一种堵转装置及堵转测试系统制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及电机性能测试技术领域，具体涉及一种堵转装置及堵转测试系统。本实用新型专利技术的堵转装置，用于测试电机性能，包括与电机的转接圆盘螺纹连接的连接盘，所述连接盘通过连接件与测试装置连接。本实用新型专利技术的种堵转测试系统，具有上述的堵转装置。电机的转接圆盘是常用的标准件，使用连接盘与转接圆盘连接，能够使得堵转装置与电机的连接结构简单，方便安装和拆卸，同时适用多种结构的电机测试连接。

【技术实现步骤摘要】
一种堵转装置及堵转测试系统
本技术涉及电机性能测试
，具体涉及一种堵转装置及堵转测试系统。
技术介绍
随着驱动应用行业(如汽车、耗能设备等)的快速发展，市场对电机性能的要求越来越高，因此，为提高电机性能，电机出样后的性能检测尤为重要。对电机样机进行性能检测时，常规的方式是采用测试台架对样机进行性能检测。现有的测试台架上的堵转装置包括支架、堵转销和连接轴，连接轴与电机的主轴连接，并可在主轴的驱动下转动，支架开设有堵转孔，堵转孔的轴线垂直于连接轴轴线，连接轴上开设有径向通孔，进行堵转试验时，通过堵转销穿过径向通孔和堵转孔以限制连接轴的转动，这种堵转装置的通用性较差。
技术实现思路
因此，本技术要解决的技术问题在于克服现有技术中的堵转装置通用性差的缺陷，从而提供一种通用性好、结构简单，方便安装的堵转装置，及设置有该堵转装置的堵转测试系统。为解决上述问题，本技术的堵转装置，用于测试电机性能，包括与电机的转接圆盘螺纹连接的连接盘，所述连接盘通过连接件与测试装置连接。所述连接盘对应多种转接圆盘设有多圈螺纹孔。所述连接件的一端设有花键，所述连接盘上设有花键槽，所述花键插入所述花键槽内将所述连接件与所述连接盘连接。所述连接件的内部设有沿所述连接件的轴线方向延伸的孔腔，所述电机的主轴可伸入所述孔腔内。所述孔腔包括朝向所述连接盘的第一腔部，和远离所述连接盘的第二腔部，所述第一腔部的腔壁具有朝向所述孔腔内部凸出设置的多个凸起。多个所述凸起沿所述孔腔的腔壁均布设置。>所述第二腔部为通孔状结构。所述连接件的另一端通过联轴器与所述测试装置连接。本技术的种堵转测试系统，具有上述的堵转装置。本技术技术方案，具有如下优点：1.本技术的堵转装置，用于测试电机性能，包括与电机的转接圆盘螺纹连接的连接盘，所述连接盘通过连接件与测试装置连接。电机的转接圆盘是常用的标准件，使用连接盘与转接圆盘连接，能够使得堵转装置与电机的连接结构简单，方便安装和拆卸，同时适用多种结构的电机测试连接。2.本技术的堵转装置，所述连接盘对应多种转接圆盘设有多圈螺纹孔，使得连接盘的适用范围更加的广泛，进而使得堵转装置适用多种电机的性能测试。3.本技术的堵转装置，花键和花键槽的设置，使得连接件与连接盘的连接更加的简单方便，且连接后结构稳定。4.本技术的堵转装置，孔腔的设置，能够减少对电机的主轴的长度限制，使得堵转装置适用范围更广。附图说明为了更清楚地说明本技术具体实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本技术的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本技术的堵转装置的结构示意图；图2为本技术的连接件的结构示意图；图3为图2所示的连接件的过轴线剖视图的结构示意图；图4为图2所示的连接件的左视图的结构示意图；图5为本技术的连接盘的结构示意图；附图标记说明：1－电机；2－转接圆盘；3－连接盘；4－连接件；5－测试装置；6－螺纹孔；7－花键；8－花键槽；9－第一腔部；10－第二腔部；11－凸起。具体实施方式下面将结合附图对本技术的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。在本技术的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。此外，术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。此外，下面所描述的本技术不同实施方式中所涉及的技术特征只要彼此之间未构成冲突就可以相互结合。实施例一：本实施例中的堵转装置，用于测试电机1性能，如图1－图5所示，包括与电机1的转接圆盘2螺纹连接的连接盘3，所述连接盘3通过连接件4与测试装置5连接。现有技术中的堵转装置是连接轴与电机1的主轴连接，不同型号的电机1主轴的直径尺寸不同，因此，使用现有技术中的堵转装置时，需要根据不同的电机1型号配备相应的联轴器等轴连接结构。本申请中的堵转装置使用的是连接盘3与电机1的转接圆盘2连接，转接圆盘2是标准件，且可以在所述连接盘3对应多种转接圆盘2设有多圈螺纹孔6，使得同一连接盘3能够连接多种转接圆盘2，使得堵转装置的适用范围更加广泛。连接盘3上螺纹孔的设置数目和圈数根据使用要求设置，如图5所示，该连接盘3上可以仅设有一圈螺纹孔6。所述连接件4的一端设有花键7，所述连接盘3上设有花键槽8，所述花键7插入所述花键槽8内将所述连接件4与所述连接盘3连接。所述连接件4的内部设有沿所述连接件4的轴线方向延伸的孔腔，所述电机1的主轴可伸入所述孔腔内，以使电机主轴较长时伸入到空腔内，与堵转装置相适配。所述孔腔包括朝向所述连接盘3的第一腔部9，和远离所述连接盘3的第二腔部10，所述第一腔部9的腔壁具有朝向所述孔腔内部凸出设置的多个凸起11，多个所述凸起11沿所述孔腔的腔壁均布设置。所述第二腔部10为通孔状结构。本实施例中，所述连接件4的另一端通过联轴器与所述测试装置5连接。测试装置5主要用于测试电机的扭矩。实施例二：本实施例中的堵转测试系统，具有实施例一中所述的堵转装置，测试系统中使用所述堵转装置，使得测试系统的安装和测试更加的简单方便，且适用测试的电机1范围更广。显然，上述实施例仅仅是为清楚地说明所作的举例，而并非对实施方式的限定。对于所属领域的普通技术人员来说，在上述说明的基础上还可以做出其它不同形式的变化或变动。这里无需也无法对所有的实施方式予以穷举。而由此所引伸出的显而易见的变化或变动仍处于本技术创造的保护范围之中。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种堵转装置，用于测试电机(1)性能，其特征在于，包括与电机(1)的转接圆盘(2)螺纹连接的连接盘(3)，所述连接盘(3)通过连接件(4)与测试装置(5)连接。/n

【技术特征摘要】
1.一种堵转装置，用于测试电机(1)性能，其特征在于，包括与电机(1)的转接圆盘(2)螺纹连接的连接盘(3)，所述连接盘(3)通过连接件(4)与测试装置(5)连接。


2.根据权利要求1所述的堵转装置，其特征在于，所述连接盘(3)对应多种转接圆盘(2)设有多圈螺纹孔(6)。


3.根据权利要求1所述的堵转装置，其特征在于，所述连接件(4)的一端设有花键(7)，所述连接盘(3)上设有花键槽(8)，所述花键(7)插入所述花键槽(8)内将所述连接件(4)与所述连接盘(3)连接。


4.根据权利要求3所述的堵转装置，其特征在于，所述连接件(4)的内部设有沿所述连接件(4)的轴线方向延伸的孔腔，所述电机(1)的主轴可伸入所述孔腔内。<...

【专利技术属性】
技术研发人员：彭瑞军，沈锌杰，张利军，李睿，
申请(专利权)人：浙江阿尔法汽车技术有限公司，
类型：新型
国别省市：浙江;33