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本文披露了一种测量装置，当在不同的测试元件组（ＴＥＧｓ）中使用环形振荡器来检验标准单元库的性能时，该测量装置用来提高标准单元库中的标准单元的性能。使用一种内置电路通过ＴＥＧ来测量并检验标准单元库的性能。因此，可以有效地提高标准单元库中的标准...
该专利属于东部高科股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过东部高科股份有限公司授权不得商用。

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