集成电路高温老化测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术提供了一种集成电路高温老化测试装置，包括上位机、监控模块、电源管理模块、通用模块和专用模块，其中，所述上位机与监控模块连接，用于与监控模块通信；所述监控模块分别与上位机、电源管理模块连接，用于根据上位机命令执行相应的操作，并监控待测试芯片的IO信号；所述电源管理模块分别与监控模块、通用模块连接，用于通用模块的供电；所述通用模块分别与电源管理模块、专用模块连接，用于配置待测试芯片的通用电路；所述专用模块与通用模块连接，用于配置待测试芯片的必要外围电路。能够适用于多种类型的集成电路芯片进行老化试验，从而有效地节约测试成本，降低测试周期。

【技术实现步骤摘要】
集成电路高温老化测试装置
本技术涉及电子电路领域，具体涉及一种集成电路高温老化测试装置。
技术介绍
随着电子技术的发展，电子产品的集成化程度越来越高，结构越来越精细，工序越来越多，制造工艺越来越复杂，这样在制造过程中产生的缺陷可能也会随之放大。对于一个合格的电子产品，不但要求有较高的性能指标，而且还要有较高的稳定性，电子产品的稳定性取决于设计的合理性、元器件性能以及整机制造工艺等因素。目前，国内外普遍采用高温老化工艺来提高电子产品的稳定性和可靠性，通过高温老化可以使元器件的缺陷、焊接和装配等生产过程中存在的隐患提前暴露，保证出厂的产品能够经得起时间的考验。集成电路芯片在进行批量生产之前，一般都要经过老化测试以保证品质，传统的老化测试板通常为多工位老化PCB板，每个工位上设有专用芯片插座，将待测试芯片的管脚引入老化PCB板，对多个待测试芯片进行高温高压带电的老化试验。然而，被测芯片的种类繁多，其封装型式以及引脚的排列不同，故针对不同类型的被测芯片，需要订制不同的老化测试板。目前老化测试板的设计制造成本较高，带来了很高的测试成本，对本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种集成电路高温老化测试装置，其特征在于，包括上位机、监控模块、电源管理模块、通用模块和专用模块，其中，/n所述上位机与监控模块连接，用于与监控模块通信；/n所述监控模块分别与上位机、电源管理模块连接，用于根据上位机命令执行相应的操作，并监控待测试芯片的IO信号；/n所述电源管理模块分别与监控模块、通用模块连接，用于通用模块的供电；/n所述通用模块分别与电源管理模块、专用模块连接，用于配置待测试芯片的通用电路；/n所述专用模块与通用模块连接，用于配置待测试芯片的必要外围电路。/n

【技术特征摘要】
1.一种集成电路高温老化测试装置，其特征在于，包括上位机、监控模块、电源管理模块、通用模块和专用模块，其中，
所述上位机与监控模块连接，用于与监控模块通信；
所述监控模块分别与上位机、电源管理模块连接，用于根据上位机命令执行相应的操作，并监控待测试芯片的IO信号；
所述电源管理模块分别与监控模块、通用模块连接，用于通用模块的供电；
所述通用模块分别与电源管理模块、专用模块连接，用于配置待测试芯片的通用电路；
所述专用模块与通用模块连接，用于配置待测试芯片的必要外围电路。


2.如权利要求1所述的测试装置，其特征在...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈尚立，谢林庭，
申请(专利权)人：深圳市中科蓝讯科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44