一种交流电继电器校正方法及其装置，其通过微处理单元内部所储存的校正软件程序对微处理单元所连接的继电器进行吸合／释放动作的反应时间差校正。当校正软件程序要求继电器吸合／释放动作时，微处理单元输出继电器吸合／释放动作信号，同时通过连接于微处理单元和继电器之间的第一检测单元取得５０／６０Ｈｚ的零交叉点的吸合／释放反应时间差，再由校正软件程序计算到下一个５０／６０Ｈｚ的零交叉点的延迟时间值，然后再储存继电器吸合动作延迟修正时间值，以便确定下一次启动继电器时需延迟的时间。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种交流电继电器的校正方法及其装置，尤其涉及一种可以解决因机械老化、不同厂家的继电器所产生的反应时间差的问题的校正方法及其装置，校正继电器的反应时间差，将其降到零点，从而不需增加消除火花电路就能使得继电器在吸合/释放时不产生火花，以确保继电器的使用寿命。
技术介绍
目前，继电器被广泛应用在信号开启时延迟信号接通，避免瞬间电源开启/关闭所产生的过大电流输入到电器内部的电路中，或者连接在负载上，以切断不正当操作或控制所产生的瞬间大电流(突波信号)进入负载内部造成负载烧毁，以达到有效的保护电器或负载的效果。但是，继电器常因为其内部的机械接点的机械老化或者不同厂家的继电器而在使用时会产生吸合/释放的动作反应时间差。这种反应时间差常使继电器产生极大的火花，从而导致继电器内部机械接点被热熔损坏。为了解决上述传统继电器所存在的缺陷，已经设计出一种继电器加速电路，该继电器加速电路在应用时可以使得继电器内部机械接点及簧片加速吸合及释放，以缩短接点及簧片吸合/释放的反应时间差，达到降低火花产生的效果，从而确保继电器的使用寿命。但是，这两项专利申请仍然无法克服继电器接点及簧片因机械老化及不同厂家所产生的反应时间差的缺陷。本专利技术的内容本专利技术的主要目的在于解决上述现有技术的缺陷，避免缺陷存在。本专利技术对继电器的吸合/释放的反应时间差进行控制，并进行重新设计，以校正继电器的反应时间差，从而解决因机械老化、不同厂家的继电器所产生的反应时间差，使继电器校正为反应时间为交流电的零交叉点，这样，在继电器吸合/释放时，不会产生火花，从而确保继电器的使用寿命。为达到上述的目的，本专利技术的继电器校正方法及其装置通过微处理单元内部所储存的校正软件程序对微处理单元所连接的继电器的吸合/释放动作的反应时间差进行校正。在继电器吸合/释放时，微处理单元输出继电器吸合/释放动作的信号，再由连接于微处理单元与继电器之间的第一检测单元取得零交叉点的吸合/释放的反应时间差，再计算到下一零交叉点的延迟时间值。在计算完成后，储存继电器吸合/释放动作延迟修正时间值，以便确定下一次继电器吸合/释放时需延迟多少时间。附图的简要说明附图说明图1是本专利技术的继电器校正装置的方框示意图；图2是本专利技术的继电器校正的波形示意图；图3是本专利技术的继电器校正吸合动作的流程示意图；图4是本专利技术的继电器校正释放动作的流程示意图。附图中，各标号所代表的部件列表如下1-微处理单元 2-第一检测单元3-第二检测单元4-开关5-继电器 51-第一接点52-第二接点 53-第三接点54-第四接点具体实施方式为了使本领域技术人员进一步了解专利技术的特征及
技术实现思路
，请参考以下有关本专利技术的详细说明与附图，附图仅提供参考与说明用，并非用来限制本专利技术。请参考图1和2，它们是本专利技术的继电器校正装置的方框及波形示意图。如图所示，本专利技术的继电器校正方法及其装置主要是校正继电器因为机械老化和品质问题所产生的反应时间差，将反应时间差降到零点，使得继电器在吸合/释放时不会产生火花，以确保继电器的使用寿命。上述的继电器校正装置包括微处理单元1、第一检测单元2、第二侦测单元3、开关4、继电器5，其中微处理单元1用于储存校正继电器5反应时间差的校正软件程序(图中未示出)，同时输出控制继电器5吸合/释放的信号。第一检测单元2与微处理单元1及继电器5的第一接点(COM)51连接，以检测继电器5的动作反应时间差。第二侦测单元3与微处理单元1及继电器5的第二接点(NO)52连接，以检测并回授微处理单元1可以判断读取的继电器5的吸合/释放反应的基本时间值。开关4由晶体管构成，其与微处理单元1及继电器5的第三接点(电磁铁)53连接。由此，上述部件构成可对继电器5进行校正的校正装置，此装置在校正时的波形如图2所示。A波形表示继电器5所使用的交流电源(50/60HZ)，A1(零交叉点)代表继电器5的第一接点(COM)51切换连接到第二接点(NO)52或从第二接点(NO)52断开的反应时间点。B波形为第二检测单元3回授微处理单元1判读检测的50/60HZ基本时间的波形图。C波形为微处理单元1所输出的继电器5开/关的波形图。D波形表示第一检测单元检测并回授的继电器5的第一接点(COM)51切换连接到第二接点(NO)52或从第二接点(NO)52断开的反应时间差。当继电器5产生吸合动作时，微处理单元1利用第二检测单元3(如图2的B波形)取得零交叉点的时间基准，计算后输出启动信号(如图2的C波形)，此启动信号经开关4传送到继电器5的第三接点53，使得电磁铁产生吸合力，继电器5则由第一接点(COM)51切换连接到第二接点(NO)52。此时将检测到的继电器5的第一接点(COM)51切换连接到第二接点(NO)52的反应时间差回授给微处理单元1(如图2的D波形)。微处理单元1根据第一检测单元2所回授的反应时间差与先前微处理单元1所输出的启动信号经校正软件程序作比较后，得到一个(T-ΔX)的延迟时间值，因此在下一次启动继电器5时，就知道需要延迟多少时间。接着，要求继电器5接点释放时，微处理单元1利用第二检测单元3(如图2的B波形)取得零交叉时间基准，计算后输出释放信号(如图2的C波形)，使得继电器5的第三接点53的电磁铁不产生吸合力，继电器5则由第一接点51切换连接到第四接点54，此时第一检测单元2将检测到的继电器5的第一接点51切换连接到第四接点54的反应时间差回授给微处理单元1(如图2的D波形)，微处理单元1根据第一检测单元2所回授的反应时间差经校正软件程序与先前微处理单元所输出的释放信号作比较后，得到一个(T-ΔY)的延迟时间值，因此在下一次关闭继电器5时，就知道需要延迟多少时间。同理，第四接点(NC)54与第二接点(NO)52对调也可达到上述功能。请参考图1和3，它们为本专利技术的继电器校正装置方框图和继电器校正吸合动作的流程示意图。如图所示，当校正软件程序要求继电器吸合动作时，延迟X时间，微处理单元1输出吸合动作信号，同时通过第一检测单元2取得50/60HZ的零交叉点的延迟时间ΔX(吸合反应时间差)，再由校正软件程序计算到下一个50/60HZ的零交叉点的延迟时间值(T-ΔX)，然后再将继电器吸合动作的延迟修正时间值(T-ΔX)存储到X，以便确定下一次启动继电器时需延迟多少时间。请参考图1和4，它们是本专利技术的继电器校正装置方框图和继电器校正释放动作的流程示意图。如图所示，当校正软件程序要求继电器释放动作时，延迟Y时间，微处理单元1输出释放动作信号，同时通过第一检测单元2取得50/60HZ的零交叉点的延迟时间ΔY(释放反应时间差)，再由校正软件程序计算到下一个50/60HZ的零交叉点的延迟时间值(T-ΔY)，然后再将继电器释放动作的延迟修正时间值(T-ΔY)存储到Y，以便确定下一次启动继电器时需延迟多少时间。由上可知，本专利技术的继电器校正方法及其装置可以解决因机械老化、不同厂家的继电器所产生的反应时间差，将继电器的反应时间差降到零点，而且不必增加消除火花电路就能使继电器在吸合/释放时不产生火花，以确保继电器的使用寿命。以上所述仅为本专利技术的优选实施例，并非因此即限制本专利技术的专利范围，凡是运用本专利技术说明书及附图内容所作的等效变换，或直接本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种继电器校正方法，其通过微处理单元内部所储存的校正软件程序对所述微处理单元所连接的继电器进行吸合／释放动作的反应时间差校正，所述校正方法包括：ａ）在要求所述继电器进行吸合／释放动作时，所述微处理单元输出继电器吸合／释放动作信号； ｂ）由连接于所述微处理单元与所述继电器之间的第一检测单元和第二检测单元取得零交叉点的吸合／释放的反应时间差，再计算到下一零交叉点的延迟时间值；ｃ）在计算完成后，储存所述继电器的吸合／释放动作延迟修正时间值，以便确定下一次所述继 电器吸合／释放时需延迟多少时间。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：王主力，
申请(专利权)人：王主力，
类型：发明
国别省市：71[中国|台湾]
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