用于操作在正常工作期间保持恒定的逻辑值的扫描测试系统和方法技术方案

本发明专利技术是一种系统和方法，由在正常工作期间保持逻辑值恒定并在扫描测试工作期间促进对逻辑值的操作。在一种实施方案中本发明专利技术是一种恒定逻辑值操作扫描测试链，它包括组合电路、恒定逻辑值扫描测试操作电路和扫描测试元件。组合电路在正常工作期间执行函数运算。恒定逻辑值扫描测试操作电路提供在正常工作期间保持恒定并在扫描测试操作期间根据扫描测试输入信息而改变的逻辑值输出。扫描测试元件传递测试向量给功能部件并和用来执行正常工作的功能逻辑相互作用。在本发明专利技术的一种示例性实现方式中，组合电路是一个逻辑门，而且恒定逻辑值扫描测试操作电路的逻辑值输出被耦合到该逻辑门的输入。该逻辑门的逻辑值输入在正常工作期间保持恒定，并且在扫描测试操作期间根据扫描测试输入信息对其进行操作。（*该技术在2021年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及电集成电路测试领域。更具体而言，本专利技术涉及在扫描操作期间对逻辑值的操作有促进作用的一种系统和方法，这些逻辑值在正常工作期间保持恒定。
技术介绍
电子系统和电路已经对现代社会的进步做出了巨大的贡献，并且已经被用于大量应用中以实现有利的结果。大量的电子技术已经在商业、科学、教育和娱乐的大部分领域里的分析和传递数据、思想和趋势中促进了生产率的提高和成本的降低，这些技术诸如数字计算机、计算器、音频设备、视频设备和电话系统。通常要对电子系统的元器件和设备进行测试以确保电子系统为了实现预期的结果而正常运转。数字电子系统测试过程通常涉及到对施加给电子系统的元器件或设备的逻辑值的操作。数字电子系统常常包括在正常工作期间依赖于特定逻辑值的逻辑门。对一般恒定的逻辑值的操作通常提供较高的测试灵活性，但往往非常难以操作恒定的逻辑值。在片上系统(SOC)设计中所包括的通用集成电路(IC)的复杂性已经有了显著地提高，并且内装自测试(BIST)诊断能力对于有效的电路测试、调试和维护是必需的。现代BIST技术通常包括在IC中插入一个扫描测试结构。复杂电子系统和电路的扫描测试通常包括对用以刺激电路本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种恒定逻辑值扫描测试操作电路，包括：扫描触发器（３０１），适于存储扫描测试输入逻辑值；耦合到所述扫描触发器的扫描测试输入（３０４），所述扫描测试输入适于传递扫描测试输入信号；耦合到所述扫描触发器的扫描测试输出（３０ ５），所述扫描测试输出适于传递扫描测试输出信号；耦合到所述扫描触发器的逻辑值产生电路（３０２），所述逻辑值产生电路适于确保逻辑值在正常工作模式期间保持恒定，并在扫描测试工作模式期间根据所述扫描触发器中存储的所述扫描测试输入逻辑值提供 对所述逻辑值的操作；耦合到所述逻辑值产生电路的扫描测试模式输入（３０３），所述扫描测试模...

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：R塞蒂尔，
申请(专利权)人：皇家菲利浦电子有限公司，
类型：发明
国别省市：NL[荷兰]