A particle zeta potential measurement device based on symmetrical electric field, including electrophoresis voltage source, U type transparent tube sample pool, optical coherence module, photoelectric signal processing module, data processor; cathode electrophoresis voltage source in U type transparent tube left in the right end of the negative voltage source in the electrophoresis of U type transparent tube the internal; photoelectric signal processing module comprises a photoelectric detector and autocorrelation module, the number of photoelectric detector and autocorrelation module is two, the input power output end of the photoelectric detector and the first autocorrelation module are connected, the input power output terminal second of photoelectric detector and second autocorrelation module connection; input data processor is respectively connected with the first autocorrelation module, second autocorrelation module is electrically connected with the output end of the optical module comprises a laser coherent; Light source and optical frequency shifter. The invention can eliminate the spectral components introduced by the stray light and the electric noise, and improve the accuracy and stability of the Zeta potential measurement.
【技术实现步骤摘要】
一种基于对称电场的颗粒zeta电位测量方法及装置
本专利技术涉及颗粒溶液Zeta电位测量
,具体涉及一种基于对称电场的颗粒zeta电位测量方法及装置。
技术介绍
Zeta电位又叫电动电位,它是表征胶体颗粒分散系稳定性的重要指标,是对颗粒之间相互排斥或吸引力的强度的度量。当Zeta电位绝对值小于30mV时,溶液体系稳定性差,胶体颗粒溶液将越倾向于凝结或团聚,即吸引力超过了排斥力,分散被破坏而发生凝结或凝聚。当Zeta电位绝对值大于30mV时,溶液体系越稳定,表现为胶体颗粒可以趋向于均匀且稳定地溶解或分散在溶剂中。因此,它在水泥、油漆、粘结剂、药品、化妆品和食品制作、纸张制造和污水处理等众多行业中,是必不可少的重要测量参数。在测量技术方面,常用的方法有显微镜法和电泳法光散射法(ELS)两种。后者是被国际标准化组织(ISO)推荐为Zeta电位的标准测量方法之一,也是最适合于仪用的测量方法。ELS技术的主要原理是:让具有Zeta电位的胶体颗粒在恒定电场中会产生电泳运动,当电泳运动的颗粒经过一片入射激光的干涉区域时,因为条纹是明暗交替变化的,散射光强将会随明暗条纹的变化产生幅度上的周期变化,这个周期变化的信号与颗粒电泳速度相关。当信号的周期越小(频率越高),表明颗粒通过干涉区域的时间越短,颗粒的电泳速度会越快,Zeta电位也就越强。反之则Zeta电位越弱。因此通过传统的傅立叶变换提取出散射光中周期变化的频谱信息,将可以得到颗粒的电泳速度,进而根据Smoluchowski和Henry公式就能够计算得到胶体颗粒的Zeta电位的数值。但是上述的测量过程中往往会存在以 ...
【技术保护点】
一种基于对称电场的颗粒zeta电位测量方法,其特征在于包括:步骤1.设有第一样品池和第二样品池,在第一样品池中设有第一探测点,在第二样品池中设有第二探测点,向第一样品池和第二样品池通入电泳电压,使得第一探测点和第二探测点的电场强度大小相同、且方向相反;步骤2.通过激光光源产生属性相同的第一光束和第二光束,基于前向小角度散射光探测的原理,第一光束以一定角度入射到第一探测点后得到第一散射光,第二光束以相同角度入射第二探测点后得到第二散射光;步骤3.将第一光束的分束经过光学频移器移频后与第一散射光相干涉形成第一干涉光,通过第一光电探测器获得第一干涉光的一组光子数的时间序列信号,将第二光束的分束经过光学频移器移频后与第二散射光相干涉形成第二干涉光,通过第二光电探测器获得第二干涉光的一组光子数的时间序列信号;步骤4.对第一干涉光的一组光子数的时间序列信号进行自相关运算得到第一组时域信号,对第二干涉光的一组光子数的时间序列信号进行自相关运算得到第二组时域信号;步骤5.对第一组时域信号和第二组时域信号分别进行傅里叶变换,从而得到第一组频域信号和第二组频域信号,将两组频域信号进行差分处理,并获得两个探 ...
【技术特征摘要】
1.一种基于对称电场的颗粒zeta电位测量方法,其特征在于包括:步骤1.设有第一样品池和第二样品池,在第一样品池中设有第一探测点,在第二样品池中设有第二探测点,向第一样品池和第二样品池通入电泳电压,使得第一探测点和第二探测点的电场强度大小相同、且方向相反;步骤2.通过激光光源产生属性相同的第一光束和第二光束,基于前向小角度散射光探测的原理,第一光束以一定角度入射到第一探测点后得到第一散射光,第二光束以相同角度入射第二探测点后得到第二散射光;步骤3.将第一光束的分束经过光学频移器移频后与第一散射光相干涉形成第一干涉光,通过第一光电探测器获得第一干涉光的一组光子数的时间序列信号,将第二光束的分束经过光学频移器移频后与第二散射光相干涉形成第二干涉光,通过第二光电探测器获得第二干涉光的一组光子数的时间序列信号;步骤4.对第一干涉光的一组光子数的时间序列信号进行自相关运算得到第一组时域信号,对第二干涉光的一组光子数的时间序列信号进行自相关运算得到第二组时域信号;步骤5.对第一组时域信号和第二组时域信号分别进行傅里叶变换,从而得到第一组频域信号和第二组频域信号,将两组频域信号进行差分处理,并获得两个探测点之间多普勒频移量Δf,再将Δf代入到式(1)得到颗粒的zeta电位ξ:其中ξ是Zeta电位,η是溶液的粘滞系数,λ0是入射的激光光波长,ε是溶液的介电常数,E是电场强度,n是溶液折射率,f(kr)是亨利函数,r为球形颗粒的半径,k为常数,θ′是入射光与散射光夹角。2.根据权利要求1所述的基于对称电场的颗粒zeta电位测量方法,其特征在于:所述第一样品池和第二样品池设在同一U型透明管中,U型透明管的左竖段为第一样品池、右竖段为第二样品池,U型透明管的左端内设有电泳电压的正极、右端内设有电泳电压的负极,第一探测点设在U型透明管的左竖段内、且与正极相距d的位置,第二探测点设在U型透明管的右竖段内、且与负极相距d的位置,此时第一探测点和第二探测点的电场强度大小...
【专利技术属性】
技术研发人员:邱健,韩鹏,骆开庆,彭力,
申请(专利权)人:华南师范大学,
类型:发明
国别省市:广东,44
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