用于电流强度测量的光纤装置制造方法及图纸

利用法拉第效应测量电流强度的光纤配置，环绕着电流流经的导体１的磁场影响光偏振状态，光通路经过以线圈形式环绕着导体１的光纤２的芯部，从光纤２引出的光用分束器９分成两部分光束，分别通过起偏器１２和１１之后其强度（Ⅰ－［１］和Ⅰ－［２］）分别用光探测器１４和１３测出，达到扩大该配置测量范围的目的是让起偏器１２和１１相互对应作对称旋转实现的，而不是常规的４５度角，起偏器１２，１１与引入光纤２中的光的偏振平面之间的角（α）在＋２０度和＋４０度间或在－２０度和－４０度间。（*该技术在2010年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种光纤配置，通过它可利用法拉第效应来测量电流强度，环绕着电流所流经的导体的磁场可影响光的偏振状态，而光通路经过以线圈形式环绕着该导体的光纤芯部，由光纤引出的光用一分束器分成两部分光束，在分别通过一起偏器之后它们的强度分别用一光探测器测出。这种装置特别适用于高压系统中，用来测量处于高电位的线路中的电流。由于光束波导(beam waveguide)是用已知为良好电绝缘体的玻璃制成的，连接到地电位的显示装置相对于所测量和显示的电流流经的处于高电位的导体的绝缘是不成问题的。这种装置见于DE-AS2261151，其中由一光源发出的光经一起偏器被引向一个半透明片。由此处，偏振光进入一根其一部分绕成线圈的光纤(此处称为光束波导)，一高压导体沿其轴向延伸，且被测电流流经该导体。在其端头，该光纤线圈有一金属化表面，并在那里设有一反光镜。偏振光通过整个光纤，由于法拉第效应的结果在光纤呈线圈形部分出现作为流经导体的电流所产生的磁场的函数的偏振面的旋转，在线圈的端头，光束被反射回去，并再次通过该线圈，在这种情况下又会出现偏振平面的旋转。其偏振平面旋转的光从光纤中射出，穿过半透明片，进本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种利用法拉第效应来测量电流强度的光纤配置，环绕着电流所流经的导体１的磁场可影响光的偏振状态，而光通路经过以线圈３的形式环绕着导体１的光纤２的芯部，由光纤２引出的光用分束器９分成两部分光束，强度（Ｉ↓［１］、Ｉ↓［２］）在光束分别通过起偏器１２和１１之后分别用光探测器１４和１３测出，其特征在于起偏器１２和１１是相互对应作对称旋转的，而不同于常规的４５度夹角。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：迪尔克佩尔，霍尔格海尔希，
申请(专利权)人：MWB变压器股份公司，
类型：发明
国别省市：DE[德国]