一种高性能PIV测试用示踪粒子的制备方法技术

本发明专利技术公开了一种以粉煤灰空心微珠为基材制备高性能ＰＩＶ测试用示踪粒子的方法，该方法首先从粉煤灰中精选出空心微珠，然后对其表面进行金属化处理，在其表面包覆一金属层，使之具有合适的密度及高的光散射效率，最后对金属化处理后的粉煤灰空心微珠进行表面改性处理，在其表面包覆一有机物层，经干燥处理制得ＰＩＶ测试用的示踪粒子。该方法具有工艺简单、稳定可靠、成本低等优点，采用该方法所制备的ＰＩＶ测试用示踪粒子具有合适的密度、较好的流场跟随性和高的光散射效率，性能优异且稳定。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种高性能PIV测试用示踪粒子的制备方法，特别是涉及一种以粉煤灰空心微珠为基材制备高性能PIV测试用示踪粒子的方法。
技术介绍
PIV(Particle Image Velocimetry，粒子图像测速法)是七十年代末发展起来的一种瞬态、多点、无接触式的流体力学测速方法，作为最实用和非常有潜力的流体力学全流场观测，现已成为流体力学测量研究中的热门课题。其测速原理是通过测量示踪粒子在已知很短时间间隔内的位移量来间接地测量流场中瞬态的速度分布。因此，示踪粒子在PIV测速中非常重要，它需要具有足够高的流动跟随性，以便能够真实地反映流场的运动状态；并且具有足够小的尺寸，以便能够最大限度地减少对流场的干扰；具有足够高的光散射效率，以便记录设备能够清晰地记录示踪粒子的位置；还需要具有良好的球形率，防止由于示踪粒子不同截面的光散射强度不同，影响对同一示踪粒子的判读。目前，在PIV实验中，常选用的示踪粒子主要有二氧化钛颗粒、二氧化硅颗粒、三氧化二铝颗粒、氧化镁颗粒、玻璃微珠、滑石粉、铝粉、镁粉、聚苯乙烯颗粒、塑料粉或花粉等等，但由于PIV测试用示踪粒子对粒子粒度及分布、光散射效率、本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种高性能ＰＩＶ测试用示踪粒子，其特征在于：由粉煤灰空心微珠、金属层和有机物层构成，所述粉煤灰空心微珠的表面通过金属化处理包覆有金属层，金属层的表面通过改性处理包覆有有机物层。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：沈志刚，蔡楚江，麻树林，邢玉山，
申请(专利权)人：北京航空航天大学，
类型：发明
国别省市：11[中国|北京]