用于电流强度测量的光纤配置制造技术

技术编号:2638573 阅读:194 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
在利用法拉第效应测量电流强度的光纤配置情况中,环绕着电流流经的导体1的磁场影响光偏振状态,光通路通过以线圈形式环绕导体1的光纤2的芯部,光纤2的端头4有一反射表面5,而其另一端进行光的引入和引出,实现利用光纤扭转的优点并降低所有额外测量误差的目的是靠以已知方式将光纤绕其纵轴扭转而将圆偏振双折射加在光纤上并使光纤2带有反射表面5的端头4设置得直接靠近另一端头6以致整个光纤2构成一本身近乎闭合的通路。(*该技术在2010年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】
此专利技术涉及一种利用法拉第效应来测量电流强度的光纤配置,环绕着电流流经的导体的磁场影响着光的偏振状态,光通路经过以线圈形式环绕着该导体的光纤的芯部,在光纤的一个端头有一反射表面,而在其另一端头进行光的引入和引出。这种配置特别适用于在高压系统中测量处于高电位的线路中的电流。由于光束,波导是用已知为良好的电绝缘体的玻璃制成的,连接到地电位的显示装置相对于所测量和显示的电流流经的处于高电位的导体的绝缘是不成问题的。这种配置见于DE-AS2261151,其中由一光源发出的光用一起偏器引向一半透射片。由此处,偏振光进入一根有一部分绕成线圈的光纤(此处称为光束波导“beam waveguide”),一高压导体沿其轴向延伸,被测电流流经该导体。在其端头,该光纤线圈有一金属化表面,并在那里设有一反光镜。偏振光通过整个光纤,由于法拉第效应的结果在光纤呈线圈形部分出现偏振平面的旋转,它是流经导体的电流所产生的磁场的函数。在线圈的端头,光束被反射回去,并再次通过该线圈,在这种情况下又会出现偏振平面的旋转。在其偏振平面旋转的光从光纤中射出,穿过半透射片,并到达一分析装置,它确定和显示进入光纤的光的偏振平面本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用法拉第效应来测量电流强度的光纤配置,环绕着电流流经的导体1的磁场影响着光的偏振状态,光通路通过以线圈3的形式环绕着导体1的光纤2的芯部,在光纤2的端头4有一反射表面5,而在其另一端头6进行光的引入和引出,其特征在于:以一种已知的方式通过光纤绕其纵轴扭转而将圆偏振双折射加在光纤上,并且光纤2带有反射表面5的端头4设置得直接靠近其另一端头6以致于整个光纤2构成一本身近乎完全闭合的通路。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员:迪尔克佩尔霍尔格海尔希
申请(专利权)人:MWB变压器股份公司
类型:发明
国别省市:DE[德国]

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