动进行比较，判断，处理，自动生成补偿值，从而达到自动补偿的效果，其去除了原来繁琐的数据采集分析计算处理的流程，使得原来需要工程师去做的繁琐工作由产线操作工就能简单快速完成，节省了很多时间，提高了产线的产能，并且避免了手动去修改固定补偿值导致量产误测的风险。

【技术实现步骤摘要】
一种芯片测试量产前自动补偿的实现方法
本专利技术属于集成电路半导体测试领域，尤其涉及一种芯片测试量产前自动补偿的实现方法。
技术介绍
传统的芯片测试量产没有自动补偿，如果测试数据出现偏差则是通过固定补偿的方式对测试数据进行补偿。然而固定补偿的方式需要手动去采集数据并对数据进行分析计算等处理，并需要手动去修改固定补偿值。这种方式流程繁琐且非常耽误产线的时间，不利于提高产能，而且手动修改容易出错，导致量产误测。原来固定补偿方法需要每次工程师手动测试一定数量的芯片，并且测试过程中得观察是否因接触等问题出现不符合要求的数据，测试完成对数据进行采集计算等处理，然后把得到的固定补偿手动填写进程序里，然后进行测试量产。这样往往耽误了产线的正常量产的时间，影响了产能，甚至有误填的风险，导致芯片误测。所以减少繁琐流程，节约流程时间，提高产能和减少失误的一种自动补偿方法就显得非常重要了。自动补偿方法不需要手动的计算，不需要操作的时候观察数据，也不需要手动填入固定补偿值，更不需要担心填错，进行芯片测试软件自动处理数据，自动进行补偿。专本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种芯片测试量产前自动补偿的实现方法，其特征在于：通过设置三个/n数据文件，利用软件函数对测试数据自动进行比较，判断，处理，自动生成补偿值，从而达到自动补偿的效果，具体包含如下步骤：/n步骤1，把标准样品的需要做自动补偿项目的标准数据输入/nGoldensample.ini文件中，同时把卡控自动补偿值的范围输入到Limit.ini文件中，并把这两个文件放置于指定的路劲下；/n步骤2，在测试程序中设置相应的函数和指令，可以对相对应测试数据和/nGoldensample数据进行自动相减处理并判断是否在设置的Limit范围内，能够把得到的有效数据自动做平均值生成Offset.ini文件，则自动补...

【技术特征摘要】
1.一种芯片测试量产前自动补偿的实现方法，其特征在于：通过设置三个
数据文件，利用软件函数对测试数据自动进行比较，判断，处理，自动生成补偿值，从而达到自动补偿的效果，具体包含如下步骤：
步骤1，把标准样品的需要做自动补偿项目的标准数据输入
Goldensample.ini文件中，同时把卡控自动补偿值的范围输入到Limit.ini文件中，并把这两个文件放置于指定的路劲下；
步骤2，在测试程序中设置相应的函数和指令，可以对相对应测试数据和
Goldensample数据进行自动相减处理并判断是否在设置的Limit范围内，能够把得到的有效数据自动做平均值生成Offset.ini文件，则自动补偿成功，量产时程序能自动调取Offset.ini文件里的补偿值；
步骤3，测试程序中设置一个校准的总数，根据提示选择是否进行自动补偿
校准,且此数量需要小于Goldensample中样品的数量；
步骤4，调取测试程序，运行测试程序，若测试程序有弹框提示，则进行自
动补偿校准。


2.根据权利要求1所述的一种芯片测试量产前自动补偿的实现方法，其特征
在于：所述三个...

【专利技术属性】
技术研发人员：张秀晨，包智杰，
申请(专利权)人：南京宏泰半导体科技有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32