一种降低LETID的P型晶体硅太阳能电池的制备方法技术

技术编号:26306570 阅读:31 留言:0更新日期:2020-11-10 20:06
本发明专利技术提供一种降低LETID的P型晶体硅太阳能电池的制备方法,包括对P型单晶硅片的正面制绒,和形成磷掺杂面,制备选择性发射极;且述P型单晶硅片采用背靠背的方式放置,在背面沉积AlO

【技术实现步骤摘要】
一种降低LETID的P型晶体硅太阳能电池的制备方法
本专利技术涉及太阳能电池领域,特别涉及一种降低LETID的P型晶体硅太阳能电池的制备方法。
技术介绍
常规的化石燃料日益消耗殆尽,在所有的可持续能源中,太阳能无疑是一种最清洁、最普遍和最有潜力的替代能源。目前,在所有的太阳能电池中,硅太阳能电池相比其他类型的太阳能电池,有着优异的电学性能和机械性能,在光伏领域占据着重要的地位。因此,研发高性能的硅太阳能电池已经成为各国光伏企业的主要研究方向。近年来,热辅助光致衰减(LightandelevatedTemperatureInducedDegradation,LETID)越来越受到光伏行业的重视。在光和热综合作用下,晶体硅电池封装组件的输出功率明显下降,影响光伏电站的发电量。为了保证光伏电站的发电能力,势必要减少晶体硅电池的热辅助光致衰减。晶体硅电池中氢元素过量的情况下,电池中氢元素的浓度越高,晶体硅光伏电池的热辅助光致衰减越明显。而现有技术中,晶体硅电池中的氢元素主要主要来自于SiNx层的制备工序,SiNx层是利用等离子增强化学气本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种降低LETID的P型晶体硅太阳能电池的制备方法,其特征在于,所述方法包括以下步骤:/nS1、对P型单晶硅片的正面制绒,在所述正面形成陷光绒面;/nS2、在所述P型单晶硅片的正面进行磷扩散形成磷掺杂面,形成PN结作为选择性发射极;/nS3、清洗所述P型单晶硅片的背面的氧化层,并利用强酸或强碱溶液抛光所述背面,所述背面为电池的非磷掺杂面;/nS4、对所述P型单晶硅片的背面进行氧化,形成SiO

【技术特征摘要】
1.一种降低LETID的P型晶体硅太阳能电池的制备方法,其特征在于,所述方法包括以下步骤:
S1、对P型单晶硅片的正面制绒,在所述正面形成陷光绒面;
S2、在所述P型单晶硅片的正面进行磷扩散形成磷掺杂面,形成PN结作为选择性发射极;
S3、清洗所述P型单晶硅片的背面的氧化层,并利用强酸或强碱溶液抛光所述背面,所述背面为电池的非磷掺杂面;
S4、对所述P型单晶硅片的背面进行氧化,形成SiO2氧化层;
S6、所述P型单晶硅片采用背靠背的方式放置,在所述背面沉积AlOx层;
S7、在所述正面和背面沉积SiNx层;
S8、对所述P型单晶硅片进行退火工艺;
S9、在所述背面开槽;
S10、在所述正面和背面形成金属电极。


2.根据权利要求1所述的降低LETID的P型晶体硅太阳能电池的制备方法,其特征在于,所述步骤S8中的退火工艺采用管式退火炉,退火温度500-800摄氏度,退火时间1-30分钟。


3.根据权利要求1所述的降低LETID的P型晶体硅太阳能电池的制备方法,其特征在于,所述S1之前还包括去除硅片表面杂质及机械损伤。


4.根据权利要求1所述的降低LETID的P型晶体硅太阳能电池的制备方法,其特征在于,所述P型单晶硅片包括P型硅片、P型硅片经过硼重掺后的P+硅片以及N型硅片经过硼掺杂后的P型硅...

【专利技术属性】
技术研发人员:杨智魏青竹倪志春钱洪强连维飞张树德赵保星
申请(专利权)人:苏州腾晖光伏技术有限公司
类型:发明
国别省市:江苏;32

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