【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种铁电体矫顽场强度的测量,特别涉及一种铁电体矫顽场强度的测量方法及其系统。
技术介绍
铁电体的矫顽场强度是铁电体的重要参数,目前公认的测量方法是利用Sawyer-Tower回路来测量,如王永龄著科学出版社2003版的《功能陶瓷性能与应用》一书中所述的,它由低频高压电源、示波器、纯电阻串联支路与被测样品电容和标准电容相串联的容性支路构成的并联测量回路组成。通过在铁电体上施加一个低频高电压,观察流过铁电体的电流随外加电场的变化,即在示波器X轴上显示样品上所加的电压V(除以样品厚度即为电场强度E),在示波器Y轴显示样品上的电荷Q(除以样品的电极面积即为电极化强度P或电位移D),而在示波器的X-Y平面上则完整地显示出铁电体的D-E或P-E电滞回线,从电滞回线上对应极化强度P或电位移D为零的电场强度即为矫顽场强度。但是,由于铁电体样品及取样电容或多或少存在直流电导及其它介质损耗,在低频高压作用下,由于滞后损耗会使得到的电滞回线会产生畸变,从而导致由此获得的铁电体样品的矫顽场强度不准确。虽然,从原则上可以采用相位补偿的办法,在一定程度上可以减少这种畸变,但由 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员:潘潮,陈守六,解宝兴,金亨焕,易晓星,章力旺,
申请(专利权)人:中国科学院声学研究所,
类型:发明
国别省市:
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