磁共振成像装置制造方法及图纸

为了彻底减小梯度脉冲产生的剩余磁化强度的影响，让相位反转梯度脉冲的强度等于相位编码梯度脉冲强度的一半或者大致一半；切片反转梯度脉冲的强度等于切片编码梯度脉冲强度的一半或者大致一半；将强度等于切片选择性梯度脉冲强度的消磁梯度脉冲应用于切片轴；在读出梯度脉冲以后应用强度等于读出梯度脉冲强度的消磁梯度脉冲。（*该技术在2023年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种静磁场不均匀性分布测量方法，静磁场均匀化方法，MR(磁共振)数据采集方法和MRI(磁共振成像)装置，具体而言涉及一种静磁场不均匀性测量方法，静磁场均匀化方法，MR数据采集方法，以及MRI装置，它能够彻底减小梯度脉冲产生的剩余磁化效应。这个静磁场不均匀性分布测量序列SQJ应用一个射频脉冲P1和一个切片选择性梯度脉冲Ss1；然后再应用一个切片再定相梯度脉冲Sr1’，它的强度(幅度)等于切片选择性梯度脉冲Ss1的强度(幅度)；应用一个相位编码梯度脉冲Pe1；应用一个频率去相位梯度脉冲)Fd1’，它的强度等于读出梯度脉冲Ro1的强度；接下来在应用读出梯度脉冲Ro1的同时采集第一个MR数据；然后应用一个相位反转梯度脉冲Pr1’，它的强度等于相位编码梯度脉冲Pe1的强度；再应用一个消磁梯度脉冲Sk1’，它的强度大于切片选择性梯度脉冲的强度。在第一个梯度脉冲回波序列以后，回波时间平移了δt的第二个梯度脉冲回波序列采集第二个MR数据。然后，在第一个和第二个MR数据之间相位差的基础之上测量静磁场的不均匀性分布。此外，第2001-54510号日本专利申请公开了已知磁化强度调节板中本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种ＭＲＩ装置，包括： 射频脉冲发射装置； 梯度脉冲应用装置； ＭＲ信号接收装置； 通过控制上述装置，用于从第一个梯度脉冲回波序列聚焦的回波采集第一个ＭＲ数据的第一个ＭＲ数据采集装置，其中应用于切片轴的消磁梯度脉冲的强度等于切片选择性梯度脉冲的强度，切片再定相梯度脉冲的强度等于切片选择性梯度脉冲强度的一半或者大致一半，相位反转梯度脉冲的强度等于相位编码梯度脉冲强度的一半或者大致一半，频率去相位梯度脉冲的强度等于读出梯度脉冲强度的两倍或者大致两倍；和 从第二个梯度脉冲回波序列聚焦的回波采集第二个ＭＲ数据的第二个ＭＲ数据采集装置，其中的回波时间相对于第一个梯度脉冲回波...

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：浅野健二，小杉进，
申请(专利权)人：GE医疗系统环球技术有限公司，
类型：发明
国别省市：US[美国]