一种图像传感器芯片测试分选一体机制造技术

本发明专利技术公开了一种图像传感器芯片测试分选一体机，包括依次排列且均具有输送机构的待测流道、测试流道、良品流道、不良品流道，待测流道前端设有待测满料托盘载仓，后端设有空盘卸载仓；良品流道前端设有良品满料托盘卸载仓，后端设有空盘装载仓；测试流道的输送机构上设有具有加热功能的下测试座，测试流道后端设有相匹配的下压测试机构；不良品流道的输送机构上设有存放不良品的托盘；各流道上方还横跨有一横梁，横梁前后两侧分设有一能够沿横梁移动的芯片吸取机构。将芯片测试、加热及视觉检查等多功能集成于整个分选机中，仅需在原有动作逻辑中只增加了一步停顿与拍照检查，可有效避免因芯片的转移而造成的损伤或污染的风险。

An integrated testing and sorting machine for image sensor chip

【技术实现步骤摘要】
一种图像传感器芯片测试分选一体机
本专利技术属于芯片测试封装技术、具体涉及一种图像传感器芯片测试分选一体机。
技术介绍
在半导体的芯片测试封装工艺中，有一类图像传感器的芯片，在进行功能测试的同时还需要高温加热，以及对产品锡球面外观缺陷检查，并根据最终的测试及检查结果进行分类。然而，目前还没有将高温、测试、视觉检查缺陷三个功能融合在一台机器上。因此，在做完功能类的测试后，还需要另外放到单独的视觉检查机器上再来一次检查与筛选，如此的重新搬运与上下料及检查取放动作，增加了芯片损伤或污染的风险。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题是提供一种图像传感器芯片测试分选一体机，通过合理布局，具有多功能检测并分选效果。为了解决上述技术问题，本专利技术采用如下的技术方案：一种图像传感器芯片测试分选一体机，包括依次排列且均具有输送机构的待测流道、测试流道、良品流道、不良品流道，待测流道前端设有待测满料托盘载仓，后端设有空盘卸载仓；良品流道前端设有良品满料托盘卸载仓，后端设有空盘装载仓；测试流道的输送机构上设有具有加本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种图像传感器芯片测试分选一体机，其特征在于：包括依次排列且均具有输送机构的待测流道、测试流道、良品流道、不良品流道，待测流道前端设有待测满料托盘载仓，后端设有空盘卸载仓；良品流道前端设有良品满料托盘卸载仓，后端设有空盘装载仓；测试流道的输送机构上设有具有加热功能的下测试座，测试流道后端设有相匹配的下压测试机构；不良品流道的输送机构上设有存放不良品的托盘；各流道上方还横跨有一横梁，横梁前后两侧分设有一能够沿横梁移动的芯片吸取机构。/n

【技术特征摘要】
1.一种图像传感器芯片测试分选一体机，其特征在于：包括依次排列且均具有输送机构的待测流道、测试流道、良品流道、不良品流道，待测流道前端设有待测满料托盘载仓，后端设有空盘卸载仓；良品流道前端设有良品满料托盘卸载仓，后端设有空盘装载仓；测试流道的输送机构上设有具有加热功能的下测试座，测试流道后端设有相匹配的下压测试机构；不良品流道的输送机构上设有存放不良品的托盘；各流道上方还横跨有一横梁，横梁前后两侧分设有一能够沿横梁移动的芯片吸取机构。


2.根据权利要求1所述的一种图像传感器芯片测试分选一体机，其特征在于：所述下测试座上具有数个芯片测试凹槽，下测试座内部设有数个加热棒及温度感应器。


3.根据权利要求1所述的一种图像传感器芯片测试分选一体机，其特征在于：还包括芯片视觉检查装置，设于测试流道与良品流道之间且位于后侧的芯片吸取机构的移动路径下方。


4.根据权利要求2所述的一种图像传感器芯片测试分选一体机，其特征在于：所述芯片吸取机构包括数个固定在安装板上的吸取头、独立升降机构、整体升降机构，吸取头的间距与芯片测试凹槽的间距相同，每个吸取头均具有一独立升降机构，整体升降机构与安装板相连，所述横梁两侧上还分别布设有与芯片吸取机构相对应的横移机构。


5.根据权利要求4...

【专利技术属性】
技术研发人员：梁猛，赵凯，卢升，林海涛，
申请(专利权)人：技感半导体设备南通有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32