【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种电子元器件综合老化筛选装置，用于频率1000M以下的各种不同类型、不同封装、不同极性的二、三极管、可控硅、三端稳压器、电阻等电子元器件(以下简称试品)，作稳态满负载老化试验或结温老化试验，供用户对品种广泛的试品进行老化筛选试验分析用。电子元器件的失效可分为早期失效、随机失效、耗损失效，各种电子元器件在正常工作中往往由于制造缺陷等原因导致早期失效而影响整机的可靠性，通过试品的老化筛选剔除早期失效试品，提高产品质量。目前市场上销售和使用的各种电子元器件试验设备基本都是适用于单一品种的，如用户需对使用的几十种试品进行老化筛选时往往要购买几个或几十个试验装置，该现状存在以下缺点一、设备利用率低，互相不能兼顾，筛选成本提高。二、设备购置费用增大，占用大量厂房和操作人员，劳动生产率低下。三、自动化程度低，测量精度低，没有自动分析、统计功能，不能建立有效的试品筛选分析档案。本专利技术的目的在于提供一种模块化结构的适用于品种、类型广泛、装置总体体积小、成本低、自动化程度高、可同时对1000个左右试品进行老化筛选的综合型老化筛选装置。本专利技术包括金属壳体，...
【技术保护点】
一种电子元器件综合型老化筛选装置，包括金属壳体，壳体内有试验架、老化板、老化电源、巡检控制仪，其特征在于本装置还包括一个试验腔体、通风散热装置、电信号连接装置、老化板装置、电子开关阵列、巡检控制仪装置、电源极性变换装置、信息输入键盘、信息输出显示装置；试品安装在老化板上，老化板可插拔地安装在试验腔体中，通风散热装置安装在试验腔体的两侧，老化板装置的输出端通过电信号连接装置接电子开关阵列和电源极性变换装置，电源极性变换装置与老化电源连接，信息输入键盘和信息输出显示装置接巡检控制仪，巡检控制仪分别控制电子开关阵列、电源极性变换装置和风机电压。
【技术特征摘要】
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