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本发明公开了一种芯片测试量产前自动补偿的实现方法，属于集成电路半导体测试领域，通过设置三个数据文件，利用软件函数对测试数据自动进行比较，判断，处理，自动生成补偿值，从而达到自动补偿的效果，其去除了原来繁琐的数据采集分析计算处理的流程，使得原...
该专利属于南京宏泰半导体科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过南京宏泰半导体科技有限公司授权不得商用。

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