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本实用新型提供了一种集成电路高温老化测试装置，包括上位机、监控模块、电源管理模块、通用模块和专用模块，其中，所述上位机与监控模块连接，用于与监控模块通信；所述监控模块分别与上位机、电源管理模块连接，用于根据上位机命令执行相应的操作，并监控待...
该专利属于深圳市中科蓝讯科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市中科蓝讯科技股份有限公司授权不得商用。

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