测试装置、配置方法、及设备接口制造方法及图纸

本发明专利技术是关于一种测试装置，其包括：总线开关部，可以对将所输入的信号应从哪一个输出端输出来进行切换；控制部，将与测试程序相对应的多个控制信号输入到总线开关部，且对将各控制信号应从哪一个输出端输出来进行控制；多个插槽，根据控制信号而生成向电子设备输入的信号，且设置着接收电子设备所输出的输出信号的测试模块；以及设备接口，可以对将多个插槽应与哪一个连接器连接来进行切换，且上述测试装置通过各连接器，将从设置着诊断用测试模块的插槽所接收的诊断用信号依次供给到各测试模块，检测出通过各连接器的诊断用信号被供给到哪一个测试模块，且检测各输出端与哪一个连接器连接。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术是关于一种对电子设备进行测试的测试装置(test device)、用于该测试装置的设备接口(device interface)、及该测试装置的配置(configuration)方法。而且，本专利技术与下述的美国专利申请案相关联。关于利用文献的参照而允许并入的指定国，将参照下述申请案所记载的内容而并入本申请案中，以作为本申请案的记载的一部分。申请案编号10/923,634申请日2004年8月20日
技术介绍
先前，作为对半导体电路等电子设备进行测试的测试装置的构成，众所周知的有如下构成，其包括设备接口，载置着电子设备；测试模块(testmodule)，通过设备接口而与电子设备连接，且进行输入到电子设备的输入信号的生成等；以及控制部，供给用以控制上述测试模块的信号。测试模块设置在插槽(slot)中，该插槽设置在设备接口与控制部之间。通常，上述构成中，在设备接口中与电子设备连接的连接器、其与各插槽的连接是固定的，用户无法自由设定。因此，有时无法与用户的使用目的相对应，从可伸缩性(scalability)的观点而言较差。针对上述构成，为了提高可伸缩性，本专利技术提议如下构成，其可本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测试装置，其对电子设备进行测试，其特征在于包括：总线开关部，具有多个输出端，且可以对将所输入的信号从上述哪一个输出端输出进行切换；控制部，将多个控制信号输入到上述总线开关部，且对将上述各控制信号从上述哪一个输出端输出进行控制，其中上述多个控制信号与用以对上述电子设备进行测试的测试程序相对应；多个插槽，与上述多个输出端相对应而设置，并根据上述控制信号而生成应输入到上述电子设备的输入信号，且设置着接收上述电子设备所输出的输出信号的测试模块；以及设备接口，具有应与上述电子设备连接的多个连接器，且可以对将上述多个插槽应与上述哪一个连接器连接进行切换，且上述设备接口进而包括诊断用解码器，该诊断用解码...

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：鹫津信栄，渋谷敦章，
申请(专利权)人：爱德万测试株式会社，
类型：发明
国别省市：JP[日本]