超速(转速)校验仪制造技术

技术编号:2625195 阅读:199 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术涉及一种超速(转速)校验仪,包括:驱动模块主控制单元、两对极的旋变和闭环驱动控制、齿轮;所述的驱动模块主控制单元与两对极的旋变和闭环驱动控制连接,两对极的旋变和闭环驱动控制与齿轮连接;本发明专利技术的有益效果是:在高速电流伺服单元和速度伺服单元的控制下,实现更高精度、更快响应的伺服控制,两对极的旋变和闭环驱动控制(军用雷达控制技术),转速范围1~6000r/min,精度0.16‰。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种超速(转速)校验仪
技术介绍
迄今为止在电力(火/水电厂)、石化、冶金等涉及大型旋转机械设备的行业,国内/外厂家在校验轴超速转速系统方面研究/生产过不同类型的校验设备,但这些设备始终都还没有实现对超速(转速)系统(传感器+超速保护系统/转速表等)的校验,且这些设备本身的标准性差,转速调整范围小(更无法在低/超低转速段校验超速(转速)系统),智能数据分析/处理、通讯功能缺乏,校验繁琐,校验数据人为因素大,甚至会将合格的超速(转速)系统校验成不合格系统。如何解决上述的技术问题是摆在科技技术人员面前需要解决的问题。
技术实现思路
本专利技术需要解决的技术问题是提供了一种超速(转速)校验仪,旨在解决上述的问题。为了解决上述技术问题,本专利技术是通过以下技术方案实现的:本专利技术包括:驱动模块主控制单元、两对极的旋变和闭环驱动控制、齿轮;所述的驱动模块主控制单元与两对极的旋变和闭环驱动控制连接,两对极的旋变和闭环驱动控制与齿轮连接。与现有技术相比,本专利技术的有益效果是:在高速电流伺服单元和速度伺服单元的控制下,实现更高精度、更快响应的伺服控制,两对极的旋变和闭环驱动控制(军用雷达控制技术),转速范围1~6000r/min,精度0.16-->‰。附图说明图1是本专利技术的模块图;具体实施方式下面结合附图与具体实施方式对本专利技术作进一步详细描述:由图1可见:本专利技术包括:驱动模块主控制单元、两对极的旋变和闭环驱动控制、齿轮;所述的驱动模块主控制单元与两对极的旋变和闭环驱动控制连接,两对极的旋变和闭环驱动控制与齿轮连接。本专利技术填补了水电厂对超速(转速)系统校验的空白(校验范围1Hz~6K Hz,即1r/min~6000r/min)。能对转速传感器进行自动校验,可标定单点转速系统、可检验单点转速报警/保护系统、可标定三取二转速系统、能智绘制、存储、打印输出φ8、φ11、探头规格电涡流/磁电式传感器的动态幅频特性曲线;显示/存储标准/被校传感器动态振动波形、峰峰值、有效值电压、频率。本专利技术的电机驱动采用的是高压交流伺服驱动器,驱动器采用旋转变压器作为反馈信号,旋变变压器解码芯片采用DDC公司的RDC高精度IC,可以达到12BIT、14BIT、16BIT,控制精度高,速度精度可达到0.1%,驱动模块主控制单元采用高速DSP和FPGA实现,功率放大部分采用三菱公司的IPM模块,在高速电流伺服单元和速度伺服单元的控制下,实现更高精度、更快响应的伺服控制,两对极的旋变和闭环驱动控制(军用雷达控制技术),转速范围1~6000r/min,精度0.16‰。本专利技术面板上配有5.7inch蓝膜液晶显示屏,分辨率320×240,内置高速数据采集、通讯板,采用500ksps、16位AD进行高速、高精度采样,采用DSP进行实时动/静态数据处理据华东国家计量测试中心上海市计量测试技术研究院出具的检测报告-->提供的数据,本专利技术与国内外同类产品进行比较,具体比较如下:  技术指标  本项目  实测值  美国  Bently  实测值  日本  Shin  kwa  德国  epro  测量转速值范围  r/min  1~  6000  5~  4000  5~  4000  5~  5000  最小转速设置分  辨率r/min  1  60  60  60  齿轮盘加工精度  um  5  45  45  45-->本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种超速(转速)校验仪,其特征在于包括:驱动模块主控制单元、两对极的旋变和闭环驱动控制、齿轮;所述的驱动模块主控制单元与两对极的旋变和闭环驱动控制连接,两对极的旋变和闭环驱动控制与齿轮连接。

【技术特征摘要】
1.一种超速(转速)校验仪,其特征在于包括:驱动模块主控制单元、两对极的旋变和闭环驱动控制、齿轮...

【专利技术属性】
技术研发人员:徐健
申请(专利权)人:上海瑞视仪表电子有限公司
类型:发明
国别省市:31[中国|上海]

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