测试装置制造方法及图纸

技术编号:2630917 阅读:343 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术提供一种测试装置,具有:向电子设备施加测试图案的测试头;设置了多个机架侧连接器并通过机架侧连接器将控制信号提供给测试头的主机机架;将机架侧连接器和测试头进行光连接并将控制信号传输给测试头的电缆单元;其中电缆单元具有:用于传输控制信号的多个光纤电缆;设置在光纤电缆端部并与多个机架侧连接器对应而设置的多个单元侧连接器;对主机机架固定电缆单元的单元固定部;能够相对于对应的机架侧连接器各自独立插拔地保持各个单元侧连接器的连接器保持部。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及一种测试电子设备的测试装置。尤其涉及一种使用光纤电缆来传输信号的测试装置。对于承认根据文献参照而编入的指定国而言,将下述日本国申请所记载的内容通过参照编入到本申请中,作为本申请记载的一部分。特愿2004-347860申请日2004年11月30日
技术介绍
伴随着近年来的电子设备高速化,在测试电子设备的测试装置中,也被要求动作的高速化。作为进行高速动作的测试装置,研究出了使用光纤电缆将主机机架和测试头进行连接的装置。此时,需要使用非常多的光纤电缆来连接主机机架和测试头。另外,在使用光纤电缆的情况下,需要在各个光纤电缆的端部上设置连接器来连接该连接器和主机机架的连接器,从而连接主机机架和测试头。例如,主机机架具有多个测试板,从而需要在各个测试板中设置多个连接器。目前没有发现相关联的专利文献等,因此省略其记载。为了连接这种多个连接器,已知有在每个测试板上同时连接应该连接的多个光纤电缆的连接器的电缆单元。但是,用于连接光纤电缆的连接器的光出射面,由于接触等而破损的可能性高,当在每个测试板上想同时连接多个连接器时,有一部分连接器的光出射面因接触到测试板等而破损。由此,在欲使用光本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测试装置,是测试电子设备的测试装置,其特征在于所述测试装置包括:测试头,其向前述电子设备施加测试图案;主机机架,其设置了多个机架侧连接器,并通过前述机架侧连接器将控制信号提供给前述测试头;电缆单元,其将前述机架侧连接器和前述测试头进行光连接,将前述控制信号传输给前述测试头,前述电缆单元,包括:多个光纤电缆,用于传输前述控制信号;多个单元侧连接器,其设置在前述光纤电缆的端部,并与前述多个机架侧连接器对应而设置;单元固定部,其对前述主机机架固定前述电缆单元;连接器保持部,相对于所对应的前述机架侧连接器,各自独立并可插拔地保持各个前述单元侧连接器。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员:小野淳冈安俊幸藤本明博柴田正志
申请(专利权)人:爱德万测试株式会社
类型:发明
国别省市:JP[日本]

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