一种可调释放高度的定向跌落试验设备制造技术

本申请涉及电子测试设备的领域，尤其是涉及一种可调释放高度的定向跌落试验设备，包括保护箱和控制器，保护箱内设置有沿竖直方向滑动且用于夹紧待测物的定位机构，保护箱内且位于定位机构的一侧设置有光电传感器，定位机构上设置有与光电传感器适配的挡片，定位机构、光电传感器均与控制器电连接。本申请通过改变光电传感器高度从而达到实时改变跌落实验设备释放高度的效果。

【技术实现步骤摘要】
一种可调释放高度的定向跌落试验设备
本申请涉及电子测试设备的领域，尤其是涉及一种可调释放高度的定向跌落试验设备。
技术介绍
常用的电子产品在制备完成后，均需要经过跌落试验用以测试产品的耐摔程度以及产品内部元件损坏的程度。目前的跌落试验设备是将光电传感器固定在单一高度，从而导致跌落设备释放高度固定，假设该高度不满足标准要求时，需要将光电传感器部分重新拆卸固定。针对上述中的相关技术，专利技术人认为跌落试验的高度固定，其不利于调整高度，也无法满足多种释放高度的要求。
技术实现思路
为了实时改变跌落实验设备释放高度，本申请提供一种可调释放高度的定向跌落试验设备。本申请提供的一种可调释放高度的定向跌落试验设备采用如下的技术方案：一种可调释放高度的定向跌落试验设备，包括保护箱和控制器，所述保护箱内设置有沿竖直方向滑动且用于夹紧待测物的定位机构，所述保护箱内且位于定位机构的一侧设置有升降机构，所述升降机构与控制器电连接，所述升降机构上连接有光电传感器，所述定位机构上设置有与光电传感器适配的挡片，所述定位机构本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种可调释放高度的定向跌落试验设备，其特征在于，包括保护箱(6)和控制器，所述保护箱(6)内设置有沿竖直方向滑动且用于夹紧待测物的定位机构(7)，所述保护箱(6)内且位于定位机构(7)的一侧设置有升降机构(8)，所述升降机构(8)与控制器电连接，所述升降机构(8)上连接有光电传感器(81)，所述定位机构(7)上设置有与光电传感器(81)适配的挡片(727)，所述定位机构(7)、光电传感器(81)均与控制器电连接。/n

【技术特征摘要】
1.一种可调释放高度的定向跌落试验设备，其特征在于，包括保护箱(6)和控制器，所述保护箱(6)内设置有沿竖直方向滑动且用于夹紧待测物的定位机构(7)，所述保护箱(6)内且位于定位机构(7)的一侧设置有升降机构(8)，所述升降机构(8)与控制器电连接，所述升降机构(8)上连接有光电传感器(81)，所述定位机构(7)上设置有与光电传感器(81)适配的挡片(727)，所述定位机构(7)、光电传感器(81)均与控制器电连接。


2.根据权利要求1所述的一种可调释放高度的定向跌落试验设备，其特征在于，所述升降机构(8)包括第一升降杆(82)、第一驱动组件(83)、丝杆(84)和滑块(85)，所述第一升降杆(82)连接于保护箱(6)内，所述丝杆(84)转动连接于第一升降杆(82)，所述第一驱动组件(83)连接于第一升降杆(82)顶部，所述第一驱动组件(83)与丝杆(84)顶端连接且用于驱动丝杆(84)转动，所述第一驱动组件(83)与控制器电连接，所述滑块(85)连接于丝杆(84)，所述光电传感器(81)连接于滑块(85)。


3.根据权利要求2所述的一种可调释放高度的定向跌落试验设备，其特征在于，所述第一升降杆...

【专利技术属性】
技术研发人员：章建军，叶春淼，
申请(专利权)人：深圳市鼎准电子有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44