一种电压裕度测试装置，包括一裕度测试电路、一用于连接机箱电源的第一连接器及一用于连接待测主板的第二连接器，所述裕度测试电路包括一直流可调电源及一开关电路，所述直流可调电源通过所述开关电路与所述第二连接器中的一电源引脚相连，所述开关电路与所述第二连接器中的电源开机信号引脚相连，所述开关电路通过所述第二连接器中的电源开机信号引脚接收到待测主板的电源开机信号后导通使所述直流可调电源供电给所述第二连接器的电源引脚。所述电压裕度测试装置可方便测试电脑主板的电压裕度。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种测试装置，特别涉及一种测试电脑主板电压的测试装置。
技术介绍
电脑主板的工作电压主要包括3. 3V—SYS、 12V—SYS、 5V—SYS、 -5V—SYS、 -12V—SYS及 5V—STBY电压信号，以及PS—0N、 PWROK控制信号。这些电压与控制信号主要由机箱电源提供 ，通过24pin连接器输入到电脑主板上，作为主板的输入电源。由于机箱电源为独立配置设备，对于主板设计与生产厂商来说，其设计与生产的主板流 入市场后会遇到各种各样的机箱电源，为使机箱电源与电脑主板相匹配，需事先确定主板电 压的裕度，也就是主板电压允许的上、下限范围。
技术实现思路
鉴于以上内容，有必要提供一种可方便测试主板电压裕度的测试装置。 一种电压裕度测试装置，包括一裕度测试电路、 一用于连接机箱电源的第一连接器及一 用于连接待测主板的第二连接器，所述裕度测试电路包括一直流可调电源及一开关电路，所 述直流可调电源通过所述开关电路与所述第二连接器中的一电源引脚相连，所述开关电路与 所述第二连接器中的电源开机信号引脚相连，所述开关电路通过所述第二连接器中的电源开 机信号引脚接收到待测主板的电源开机信号后导通使所述直流可调电源供电给所述第二连接 器的电源引脚。相较现有技术，所述电压裕度测试装置应用所述直流可调电源直接连接至所述待测主板 的电源电路上，并通过调节所述直流可调电源的电压调节开关即可方便、快捷的得出所述待 测主板的电压裕度。附图说明下面参考附图结合具体实施方式对本专利技术作进一步的说明。图l为本专利技术电压裕度测试装置的较佳实施方式电路原理图。具体实施例方式请参考图l，本专利技术电压裕度测试装置用于测试电脑主板的电压裕度，其较佳实施方式 包括一3. 3V裕度测试电路10、 一5V裕度测试电路20、 一12V裕度测试电路30、 一第一连接器 (图未示)及一第二连接器40。所述第一连接器用于连接电源机箱的电源连接器，所述第二连接器40用于连接待测主板的电源连接器。所述第一连接器与待测主板的电源连接器相同， 所述第二连接器40与所述电源机箱的电源连接器相同，即所述电源机箱的电源连接器可直接 插接到待测主板的电源连接器上给待测主板供电。所述第一连接器与第二连接器40中除 3.3V、 5V及12V的电源引脚未对应连接以外，其它引脚均对应连接(图未示)。所述3. 3V裕度测试电路10用于测试待测主板3. 3V电压裕度，所述5V裕度测试电路20用于 测试待测主板5V电压裕度，所述12V裕度测试电路30用于测试待测主板12V电压裕度。如果待 测主板还有其它规格输入电压需要测试，可通过增加对应规格输入电压的裕度测试电路即可 实现，本实施方式仅以3.3V、 5V及12V三种规格的输入电压裕度的测试加以举例说明。所述3. 3V裕度测试电路10包括一直流可调电源12及一开关电路14，所述开关电路14包括 一直流电源VCC1、 一直流电源VDD1、两上拉电阻R1及R2、两电解电容C1及C2、两瓷片电容 C3及C4、 一P沟道场效应管Q1、及三个N沟道场效应管Q2、 Q3及Q4。所述场效应管Q1的栅极与 所述第二连接器40的电源开机信号弓1脚PS—ON相连(电源开机信号弓1脚PS—ON为低电平有效) ，漏极接地，源极与所述场效应管Q2的栅极相连。所述场效应管Q2的栅极还通过所述上拉电 阻R1与所述直流电源VCC1相连，源极接地，漏极分别与所述场效应管Q3及Q4的栅极相连。所 述场效应管Q3的栅极还通过所述上拉电阻R2与所述直流电源VDD1相连，源极与所述第二连接 器40的3. 3V电源引脚相连，漏极与所述直流可调电源12相连。所述场效应管Q4的源极与所述 第二连接器40的3. 3V电源引脚相连，漏极与所述直流可调电源12相连。所述电解电容C1及瓷 片电容C3均连接于所述直流可调电源12与地之间，所述电解电容C2及瓷片电容C4均连接于所 述场效应管Q3的源极与地之间。其中，所述电解电容C1及C2用于低频滤波，所述瓷片电容C3 及C4用于高频滤波，所述直流电源VDD1的电压大于3. 3V。所述直流电源VCC1及VDD1的电压可 以是外接电源，也可以是所述第一连接器接收到的所述电源机箱的电源，设计人员可根据实 际情况进行选择。所述5V裕度测试电路20包括一直流可调电源22及一开关电路24，所述开关电路24与所述 开关电路14内部电路包括的元件及连接关系均相同，故不再赘述。其中，所述开关电路24中 对应所述开关电路l 4的场效应管Q1的场效应管的栅极与所述第二连接器40的电源开机信号弓1 脚PS—ON相连，对应所述开关电路14的场效应管Q3及Q4的场效应管的源极均与所述第二连接 器40的5V电源引脚相连。所述开关电路24中的直流电源VDD2的电压大于5V。所述12V裕度测试电路30包括一直流可调电源32及一开关电路34，所述开关电路34与所 述开关电路14内部电路包括的元件及连接关系均相同，故不再赘述。其中，所述开关电路 34中对应所述开关电路14的场效应管Q1的场效应管的栅极与所述第二连接器40的电源开机信号引脚PS—0N相连，对应所述开关电路14的场效应管Q3及Q4的场效应管的源极均与所述第二 连接器40的12V电源引脚相连。所述开关电路34中的直流电源VDD3的电压大于12V，本实施方 式中所述开关电路14、 24及34中的直流电源VDD1、 VDD2及VDD3的电压可取15V，直流电源 VCC1、 VCC2及VCC3的电压可取5V。测试前，将所述第一连接器与所述电源机箱的电源连接器相连，将所述第二连接器40与 所述待测主板的电源连接器相连，调节所述直流可调电源12的输出电压为3.3V，调节所述直 流可调电源22的输出电压为5V，并调节所述直流可调电源32的输出电压为12V。按下所述待 测主板的开机按钮后，则此时所述第二连接器40的电源开机信号引脚PS—ON变为低电平，对 于所述3. 3V裕度测试电路10来说，所述场效应管Q1导通，所述场效应管Q1的源极变为低电平 ，进而所述场效应管Q2截止，所述场效应管Q2的漏极变为高电平，进而所述场效应管Q3及 Q4均导通，以使所述直流可调电源12与所述第二连接器40上的3. 3V电源引脚电性相连，即所 述直流可调电源12直接给待测主板上的3. 3V电源电路供电，此时缓慢调节所述直流可调电源 12的电压调节开关，如果向低的方向调整到某一电压(如2.67V)时，待测主板由正常工作 转为不工作，那么该点电压为待测主板3.3V电压裕度的下限；如果向高的方向调整到某一电 压(如3.63V)时，待测主板由正常工作转为不工作，那么该点电压为待测主板3. 3V电压裕 度的上限，从而可得出的待测主板3. 3V电压裕度(如2.67-3.63V)。待测主板3. 3V电压裕度测试完成后，使用相同的方法分别调节所述直流可调电源22及 32的电压调节开关即可测试出待测主板5V及12V电压裕度，故应用本专利技术电压裕度测试装置 来测试电脑主板的电压裕度将十分方便、快捷。权利要求1.一种电压裕度测试装置，包括一裕度测试电路、一用于连接机箱电源的第一连接器及一用于连接待测主板的第二连接器，所述裕度测试电路包括一直流可调电源及一开关本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种电压裕度测试装置，包括一裕度测试电路、一用于连接机箱电源的第一连接器及一用于连接待测主板的第二连接器，所述裕度测试电路包括一直流可调电源及一开关电路，所述直流可调电源通过所述开关电路与所述第二连接器中的一电源引脚相连，所述开关电路与所述第二连接器中的电源开机信号引脚相连，所述开关电路通过所述第二连接器中的电源开机信号引脚接收到待测主板的电源开机信号后导通使所述直流可调电源供电给所述第二连接器的电源引脚。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：陈樱，熊金良，
申请(专利权)人：鸿富锦精密工业深圳有限公司，鸿海精密工业股份有限公司，
类型：发明
国别省市：94[中国|深圳]
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