一种检测压头及检测治具制造技术

本实用新型专利技术涉及电子产品检测技术领域，具体公开了一种检测压头及检测治具，该检测压头包括安装架、压头、导电组件和弹性支撑条，压头滑动设置于所述安装架上，以靠近或远离待检测的工件；导电组件包括薄膜探针，所述薄膜探针与所述压头连接，所述薄膜探针的一端设置有多个导电触片；弹性支撑条连接于所述压头，并位于所述压头与所述薄膜探针之间，所述薄膜探针设置有所述导电触片的一端与所述弹性支撑条的表面抵接，且所述表面为倾斜面，所述倾斜面较低一端的棱边沿多个所述导电触片的排列方向延伸。本实用新型专利技术提供的检测压头使得薄膜探针上的导电触片均能够与待检测的工件电性连接，保证面板的检测工作顺利进行。

【技术实现步骤摘要】
一种检测压头及检测治具
本技术涉及电子产品检测
，尤其涉及一种检测压头及检测治具。
技术介绍
为了便于测试TFT面板或LED面板等面板的电路是否正常，面板出厂前需要进行点亮测试，现有技术中通过检测压头对面板进行检测。检测压头包括薄膜探针，薄膜探针上包括多个并列设置的第一导电触片，面板上设置有与第一导电触片对应的第二导电触片，检测面板时，将薄膜探针下压使得多个第一导电触片与多个第二导电触片一一电性接触，进而使得面板通电。但是，由于薄膜探针上包括多个并列设置的第一导电触片，检测压头下压时不能保证每一个第一导电触片均与第二导电触片接触，导致面板的检测工作无法正常进行。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种检测压头及检测治具，以使得薄膜探针上的多个导电触片均能够与待检测的工件电性连接，保证面板的检测工作顺利进行。为达此目的，本技术采用以下技术方案：一种检测压头，包括：安装架；压头，滑动设置于所述安装架上，以靠近或远离待检测的工件；导电组件，包括薄膜探针，所述薄膜探针与所述压头连接，所述薄膜探针的一端设置有多个导电触片；弹性支撑条，连接于所述压头，并位于所述压头与所述薄膜探针之间，所述薄膜探针设置有所述导电触片的一端与所述弹性支撑条的表面抵接，且所述表面为倾斜面，所述倾斜面较低一端的棱边沿多个所述导电触片的排列方向延伸。作为优选，所述弹性支撑条设置于所述压头的端部，所述压头的所述端部具有L型的台阶面，所述弹性支撑条的一端与所述台阶面的水平面抵接，所述弹性支撑条的一侧与所述台阶面的竖直面抵接。作为优选，所述压头与所述导电组件通过快拆结构连接。作为优选，所述快拆结构包括：磁块，连接于所述压头；金属板，连接于所述导电组件，所述磁块能够吸附所述金属板。作为优选，所述压头开设有容纳槽，所述磁块设置于所述容纳槽内。作为优选，所述检测压头还包括：缓冲结构，所述压头通过所述缓冲结构与所述安装架连接。作为优选，所述安装架开设有安装槽；所述缓冲结构包括：连接块，所述连接块的一侧滑动连接于所述安装槽的侧壁；所述连接块开设有开口朝向所述安装槽的槽底的安装孔；弹簧，所述弹簧插设于所述安装孔，所述弹簧的一端伸出所述安装孔并连接于所述安装槽的所述槽底。作为优选，所述检测压头还包括：导向结构，所述连接块通过所述导向结构滑动连接于所述安装槽的所述侧壁。作为优选，所述导向结构包括：滑槽，开设于所述安装槽的所述侧壁；滑块，连接于所述连接块，并滑动设置于所述滑槽内。本技术采用以下技术方案：一种检测治具，包括上述的检测压头。本技术的有益效果：在检测面板时，薄膜探针上的导电触片朝向面板，并位于压头的下方。在压头刚开始被下压时，由于倾斜面与薄膜探针的接触面积小，薄膜探针受到面板的反作用力时，力传递给倾斜面，具有倾斜面的弹性支撑条易于压缩变形，倾斜面较低一端的棱边的延伸方向与多个导电触片的排列一致，从而使得每个导电触片均能与面板电性接触。弹性支撑条被压缩变形后形成平面，与面板的接触面积增大，进而稳定地支撑薄膜探针，使导电触片的位置保持稳定。本技术提供的检测压头使得薄膜探针上的导电触片均能够与待检测的工件电性连接，保证面板的检测工作顺利进行。附图说明图1是本技术实施例提供的检测压头的部分结构示意图；图2是本技术实施例提供的检测压头的分解图；图3是本技术实施例提供的弹性支撑条的结构示意图；图4是本技术实施例提供的检测压头的部分结构示意图。图中：1、安装架；11、避让槽；2、压头；21、水平面；22、竖直面；23、容纳槽；3、导电组件；31、薄膜探针；32、柔性电路板；4、弹性支撑条；41、倾斜面；5、快拆结构；51、磁块；52、金属板；6、缓冲结构；61、连接块；62、弹簧；7、导向结构；71、滑块；8、固定架。具体实施方式下面结合附图并通过具体实施方式来进一步说明本技术的技术方案。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本技术，而非对本技术的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本技术相关的部分而非全部。本技术中限定了一些方位词，在未作出相反说明的情况下，所使用的方位词如“上”、“下”、“左”、“右”、“内”、“外”，这些方位词是为了便于理解而采用的，因而不构成对本技术保护范围的限制。在本技术中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征之“上”或之“下”可以包括第一和第二特征直接接触，也可以包括第一和第二特征不是直接接触而是通过它们之间的另外的特征接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”包括第一特征在第二特征正上方和斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”包括第一特征在第二特征正下方和斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。在本技术的描述中，除非另有明确的规定和限定，术语“相连”、“连接”、“固定”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本技术中的具体含义。本实施例提供了一种检测压头，用于TFT面板、LED面板或太阳能薄膜等面板，但不限于此，还可以用于检测其他工件，以使得薄膜探针31上的多个导电触片均能够与待检测的工件电性连接，保证面板的检测工作顺利进行。以下以待检测的工件为面板为例进行说明。如图1-图3所示，本实施例提供的检测压头包括安装架1、压头2、导电组件3和弹性支撑条4。压头2滑动设置于安装架1上，以靠近或远离待检测的面板(为便于理解，以图1为例，待检测的面板位于导电组件3的下侧，压头2向下滑动抵压于面板上)；导电组件3包括薄膜探针31，薄膜探针31与压头2连接，从而在压头2的带动下靠近或远离面板。薄膜探针31的一端设置有多个导电触片，以与面板电性接触。弹性支撑条4连接于压头2，并位于压头2与薄膜探针31之间，薄膜探针31设置有导电触片的一端与弹性支撑条4的表面抵接，弹性支撑条4的该表面为倾斜面41，且斜面41较低一端的棱边沿多个导电触片的排列方向延伸。弹性支撑条4可以由橡胶等具有弹性的材料制成。在检测面板时，薄膜探针31上的导电触片朝向面板，并位于压头2的下方。在压头2刚开始被下压时，由于倾斜面41与薄膜探针31的接触面积小，薄膜探针31受到面板的反作用力时，力传递给倾斜面41，具有倾斜面41的弹性支撑条4易于压缩变形，倾斜面41较低一端的棱边沿多个导电触片的排列方向延伸本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种检测压头，其特征在于，包括：/n安装架(1)；/n压头(2)，滑动设置于所述安装架(1)上，以靠近或远离待检测的工件；/n导电组件(3)，包括薄膜探针(31)，所述薄膜探针(31)与所述压头(2)连接，所述薄膜探针(31)的一端设置有多个导电触片；/n弹性支撑条(4)，连接于所述压头(2)，并位于所述压头(2)与所述薄膜探针(31)之间，所述薄膜探针(31)设置有所述导电触片的一端与所述弹性支撑条(4)的表面抵接，且所述表面为倾斜面(41)，所述倾斜面(41)较低一端的棱边沿多个所述导电触片的排列方向延伸。/n

【技术特征摘要】
1.一种检测压头，其特征在于，包括：
安装架(1)；
压头(2)，滑动设置于所述安装架(1)上，以靠近或远离待检测的工件；
导电组件(3)，包括薄膜探针(31)，所述薄膜探针(31)与所述压头(2)连接，所述薄膜探针(31)的一端设置有多个导电触片；
弹性支撑条(4)，连接于所述压头(2)，并位于所述压头(2)与所述薄膜探针(31)之间，所述薄膜探针(31)设置有所述导电触片的一端与所述弹性支撑条(4)的表面抵接，且所述表面为倾斜面(41)，所述倾斜面(41)较低一端的棱边沿多个所述导电触片的排列方向延伸。


2.根据权利要求1所述的检测压头，其特征在于，所述弹性支撑条(4)设置于所述压头(2)的端部，所述压头(2)的所述端部具有L型的台阶面，所述弹性支撑条(4)的一端与所述台阶面的水平面(21)抵接，所述弹性支撑条(4)的一侧与所述台阶面的竖直面(22)抵接。


3.根据权利要求1所述的检测压头，其特征在于，所述压头(2)与所述导电组件(3)通过快拆结构(5)连接。


4.根据权利要求3所述的检测压头，其特征在于，所述快拆结构(5)包括：
磁块(51)，连接于所述压头(2)；
金属板(52)，连接于所述导电组件(3)，所述磁块(51)能够吸附所述金属板(52)。

【专利技术属性】
技术研发人员：刘峰，孙卫健，
申请(专利权)人：苏州光斯奥光电科技有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏;32