【技术实现步骤摘要】
本专利技术旨在提供一种物理量的光学测定方法，当光束通过光学介质时，该物理量可产生光的相位差，其中与有3次轴的电光晶体的第1电光轴有关的具有可预先规定的第1偏振角的线性偏振输入光束可通过这种电光晶体来进行转向，同时可检测2个由电光晶体构成的第1和第2部分光束，第1电光轴和一个与其正交的第2电光轴均在一个平面上，该平面又定向垂直于一个第3轴，在这种情况下，没有电场或力场，光的传播与极化无关，并且在电场或力场对电光晶体产生作用时，该光向第1电光轴方向传播的束度要快于第2电光轴方向传播的速度。一种用以实现上述方法的在电光传感器上产生相移信号的装置，它包括有一光源，该光源通过第1偏振器，用电光晶体的第1光入射面与光学系统相连接，至少有一相位延迟片和至少在电光晶体的第1光入射面之间有一第2偏振器，且至少有一测光器用于转换成电光信号。上述方法和装置已在美国专利US.4,904,931中公开过，它涉及本专利技术的现有技术状况。文中提到通过一个第一偏振器，接着通过一个电光晶体，一个λ/8波片+45°或-45°相移的45°延迟片传输二束相互平行的光束。之后通过一个由两束光束共用...
【技术保护点】
一种物理量的光学测定方法，当光束通过光学介质（４，１６）时，该物理量可产生光的相位差，ａ）其中与有３次轴（Ｈ１，Ｈ２，Ｈ３）的电光晶体（４）的第１电光轴（Ｈ１）有关的具有可预先规定的第１偏振角的线性偏振输入光束可通过这种电光晶体（４）来 进行转向，ｂ）同时可检测２个由电光晶体（４）构成的第１和第２部分光束（Ｔ↓［１］，Ｔ↓［２］）。ｃ）第１电光轴（Ｈ１）和一个与其正交的第２电光轴（Ｈ２）均在一个平面上，该平面又定向垂直于一个第３轴（Ｈ３），在这种情况下，没有电场或力 场，光的传播与极化无关，并且在电场或力场对电光晶体（＊）产生作用时，该光向第１电光轴（Ｈ...
【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：K波纳特，J尼林，
申请(专利权)人：ABB研究有限公司，
类型：发明
国别省市：CH[瑞士]
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