一种用于精密定位测量的驱动平台制造技术

技术编号:26371332 阅读:17 留言:0更新日期:2020-11-19 23:39
本发明专利技术涉及定位测量技术领域,更具体的说是一种用于精密定位测量的驱动平台,可以同时测量物体的长度、宽度以及高度。包括长宽测量夹紧机构、收紧定位机构、尺寸测量圆盘机构、升降测高机构、水平承重机构、载物旋转圆盘、旋转驱动底盘机构和摆动清洁机构,升降测高机构带动尺寸测量圆盘机构下降,使尺寸测量圆盘机构顶端下降到贴在被测量物体顶端为止,便可以得到被测量物体的高度数值,随后启动收紧定位机构,使收紧定位机构带动长宽测量夹紧机构将被测量物体进行夹紧测量,得出被测量物体的长度与宽度数值,同时摆动清洁机构对载物旋转圆盘表面进行清洁,避免测量完毕的物体留下残渣或者杂质,避免影响后续物体的测量数值。

【技术实现步骤摘要】
一种用于精密定位测量的驱动平台
本专利技术涉及定位测量
,更具体的说是一种用于精密定位测量的驱动平台。
技术介绍
公开号为CN111483778A的专利技术公开了一种防滑驱动平台。包括承载件、固定轮组件和活动轮组件,承载件两端分别活动连接有拨杆装置;固定轮组件设置在承载件底部;活动轮组件设置在承载件底部,活动轮组件与固定轮组件分别夹设在带状轨道两侧;活动轮组件与拨杆装置活动连接,拨杆装置用于使活动轮组件与带状轨道侧边贴合或分离。用于解决传统检测安装麻烦的问题。利用设置在承载件底部的固定轮组件和活动轮组件,夹住带状轨道的侧边,将整个驱动平台安装在带状轨道上,同时活动轮组件通过设置在承载件两端的拨杆装置实现夹紧贴合轨道侧边和与轨道分离,完成快速拆装;但是该专利技术无法对物体进行长度、宽度以及高度的同时测量。
技术实现思路
本专利技术提供一种用于精密定位测量的驱动平台,其有益效果为本专利技术用于精密定位测量的驱动平台可以同时测量物体的长度、宽度以及高度。本专利技术涉及医用取样
,更具体的说是一种用于精密定位测量本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于精密定位测量的驱动平台,包括长宽测量夹紧机构(1)、收紧定位机构(2)、尺寸测量圆盘机构(3)、升降测高机构(4)、水平承重机构(5)、载物旋转圆盘(6)、旋转驱动底盘机构(7)和摆动清洁机构(8),其特征在于:摆动清洁机构(8)固定连接在水平承重机构(5)上,载物旋转圆盘(6)滑动连接在水平承重机构(5)上,旋转驱动底盘机构(7)固定连接在水平承重机构(5)底端,升降测高机构(4)固定连接在水平承重机构(5)上,尺寸测量圆盘机构(3)固定连接在升降测高机构(4)上,收紧定位机构(2)滑动连接在尺寸测量圆盘机构(3)上,长宽测量夹紧机构(1)固定连接在尺寸测量圆盘机构(3)上。/n

【技术特征摘要】
1.一种用于精密定位测量的驱动平台,包括长宽测量夹紧机构(1)、收紧定位机构(2)、尺寸测量圆盘机构(3)、升降测高机构(4)、水平承重机构(5)、载物旋转圆盘(6)、旋转驱动底盘机构(7)和摆动清洁机构(8),其特征在于:摆动清洁机构(8)固定连接在水平承重机构(5)上,载物旋转圆盘(6)滑动连接在水平承重机构(5)上,旋转驱动底盘机构(7)固定连接在水平承重机构(5)底端,升降测高机构(4)固定连接在水平承重机构(5)上,尺寸测量圆盘机构(3)固定连接在升降测高机构(4)上,收紧定位机构(2)滑动连接在尺寸测量圆盘机构(3)上,长宽测量夹紧机构(1)固定连接在尺寸测量圆盘机构(3)上。


2.根据权利要求1所述的一种用于精密定位测量的驱动平台,其特征在于:所述的长宽测量夹紧机构(1)包括升降轴套(1-1)、随动轴套(1-2)、宽度连杆(1-3)、长度连杆(1-4)、滑动夹紧轴(1-5)和边缘测量尺(1-6),四个边缘测量尺(1-6)分别固定连接在四个滑动夹紧轴(1-5)底端,四个滑动夹紧轴(1-5)分别转动连接在两个宽度连杆(1-3)和两个长度连杆(1-4)底端,两个宽度连杆(1-3)顶端分别转动连接在升降轴套(1-1)的左右两端,两个长度连杆(1-4)顶端分别转动连接在随动轴套(1-2)的前后两端,升降轴套(1-1)和随动轴套(1-2)之间固定连接有拉力弹簧。


3.根据权利要求2所述的一种用于精密定位测量的驱动平台,其特征在于:所述的收紧定位机构(2)包括支撑立柱(2-1)、顶部圆板(2-2)、夹紧电机(2-3)和夹紧丝杆(2-4),四个支撑立柱(2-1)底端均固定连接在尺寸测量圆盘机构(3)上,四个支撑立柱(2-1)顶端均固定连接在顶部圆板(2-2)上,夹紧电机(2-3)固定连接在顶部圆板(2-2)上,夹紧丝杆(2-4)顶端固定连接在夹紧电机(2-3)的输出轴上,夹紧丝杆(2-4)顶端转动连接在顶部圆板(2-2)上,随动轴套(1-2)滑动连接在夹紧丝杆(2-4)上,升降轴套(1-1)通过螺纹连接在夹紧丝杆(2-4)上。


4.根据权利要求3所述的一种用于精密定位测量的驱动平台,其特征在于:所述的尺寸测量圆盘机构(3)包括升降测量盘(3-1)、高度测量尺(3-2)、夹紧滑道(3-3)和水平刻度线(3-4),升降测量盘(3-1)上呈环形设置有四个夹紧滑道(3-3),四个夹紧滑道(3-3)上均设置有水平刻度线(3-4),高度测量尺(3-2)固定连接在升降测量盘(3-1)前端,四个支撑立柱(2-1)底端均固定连接在升降测量盘(3-1)上,夹紧丝杆(2-4)底端转动连接在升降测量盘(3-1)中部,四个滑动夹紧轴(1-5)分别滑动连接在四个夹紧滑道(3-3)内。


5.根据权利要求4所述的一种用于精密定...

【专利技术属性】
技术研发人员:赵晨阳李洋姚英学杜建军
申请(专利权)人:哈尔滨工业大学深圳
类型:发明
国别省市:广东;44

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