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本发明公开一种掉电时校验数据的方法、装置、存储介质及电子设备，通过构建包含预设参数的写命令，并根据构建的写命令对待测试的硬盘盘片进行数据写入，并对写入成功的写命令对应的预设参数进行存储，预设参数包括起始逻辑区块地址、数据写入地址范围以及数据...
该专利属于深圳佰维存储科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳佰维存储科技股份有限公司授权不得商用。

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