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本发明公开了一种可适用不同ＩＣ盛装对象的ＩＣ检测机，其主要是在检测装置的两侧设有载送装置，并于一载送装置的侧方设有第一置料装置，可供承置料盘或料管用来入料，第一取放装置于载送装置及第一置料装置间移动，而将ＩＣ取放至载送装置上，以载送至检测装...
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