掉电时校验数据的方法、装置、存储介质及电子设备制造方法及图纸

本发明专利技术公开一种掉电时校验数据的方法、装置、存储介质及电子设备，通过构建包含预设参数的写命令，并根据构建的写命令对待测试的硬盘盘片进行数据写入，并对写入成功的写命令对应的预设参数进行存储，预设参数包括起始逻辑区块地址、数据写入地址范围以及数据模型，在数据写入过程中，对待测试的硬盘盘片进行掉电并重新上电，重新上电后，根据存储的写命令对应的预设参数从待测试的硬盘盘片中读取数据并进行数据校验，根据验证结果能够统计出在掉电那一刻，哪些数据是写入成功，哪些数据是写入失败的，从而能够准确地验证硬盘盘片在意外掉电情况下的数据完整性，同时根据验证结果也能够验证硬盘盘片对数据重构的可靠性。

【技术实现步骤摘要】
掉电时校验数据的方法、装置、存储介质及电子设备
本专利技术涉及硬盘测试领域，尤其涉及一种掉电时校验数据的方法、装置、存储介质及电子设备。
技术介绍
在SSD(SolidStateDisk，固态硬盘)盘片测试过程中，会做针对性的可靠性测试，其中，异常电源丢失验证盘片的可靠性是其中之一。大多数硬盘的一致性验证仅仅对盘片处于正常状态、电源稳定的情况下先写后读的方式验证数据的完整性。但是，固态硬盘在实际使用过程中，难免会遇到正在读写IO的过程中，盘片电源突然发生闪断或完全掉电的情况，此时就需要SSD在这种极端情况下对盘上数据做到保护。由于SSD固件架构和Cache特性，此时一部分数据已写入后端的NandFlash，另一部分数据在Cache中或正在处理过程中，未写入NandFlash。那么对于SSD宣称不支持掉电保护的，需要保证已写入NandFlash的数据的一致性，对于SSD宣称支持掉电保护的，需要保证所有主机收到成功的命令的数据都应该保持一致。然而，现有技术中鲜少有对于异常电源下固态硬盘的测试。
技术实现思路
本专利技术所要解决的本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种掉电时校验数据的方法，其特征在于，包括步骤：/n对待测试的硬盘盘片独立上电，当接收到所述待测试的硬盘盘片被成功识别的指令时，构建包含预设参数的写命令，所述预设参数包括起始逻辑区块地址、数据写入地址范围以及数据模型；/n根据所述写命令对所述待测试的硬盘盘片进行数据写入，并对写入成功的写命令对应的预设参数进行存储；/n在数据写入过程中，对所述待测试的硬盘盘片单独掉电；/n对所述待测试的硬盘盘片重新独立上电，当接收到所述待测试的硬盘盘片被成功识别的指令时，根据所述存储的写命令对应的预设参数从所述待测试的硬盘盘片读取数据并进行数据校验。/n

【技术特征摘要】
1.一种掉电时校验数据的方法，其特征在于，包括步骤：
对待测试的硬盘盘片独立上电，当接收到所述待测试的硬盘盘片被成功识别的指令时，构建包含预设参数的写命令，所述预设参数包括起始逻辑区块地址、数据写入地址范围以及数据模型；
根据所述写命令对所述待测试的硬盘盘片进行数据写入，并对写入成功的写命令对应的预设参数进行存储；
在数据写入过程中，对所述待测试的硬盘盘片单独掉电；
对所述待测试的硬盘盘片重新独立上电，当接收到所述待测试的硬盘盘片被成功识别的指令时，根据所述存储的写命令对应的预设参数从所述待测试的硬盘盘片读取数据并进行数据校验。


2.根据权利要求1所述的一种掉电时校验数据的方法，其特征在于，所述写命令为IO写命令，并且通过并发执行所述IO写命令进行数据写入。


3.根据权利要求1所述的一种掉电时校验数据的方法，其特征在于，对所述待测试的硬盘盘片单独掉电和重新独立上电之间间隔预设时长，所述预设时长可动态设置。


4.根据权利要求1所述的一种掉电时校验数据的方法，其特征在于，所述在数据写入过程中，对所述待测试的硬盘盘片单独掉电包括：
在数据写入过程中，判断所述待测试的硬盘盘片是否支持掉电保护，若是，则对所述待测试的硬盘盘片单独掉电；
若否，则在对所述待测试的硬盘盘片单独掉电之前执行：
对所述待测试的硬盘盘片的cache进行刷盘，刷盘后对写入成功的写命令对应的预设参数不进行存储。


5.根据权利要求1至4中任一项所述的一种掉电时校验数据的方法，其特征在于，根据所述写命令对所述待测试的硬盘盘片进行数据写入包括：
根据所述写命令和预设的扇区的数据格式对所述待测试的硬盘盘片对应的扇区进行数据写入；
所述根据所述存储的写命令对应的预设参数从所述待测试的硬盘盘片读取数据并进行数据校验包括：
根据所述存储的写命令对应的预设参数和所述预设的...

【专利技术属性】
技术研发人员：孙成思，孙日欣，李振华，李家敏，
申请(专利权)人：深圳佰维存储科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44