显示面板的检测方法、系统及显示面板技术方案

本发明专利技术实施例涉及图像显示技术领域，公开了一种显示面板的检测方法、系统及显示面板，所述显示面板的检测方法包括：获取显示面板中多个像素的电性特征物理量，其中，每个像素均与一个电性特征物理量对应；获取所述多个像素中缺陷像素的数量，记为第一数量，所述缺陷像素的电性特征物理量超出预设阈值范围；判断所述第一数量是否大于或等于第一预设阈值，在判定所述第一数量大于或等于所述第一预设阈值时，判定所述显示面板存在亮度不均区域。本发明专利技术提供的显示面板的检测方法、系统及显示面板能够在准确判断显示面板亮度是否均匀的同时，减少人力成本。

【技术实现步骤摘要】
显示面板的检测方法、系统及显示面板
本专利技术实施例涉及图像显示
，特别涉及一种显示面板的检测方法、系统及显示面板。
技术介绍
OLED(OrganicLight-EmittingDiode)称为有机电致发光二极管。OLED显示技术具有全固态、主动发光、高对比度、超薄、低功耗、效应速度快、工作范围宽、易于实现柔性显示和3D显示等诸多优点，使它在目前在众多显示设备上得到应用，例如应用于电视机和移动设备上。目前OLED显示器件在亮度方面还存在显示非均匀性的问题，亮度显示的非均匀性主要是由于背板中薄膜晶体管(ThinFilmTransistor，TFT)的电学性能不均匀和在实现图像驱动时产生的电源电压降(IRDrop)引起的。现有技术中判断OLED显示器件显示亮度是否均匀的方法有待提高，因此，有必要提供一种新的显示面板的检测方法来解决上述问题。
技术实现思路
本专利技术实施方式的目的在于提供一种显示面板的检测方法、系统及显示面板，其能够在准确判断显示面板亮度是否均匀的同时，减少人力成本。为解决上述技术问题，本专利技术的实施方式提供了一种显示面板的检测方法，包括：获取显示面板中多个像素的电性特征物理量，其中，每个像素均与一个电性特征物理量对应；获取所述多个像素中缺陷像素的数量，记为第一数量，所述缺陷像素的电性特征物理量超出预设阈值范围；判断所述第一数量是否大于或等于第一预设阈值，在判定所述第一数量大于或等于所述第一预设阈值时，判定所述显示面板存在亮度不均区域。另外，在判定所述第一数量大于或等于所述第一预设阈值后，还包括：分别以每个所述缺陷像素为中心，划分多个具有预设区域面积的判断区域；获取每个判断区域内的缺陷像素的数量，记为第二数量，判断是否存在所述第二数量大于或等于所述第二预设阈值的判断区域，若存在，则将所述第二数量大于或等于所述第二预设阈值的所述判断区域作为所述亮度不均区域。另外，在将所述第二数量大于或等于所述第二预设阈值的所述判断区域作为所述亮度不均区域后，还包括：建立直角坐标系，获取所述缺陷像素在所述直角坐标系中的坐标；根据所述第二数量大于或等于所述第二预设阈值的所述判断区域中所述缺陷像素的坐标、所述预设区域面积，获取所述亮度不均区域在所述显示面板中的位置。另外，在判定所述第一数量大于或等于所述第一预设阈值后，还包括：建立直角坐标系，获取所述缺陷像素在所述直角坐标系中的坐标；判断是否存在连续相邻的N个缺陷像素，在判定存在连续相邻的N个缺陷像素后，则判定所述显示面板存在亮度不均区域，其中，所述N为大于或等于第三预设阈值的整数，其中，相邻的两个缺陷像素之间的距离小于预设距离，则判定两个缺陷像素连续。另外，在判定存在连续相邻的N个缺陷像素后，还包括：根据所述N个缺陷像素的N个坐标，获取所述亮度不均区域在所述显示面板中的位置。另外，所述电性特征物理量为电荷量，所述获取显示面板中多个像素的电性特征物理量，包括：获取每个像素在预设时长内的M个电流量，其中，M为大于1的整数，所述预设时长内具有M个时间点，每个时间点对应一个电流量；根据所述M个电流量和所述预设时长计算所述电荷量。另外，所述电性特征物理量为电流量，所述获取显示面板中多个像素的电性特征物理量，包括：获取每个像素在M个时间点的M个电流量，其中，M为大于1的整数，每个时间点对应一个电流量；将所述M个电流量的平均值作为所述像素的电流量。另外，所述预设阈值范围为大于或等于n1且小于或等于n2，其中，所述n1为所述像素正常显示时的最小电性特征物理量，所述n2为所述像素正常显示时的最大电性特征物理量；所述获取所述多个像素中缺陷像素的数量，记为第一数量，包括：获取所述多个像素中电性特征物理量小于所述n1的缺陷像素的数量并记为第一子数量、所述多个像素中电性特征物理量大于所述n2的缺陷像素的数量并记为第二子数量；所述判断所述第一数量是否大于或等于第一预设阈值，包括：判断所述第一子数量是否大于或等于第一预设阈值，或判断所述第二子数量是否大于或等于第一预设阈值。相应的，本专利技术实施例还提供了一种显示面板的检测系统，包括：计算装置、判断装置和处理装置；所述计算装置用于计算显示面板中多个像素的电性特征物理量，其中，每个像素均与一个电性特征物理量对应；所述判断装置用于获取所述多个像素中缺陷像素的数量，记为第一数量，所述缺陷像素的电性特征物理量超出预设阈值范围，并判断所述第一数量是否大于或等于第一预设阈值；所述处理装置用于在所述判断装置判定所述第一数量大于或等于所述第一预设阈值时，判定显示面板存在亮度不均区域。不难发现，本实施例为与上述方法实施例相对应的装置实施例，本实施例可与方法实施例互相配合实施。方法实施例中提到的相关技术细节在本实施方式中依然有效，为了减少重复，这里不再赘述。相应地，本实施例中提到的相关技术细节也可应用在方法实施例中。相应的，本专利技术实施例还提供了一种显示面板，包括：屏体、设置在屏体内的至少一个处理器；以及与至少一个处理器通信连接的存储器；其中，所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的指令，所述指令被所述至少一个处理器执行，以使所述至少一个处理器能够执行上述的显示面板的检测方法。与现有技术相比，本专利技术实施例提供的技术方案具有以下优点：由于引起显示面板显示不均匀的主要因素为像素的TFT特性和电容值，当像素的TFT特性和电容值异常时，像素的电性特征物理量也会偏高或偏低，因此通过获取显示面板中多个像素的电性特征物理量，以便于根据电性特征物理量的大小判断像素的TFT特性和电容值是否异常；由于数量较少的像素存在缺陷时并不会导致显示面板的亮度不均匀，通过获取多个像素中电性特征物理量超出预设阈值范围的缺陷像素的第一数量，并在第一数量大于或等于所述第一预设阈值时，再判定所述显示面板存在亮度不均区域，从而能够提高判断显示面板亮度是否均匀的准确性，且整个检测过程均无需人工参与，减少了人力成本。附图说明一个或多个实施例通过与之对应的附图中的图片进行示例性说明，这些示例性说明并不构成对实施例的限定，附图中具有相同参考数字标号的元件表示为类似的元件，除非有特别申明，附图中的图不构成比例限制。图1是根据本专利技术第一实施方式提供的显示面板的检测方法的流程图；图2是根据本专利技术第一实施方式提供的检测电路图；图3是根据本专利技术第一实施方式提供的像素的电流-时间曲线图；图4是根据本专利技术第二实施方式提供的显示面板的检测方法的流程图；图5是根据本专利技术第三实施方式提供的显示面板的检测方法的流程图；图6是根据本专利技术第三实施方式提供的显示面板的像素数量-电荷量的曲线图；图7是根据本专利技术第四实施方式提供的显示面板的检测系统的结构示意图；图8是根据本专利技术第五实施方式提供的显示面板的结构示意图。具体实施方式目前在OLED显示行业，Array电学检测判断电性mura的方法都是通过人员查看灰阶图进行判断；设备将测试的每个本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种显示面板的检测方法，其特征在于，包括：/n获取显示面板中多个像素的电性特征物理量，其中，每个像素均与一个电性特征物理量对应；/n获取所述多个像素中缺陷像素的数量，记为第一数量，所述缺陷像素的电性特征物理量超出预设阈值范围；/n判断所述第一数量是否大于或等于第一预设阈值，在判定所述第一数量大于或等于所述第一预设阈值时，判定所述显示面板存在亮度不均区域。/n

【技术特征摘要】
1.一种显示面板的检测方法，其特征在于，包括：
获取显示面板中多个像素的电性特征物理量，其中，每个像素均与一个电性特征物理量对应；
获取所述多个像素中缺陷像素的数量，记为第一数量，所述缺陷像素的电性特征物理量超出预设阈值范围；
判断所述第一数量是否大于或等于第一预设阈值，在判定所述第一数量大于或等于所述第一预设阈值时，判定所述显示面板存在亮度不均区域。


2.根据权利要求1所述的显示面板的检测方法，其特征在于，在判定所述第一数量大于或等于所述第一预设阈值后，还包括：
分别以每个所述缺陷像素为中心，划分多个具有预设区域面积的判断区域；
获取每个判断区域内的缺陷像素的数量，记为第二数量，判断是否存在所述第二数量大于或等于第二预设阈值的所述判断区域，若存在，则将所述第二数量大于或等于所述第二预设阈值的所述判断区域作为所述亮度不均区域。


3.根据权利要求2所述的显示面板的检测方法，其特征在于，在将所述第二数量大于或等于所述第二预设阈值的所述判断区域作为所述亮度不均区域后，还包括：
建立直角坐标系，获取所述缺陷像素在所述直角坐标系中的坐标；
根据所述第二数量大于或等于所述第二预设阈值的所述判断区域中所述缺陷像素的坐标、所述预设区域面积，获取所述亮度不均区域在所述显示面板中的位置。


4.根据权利要求1所述的显示面板的检测方法，其特征在于，在判定所述第一数量大于或等于所述第一预设阈值后，还包括：
建立直角坐标系，获取所述缺陷像素在所述直角坐标系中的坐标；
判断是否存在连续相邻的N个缺陷像素，在判定存在连续相邻的N个缺陷像素后，则判定所述显示面板存在亮度不均区域，其中，所述N为大于或等于第三预设阈值的整数，其中，相邻的两个缺陷像素之间的距离小于预设距离，则判定两个缺陷像素连续。


5.根据权利要求4所述的显示面板的检测方法，其特征在于，在判定存在连续相邻的N个缺陷像素后，还包括：
根据所述N个缺陷像素的N个坐标，获取所述亮度不均区域在所述显示面板中的位置。


6.根据权利要求1所述的显示面板的检测方法，其特征在于，所述电性特征物理量为电荷量，所述获取显示面板中多个...

【专利技术属性】
技术研发人员：白国晓，安永军，
申请(专利权)人：云谷固安科技有限公司，
类型：发明
国别省市：河北;13