可适用不同IC盛装对象的IC检测机制造技术

本发明专利技术公开了一种可适用不同ＩＣ盛装对象的ＩＣ检测机，其主要是在检测装置的两侧设有载送装置，并于一载送装置的侧方设有第一置料装置，可供承置料盘或料管用来入料，第一取放装置于载送装置及第一置料装置间移动，而将ＩＣ取放至载送装置上，以载送至检测装置处，该检测装置于检测完ＩＣ后，即将ＩＣ放置于另侧方的载送装置上，而载送装置的侧方设有第二置料装置，其可供承置料盘或料管用来出料，该第二取放装置于载送装置与第二置料装置间移动，以将ＩＣ取放至第二置料装置上收置；藉此，可因应不同ＩＣ盛装对象（料盘或料管），而供选择所需的置料装置作入、出料，以广泛应用检测不同类型ＩＣ，达到大幅节省设备成本及提升ＩＣ。（*该技术在2024年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种可应用于不同IC盛装对象(料盘或料管)的入、出料，以广泛检测各类型IC，而大幅节省设备成本及提升IC检测效益的可适用不同IC盛装对象的IC检测机。
技术介绍
在现今，科技不断地研发与创新，以往必需由许多大型电子电路结合才能完成的工作，已完全由集成电路(integrated circuit，简称IC)所取代，由于IC的接脚型式多样化，用以盛装的对象亦不相同，概分为料盘及料管二种，例如两侧具接脚的IC叠置盛装于料管，而各侧面具接脚的IC，则平置盛装于料盘以防止接脚受损，然IC在生产过程中需经过多道加工程序，为确保产品品质，于IC制作完成后，均会进行电路检测作业，以检测是否损坏，进而淘汰出不良品，下面简述分析现有料盘及料管盛装对象各别应用的检测专用机1、料盘专用检测机请参阅图1所示，该检测机于一检测装置1的两侧设有载送装置2、3，并于一载送装置2的侧方设有置料装置4供置放盛装IC的料盘，一取放装置5于载送装置2与置料装置4间移动，以将料盘中的IC取放至载送装置2上，以载送至检测装置1侧方，该检测装置1的吸头即将IC取放至试测台6中进行测试，待测试完毕后，再将IC取放至另侧方的载送装置3上送出，而载送装置3的侧方亦设有承置料盘的置料装置7，另一取放装置8则于载送装置3与置料装置7间移动，俾以将载送装置3上的IC取放至置料装置7的料盘上收置，而完成检测作业；但是，该检测机仅局限供料盘作入、出料，而无法适用不同盛装对象，以致使用效益受限。2、料管专用检测机，请参阅图2所示，设有一具斜度的轨道装置9，其两端分别供插置用以盛装IC的料管10、11作入、出料，检测装置12则设于轨道装置9的上方，进而可使顶端料管10中的IC滑入于轨道装置9中，经检测装置12检测完毕后，再滑入于末端的料管11中收置，而完成检测作业；但是，该检测机亦仅局限供料管作入、出料，而无法适用不同盛装对象，以致使用效益受限。故上述各检测专用机并无法因应不同盛装对象(料盘或料管)作入、出料，不仅检测IC类型受限，当业者欲检测不同盛装对象中的IC时，必须购置二种不同检测专用机，更造成设备成本增加的缺失，且各检测专用机的入、出料盛装对象均相同，并无法视下一工作站所需而变换不同盛装对象，以致IC盛装对象的变换性差，致使业者必须另外转换盛装对象，例如将料盘中盛装的IC再置换盛装于料管中收置，造成IC后续流程作业的不便。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种可适用不同IC盛装对象的IC检测机，主要是在检测装置的两侧设有载送装置，而一载送装置的侧方设有第一置料装置，供承置料盘或料管用来入料，第一取放装置于载送装置及第一置料装置间移动，而将IC取放至载送装置上，以载送至检测装置处，供检测装置吸取IC进行测试，待测试完毕后，由另一载送装置送出，而该载送装置的侧方设有第二置料装置，其可供承置料盘或料管用来出料，第二取放装置于载送装置与第二置料装置间移动，俾以将IC取放至第二置料装置上收置，而完成检测作业；藉此，可视IC盛装对象(料盘或料管)，而选择所需的置料装置作入、出料，毋须购置不同专用机，即可广泛应用检测各类型IC，达到大幅节省设备成本及提升IC检测效益。本专利技术可视后续工作站作业所需，将第二置料装置设为料管置料装置或料盘置料装置，使出料处供承置料管或料盘，以直接变换收置IC的盛装对象，进而便利IC的移载作业。本专利技术的检测机可供不同IC盛装对象入、出料，毋须另行购置专用机，可减少机器占用空间，进而更有效地利用和规划厂房作。为了进一步了解本专利技术，下面结合附图以较佳实施例详细说明本专利技术。附图说明图1为习式料盘专用检测机的配置图；图2为习式料管专用检测机的配置图；图3为本专利技术的配置图；图4为本专利技术以料管入料、料盘出料的使用示意图； 图5为料管置料装置的示意图；图6为料管置料装置的使用示意图；图7为第一取放装置取放IC至第一载送装置的示意图；图8为IC移载至检测装置作测试的示意图；图9为第二取放装置取放IC至料盘置料装置的示意图；图10为本专利技术以料管作入、出料的使用示意图；图11为料管置料装置的示意图；图12为本专利技术以料盘作入、出料的使用示意图；图13为本专利技术以料盘入料、料管出料的使用示意图。附图标记说明检测装置1；载送装置2、3；置料装置4；取放装置5；试测台6；置料装置7；取放装置8；轨道装置9；料管10、11；检测装置12；料管置料装置20；支架21；轨道22；承置座23；料盘置料装置30；料盘31；第一载送装置40；载台41；第一取放装置50；纵移机构51；横移机构52；升降机构53；吸头54；检测装置60；试测台61；横移机构62；升降机构63；吸头64；第二载送装置70；载台71；料盘置料装置80；料盘81；料管置料装置90；入口轨道91；连结板92；震动器93；转接轨道94；第二取放装置100；纵移机构101；横移机构102；升降机构103；吸头104；料管110、120。具体实施例方式请参阅图3所示，本专利技术于机台上设有第一置料装置用以入料IC，该第一置料装置为料管置料装置20以供承置料管，或为料盘置料装置30供承置料盘，第一置料装置的前方设有具载台41的第一载送装置40，第一取放装置50于第一置料装置及第一载送装置40间移动用以取放IC，一具有试测台61的检测装置60设于第一载送装置40侧方，并于另侧方设有第二载送装置70，该第二载送装置70的另侧方设有第二置料装置用以出料IC，该第二置料装置为料盘置料装置80以供承置料盘，或为料管置料装置90以供承置料管，第二取放装置100于第二置料装置及第二载送装置70间移动用以取放IC；请参阅图4～图6所示，当以料管入料而料盘出料时，该第一置料装置为料管置料装置20，其于支架21上设有成排斜置的轨道22，并于各轨道22的顶端枢设一可摆动的承置座23，进而可将盛装IC的料管110插置于承置座23中，并将承置座23向上掀起，使料管110中的IC滑入于轨道22，而落置于轨道22末端处，以供第一取放装置50取料；请参阅图3、图7所示，该第一取放装置50设有纵、横移机构51、52及升降机构53，并于升降机构53上设有吸头54，进而以吸头54吸取料管置料装置20上的IC至第一载送装置40处；请参阅图3、图7、图8所示，该第一载送装置40以马达驱动皮带轮组，而带动皮带轮组上的载台41作往复位移，当第一取放装置50将IC放置于载台41上时，该载台41即将IC载送至检测装置60处，该检测装置60设有一测试台61，并于测试台61的两侧设有一组横移机构62及升降机构63，并于横移机构62上设有吸头64，以带动吸头64作横移及升降位移，进而该检测装置60即以吸头64吸取第一载送装置40载台41上的IC至测试台61测试，待测试完毕后，再以另一吸头64将IC移载至第二载送装置70的载台71上，其载台71即将IC载送至第二置料装置的侧方；请参阅图3、图8、图9所示，该第二置料装置为料盘置料装置80，其可供料盘81置放，而侧方的第二取放装置100亦设有纵、横移机构101、102及升降机构103，并于升降机构103上设有吸头104，进而第二取放装置100即以吸头104吸取第二载送装置70上的IC至料盘置料装置80的料盘81上本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种可适用不同ＩＣ盛装对象的ＩＣ检测机，包括：检测装置，设有测试台以供ＩＣ测试；　第一置料装置，设于检测装置的侧方，并供承置料管用来入料ＩＣ；第二置料装置，设于检测装置的侧方，用以供出料ＩＣ；取放装置，于检测 装置、第一置料装置及第二置料装置间移动，用以取放ＩＣ。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：黄世信，
申请(专利权)人：鸿劲科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：71[中国|台湾]