本发明专利技术披露了一种使开放架构测试站点中的数字和模拟／混合信号模块同步化的方法和装置。事件触发器被发送到模拟同步（ＡＳＹＮＣ）模块，被选择性的分配它们到模拟／混合信号模块。当一个事件发生时，该触发器可以激活一个模拟／混合信号模块执行某种操作。ＡＳＹＮＣ模块也可以接收来自模拟／混合信号模块的触发器并选择性的分配它们返回到数字模块。该数字模块可以被程序化来等待模拟／混合信号模块完成一个操作，其受来自该模拟／混合信号模块的触发器指示，之后继续。因为本发明专利技术的实施例能够使数字和模拟／混合信号模块在模式控制下同步化，因此该同步化与来自站点控制器的同步化相比能够非常精确且可重复。
【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及测试例如为集成电路(ICs)的半导体装置的测试系统，尤其涉及开放架构测试系统中的数字与模拟/混合信号模块的同步化。
技术介绍
传统测试架构的特有性质是导致测试设备高成本的一个主要原因。每个测试厂商都有一些测试平台，不仅这些不同公司生产的测试平台之间不兼容，而且本公司内平台之间也不兼容。正是由于这些不兼容性，每个测试者都需要自己特殊的硬件和软件，而这些硬件和软件不能为其他测试者所使用。因为传统测试架构的专用性，特定的测试者必须将所有的硬件和软件用于固定的配置上。为了测试一个集成电路，测试者需要用一些或全部能力去开发出特有的测试程序来限定测试数据、信号、波形以及电流和电压电平，并收集测试的装置(DUT)的反馈来确定DUT是通过还是失败。为了提高测试系统的灵活性并降低成本，在测试集成电路时可以把来自多方的测试模块连接起来使用。然而，因为各个厂商的测试模块的硬件和软件的都具有特殊性和专用性，到目前为止插入和使用多家厂商的测试模块是困难的或不可能的。为了适应这种需要，已经开发出了一种开放架构的测试系统，这个系统允许即插即用不同厂商的不同模块。根据待侧装置和测试模块的数量和类型的不同，可重新配置和伸缩这个开放架构测试系统。图1表示一个开放架构测试系统100的总体结构。图1中，模块102可以是例如为数字引脚卡和模拟卡的功能单元、装置电源(DPS)或者例如为波形产生器的仪器。可以通过含有转换矩阵网络106的模块连接元件(module connection enabler)104与模块102实现物理连接。转换矩阵网络106可以包括逻辑、踪迹和引脚。系统控制器108作为典型的使用者交互作用点。系统控制器108提供通路(gateway)给站点控制器110并使站点控制器110在多站点/多DUT环境中下同步化。系统控制器108和多个站点控制器110可以运行于主从配置中。系统控制器108控制着整个系统操作并决定了具体的站点控制器110应该执行的功能。每一个站点控制器110本身足够测试DUT 112。站点控制器110控制和监视测试站点114中各种模块102的操作。测试站点114是服务于单个DUT 112的测试的模块102的集合。一个站点控制器110可以控制一个或多个测试站点114。整个平台包括提供接口的硬件和软件框架，通过这些接口各种硬件和软件得以使用。该架构是具有模块控制软件和通信库的模块化系统，该通信库允许模块与模块之间，站点控制器与模块之间，站点控制器与站点控制器之间，以及系统控制器与站点控制器之间的通信。该开放架构测试系统允许不同卖方的硬件和软件得以开发，鉴定并可靠地集成到测试系统。该开放架构测试系统允许以即插即用方式的使用测试模块。每个测试模块可以由不同卖方的另一个测试模块替代。仅有的限定是每一个测试模块必须遵循集成框架的接口需要。因此，卖方硬件可以是任何的功能单元，例如数字引脚卡、模拟卡、装置电源(DPS)等。因为在一个测试站点中模块的时间选择和交互作用可能对于执行精确DUT测试是非常关键的，所以需要提供测试相应的DUT的模块的同步性。
技术实现思路
本专利技术在于使执行射频(RF)和/或混合信号/模拟测试的测试站点的一组测试头模块在安装到一个开发架构测试系统的测试头时实现同步化。来自不同厂商的模块能被用于测试站点中，只要这些模块能够符合特定的例如连接器类型、连接器的插脚引线、引脚的等级以及类似方面的规格。特别是，本专利技术的实施例能够发送来自数字模块的事件触发器到模拟同步(ASYNC)模块，选择性的将它们分配到模拟/混合信号模块。当有事将要发生时，作为模式上的一个时点的一个事件发生，该触发器可以激发一个模拟/混合信号模块执行某种操作。例如，当用数模转换器(DAC)测试一个DUT时，数字模块可以产生等同于正弦波的数字模式，并且用于该DUT的DAC可以复制相应的正弦波。然后该正弦波可以反馈到模拟/混合信号模块上的数字转换器，当该正弦波可被捕获时来自数字模块的触发器可以用来识别模拟/混合信号模块，其可以包括一些时间设置和滤波延迟。ASYNC模块也可以接收来自模拟/混合信号模块的触发器信号，并选择性的将它们分配返回到数字模块。在继续之前，根据来自该模拟/混合信号模块的触发器指示，通过设定程序使该数字模块等待模拟/混合信号模块完成一个操作。ASYNC模块也可以接收来自模拟/混合信号模块的触发器信号，并选择性的将它们分配到其它模拟/混合信号模块，开始以一个较佳顺序操作模拟/混合信号模块。因为本专利技术的实施例能够使数字和模拟/混合信号模块在模式控制下同步化，因此跟来自站点控制器的同步化相比较，该同步化是非常精确的而且是可重复的。附图说明图1为一个开放架构测试系统的示范图。图2为本专利技术实施例的用于开放架构测试系统的系统同步示范图。图3为本专利技术实施例的ASYNC模块的示范图。具体实施例方式在下面的较佳实施例的说明中，作为说明的一部分的附图作为参照，其以阐示本专利技术可被实施的特别实施例的方式进行说明。可以理解的是在不脱离本专利技术较佳实施方式的范围内可以利用其它实施方式并且可以进行结构改变。概述 本专利技术在于使执行射频(RF)和/或混合信号/模拟测试的测试站点的一组测试头模块在安装到一个开发架构测试系统的测试头时实现同步化。来自不同厂商的模块能被用于测试站点中，只要这些模块能够符合特定的例如连接器特别是，本专利技术的实施例能够将来自数字模块的事件触发器信号发送到ASYNC模块，选择性的将它们分配到模拟/混合信号模块。当将要发生什么时作为该模式上的一个时点的一个事件发生时，该触发器可以激发一个模拟/混合信号模块执行某种操作。例如，当用一个数模转换器(DAC)测试一个DUT时，数字模块可以产生正弦波方程的数字模式，并且用于该DUT的DAC可以复制相应的正弦波。该正弦波然后可以反馈到模拟/混合信号模块上的数字转换器，并且当该正弦波可被捕获时来自数字模块的触发器可以用来识别模拟/混合信号模块，其可以包括一些时间设置和滤波延迟。ASYNC模块也可以接收来自模拟/混合信号模块的触发器信号，并选择性的将它们分配返回到数字模块。在继续之前，根据来自该模拟/混合信号模块的触发器指示，通过设定程序使该数字模块等待模拟/混合信号模块完成一个操作。ASYNC模块也可以接收来自模拟/混合信号模块的触发器信号，并选择性的将它们分配到其它模拟/混合信号模块，开始以一个较佳顺序操作模拟/混合信号模块。因为本专利技术的实施例能够使数字和模拟/混合信号模块在模式控制下同步化，因此跟来自站点控制器的同步化相比较，该同步化是非常精确的而且是可重复的。系统同步化 图2为根据本专利技术实施例的开放架构测试系统200同步化示范图。图2中开放架构测试系统同步化能够使同一测试站点的数字模块和模拟/混合信号模块同步化。数字和LSYNC模块 图2的测试系统200可以包括数字模块202和逻辑同步(LSYNC)模块212。LSYNC模块212实质上是没有引脚电子元件的数字模块202(例如驱动器和比较器)。数字模块202和LSYNC模块212在模式控制下操作(即它们依照存储在它们的存储器的模式进行操作)以产生一序列输出信号或它们的引脚上的触发器信号。基于存储在数字模块202和LSYNC模块212本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种在测试系统中使一个或多个模拟／混合信号模块与一个或多个数字模块同步化的装置，其特征是包括：用于接收触发控制信号并依照触发控制信号进行设置选择性地发送触发信号到特定的模拟／混合信号模块的触发矩阵；其中触发信号通过数字模块在模式控制下产生或者从模拟／混合信号模块产生；以及其中模拟／混合信号模块接收到触发信号时执行特定的操作。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...
【专利技术属性】
技术研发人员：艾利克霸尔库许尼克，稻叶健司，三浦稔幸，
申请(专利权)人：爱德万测试株式会社，
类型：发明
国别省市：JP[日本]
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