提高标准单元库性能的测量装置制造方法及图纸

本文披露了一种测量装置，当在不同的测试元件组（ＴＥＧｓ）中使用环形振荡器来检验标准单元库的性能时，该测量装置用来提高标准单元库中的标准单元的性能。使用一种内置电路通过ＴＥＧ来测量并检验标准单元库的性能。因此，可以有效地提高标准单元库中的标准单元的性能。特别地，不仅可以消除测量者的人为误差或设备自身的误差，而且还可以更方便地，更快速地和更精确地执行测量。此外，可以节约测量过程中所需的高性能设备或人力和时间。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及通过测i式元4牛纟且(test element group, TEG )来才企马全 标准单元库的性能，更特别地，涉及一种测量装置，当在不同的TEG 中4吏用环形振荡器来4企-验标准单元库的性能时该测量装置用来揭_ 高标准单元库中的标准单元的性能。
技术介绍
图1是示出了传统环形振荡器的结构的框图。通常，环形才展荡器由多个延时链(delay chains) 102到103组 成。如图1中所示， 一个延时链102具有与非门101和一连串反相 器IV-1到IV-N。也就是说，延时链102包括与非门101，第一个反 相器IV-1和第二个反相器IV-2，其中第一个反相器IV-1具有与与 非门101的输出相连的输入，而第二个反相器IV-2具有与第一个反 相器IV-1的输出相连的输入。以这种方式，反相器IV-1到IV-N被 顺序相连直到第N个反相器IV-N, 乂人而构成链状结构。第N个反相器IV-N的输出被输出到外部的同时被反馈给与非 门101的l叙入。此外，设置了延时链103,其为任意标准单元类型。具有上述结构的环形振荡器输出脉沖104A和104B,每个输出 脉冲均具有一定的周期本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于提高标准单元库性能的测量装置，包括：　多个环形振荡器块，响应于外部输入的使能信号而被启动，用于输出测量结果值；　解码器，其用于选择性地输出来自所述环形振荡器块的一个或多个所述测量结果值；以及　统计辅助器，其用于在预定的周期接收来自所述解码器的输出值并输出所接收的值的最大值，最小值和平均值。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：金成轩，申又澈，赵敬淳，
申请(专利权)人：东部高科股份有限公司，
类型：发明
国别省市：KR[韩国]