电压检测电路制造技术

传统上，按照使用作电压检测的参考电平的预定电平的温度系数等于“０”的方式配置的电压检测电路不是由最少所需电路元件构成的。本发明专利技术的电压检测电路是由最少所需电路元件构成，其允许任意地设置用于电压检测的参考电平的温度特性。该电压检测电路具有：具有连接在一起的发射极以构成差分对的第一晶体管和第二晶体管；将输入电压分成第一分压和第二分压的分压电路，其与第一晶体管的基极直接相连以向其施加第一分压，并与第二晶体管的基极直接相连以向其施加第二分压；具有一端与第二晶体管的基极相连以及与第二晶体管的发射极相连的另一端的电阻器。根据来自差分对的输出，检测输入电压是否等于预定电平。（*该技术在2024年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种用于检查输入电压是否等于预定电平的电压检测电路。
技术介绍
图4示出了传统的电压检测电路的配置的实例。在图4所示的电压检测电路中，当向输入端子5施加的电压Vcc高于预定电平Vsh时，从端子4所输出的电压等于电压Vcc；当向输入端子5施加的电压Vcc低于预定电平Vsh时，从端子4所输出的电压等于“0”。此外，在图4中所示的电压检测电路中，由电阻器r1到r3和二极管接法晶体管Tr1组成的分压电路的分压因子、晶体管Tr4的基极—发射极电压、晶体管Tr5的基极—发射极电压、电阻器r4的电阻、以及电阻器r5的电阻按照使预定电平Vsh的温度系数等于“0”来设置。顺便提及，在日本已登记专利No.3218641中公开了图4中所示的电压检测电路。如上所述，在图4中所示的电压检测电路中，由电阻器r1到r3和二极管接法晶体管Tr1组成的分压电路的分压因子、晶体管Tr4的基极—发射极电压、晶体管Tr5的基极—发射极电压、电阻器r4的电阻、以及电阻器r5的电阻按照使预定电平Vsh的温度系数等于“0”来设置。这表示图4中所示的电压检测电路绝对地必需设置有电阻器r1到r3、晶体管Tr1、晶体本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电压检测电路，包括：具有连接在一起的发射极以形成差分对的第一晶体管和第二晶体管；将输入电压分成第一分压和第二分压的分压电路，所述分压电路与第一晶体管的基极直接相连，以将第一分压施加到第一晶体管的基极，并将分压电路与第二晶体管的基极直接相连，以将第二分压施加到第二晶体管的基极；以及具有与第二晶体管的基极相连的一端以及具有与第二晶体管的发射极相连的另一端的电阻器，其中，根据来自差分对的输出来检测输入电压是否等于预定电平。

【技术特征摘要】
...

【专利技术属性】
技术研发人员：平松庆久，井上晃一，
申请(专利权)人：罗姆股份有限公司，
类型：发明
国别省市：JP[日本]