机内测试设计方法及系统技术方案

一种机内测试设计方法，包括：将待测混合电路划分为模拟子电路和数字子电路；将数字子电路划分为一个或多个边界扫描块和非边界扫描块，所述边界扫描块包括一个或多个边界扫描芯片；在机内测试过程中，针对任一边界扫描块，通过边界扫描控制装置向所述边界扫描块提供控制信号，接收所述边界扫描块根据控制信号产生的测试输出数据，并根据测试输出数据的分析结果，确定所述边界扫描块是否存在故障；针对非边界扫描块，利用环绕非边界扫描块的边界扫描块的测试输出数据，确定非边界扫描块是否存在故障。

【技术实现步骤摘要】
机内测试设计方法及系统
本文涉及但不限于测试
，尤指一种机内测试(BIT，Built-inTest)设计方法及系统。
技术介绍
目前，在军工、航天等领域，装备的集成度、复杂度越来越高，对装备的自测试、自诊断能力要求越来越高，这就要求对此类装备设计先进的机内自测试(BIT，Built-inTest)系统。然而，目前的BIT系统，多数针对纯数字信号系统(尤其是计算机应用系统)进行BIT设计，对于含有模拟信号和数字信号的混合电路，由于缺乏先进的故障诊断方法做支撑，缺乏有效的BIT设计方法。
技术实现思路
以下是对本文详细描述的主题的概述。本概述并非是为了限制权利要求的保护范围。本公开提供了一种机内测试设计方法及系统。一方面，本公开提供了一种机内测试设计方法，包括：将待测混合电路划分为模拟子电路和数字子电路；将所述数字子电路划分为一个或多个边界扫描块和非边界扫描块，所述边界扫描块包括一个或多个边界扫描芯片；在机内测试过程中，针对任一边界扫描块，通过边界扫描控制装置向所述边界扫描块提供控制信号，接收所述边界扫描块根据所述控制信号产生的测试输出数据，并根据所述测试输出数据的分析结果，确定所述边界扫描块是否存在故障；针对所述非边界扫描块，利用环绕所述非边界扫描块的边界扫描块的测试输出数据，确定所述非边界扫描块是否存在故障。另一方面，本公开提供一种机内测试设计系统，包括：第一分块模块，配置为将待测混合电路划分为模拟子电路和数字子电路；第二分块模块，配置为将所述数字子电路划分为一个或多个边界扫描块和非边界扫描块，所述边界扫描块包括一个或多个边界扫描芯片；第一机内测试模块，配置为在机内测试过程中，针对任一边界扫描块，通过边界扫描控制装置向所述边界扫描块提供控制信号，接收所述边界扫描块根据所述控制信号产生的测试输出数据，并根据所述测试输出数据的分析结果，确定所述边界扫描块是否存在故障；针对所述非边界扫描块，利用环绕所述非边界扫描块的边界扫描块的测试输出数据，确定所述非边界扫描块是否存在故障。本公开提供的机内测试设计方法及系统，基于边界扫描测试技术实现分块机内测试设计，快速定位混合电路中的故障区域。在阅读理解了附图和详细描述后，可以明白其他方面。附图说明附图用来提供对本公开技术方案的理解，并且构成说明书的一部分，与本公开的实施例一起用于解释本公开的技术方案，并不构成对本公开技术方案的限制。图1为本公开至少一实施例的机内测试设计方法的一示例性流程图；图2为本公开至少一实施例的机内测试设计方法的另一示例性流程图；图3(a)至图3(c)为置换定理的原理示意图；图4为本公开至少一实施例的待测混合电路的分块示例图；图5为本公开至少一实施例的模拟子电路的机内测试原理示意图；图6为本公开至少一实施例的数字子电路的机内测试示意图；图7为本公开至少一实施例的边界扫描块的测试扫描链路的示意图；图8为本公开至少一实施例的机内测试设计系统的示例图。具体实施方式本公开描述了多个实施例，但是该描述是示例性的，而不是限制性的，并且对于本领域的普通技术人员来说显而易见的是，在本公开所描述的实施例包含的范围内可以有更多的实施例和实现方案。尽管在附图中示出了许多可能的特征组合，并在实施方式中进行了讨论，但是所公开的特征的许多其它组合方式也是可能的。除非特意加以限制的情况以外，任何实施例的任何特征或元件可以与任何其它实施例中的任何其他特征或元件结合使用，或可以替代任何其它实施例中的任何其他特征或元件。本公开包括并设想了与本领域普通技术人员已知的特征和元件的组合。本公开已经公开的实施例、特征和元件也可以与任何常规特征或元件组合，以形成由权利要求限定的独特的专利技术方案。任何实施例的任何特征或元件也可以与来自其它专利技术方案的特征或元件组合，以形成另一个由权利要求限定的独特的专利技术方案。因此，应当理解，在本公开中示出或讨论的任何特征可以单独地或以任何适当的组合来实现。因此，除了根据所附权利要求及其等同替换所做的限制以外，实施例不受其它限制。此外，可以在所附权利要求的保护范围内进行各种修改和改变。此外，在描述具有代表性的实施例时，说明书可能已经将方法或过程呈现为特定的步骤序列。然而，在该方法或过程不依赖于本文所述步骤的特定顺序的程度上，该方法或过程不应限于所述的特定顺序的步骤。如本领域普通技术人员将理解的，其它的步骤顺序也是可能的。因此，说明书中阐述的步骤的特定顺序不应被解释为对权利要求的限制。此外，针对该方法或过程的权利要求不应限于按照所写顺序执行它们的步骤，本领域技术人员可以容易地理解，这些顺序可以变化，并且仍然保持在本公开实施例的精神和范围内。图1为本公开至少一实施例的机内测试设计方法的流程图。如图1所示，本实施例提供的机内测试设计方法可以包括步骤101至104。步骤101、将待测混合电路划分为模拟子电路和数字子电路。步骤102、将数字子电路划分为一个或多个边界扫描块和非边界扫描块，其中，边界扫描块可以包括一个或多个边界扫描芯片。边界扫描芯片可以为带有边界扫描结构的芯片。步骤103、在机内测试过程中，针对任一边界扫描块，通过边界扫描控制装置向边界扫描块提供控制信号，接收边界扫描块根据控制信号产生的测试输出数据，并根据测试输出数据的分析结果，确定边界扫描块是否存在故障。步骤104、针对非边界扫描块，利用环绕非边界扫描块的边界扫描块的测试输出数据，确定非边界扫描块是否存在故障。在一些示例性实施方式中，所述将待测混合电路划分为模拟子电路和数字子电路，可以包括：依据多端口置换定理，将待测混合电路划分为模拟子电路和数字子电路。在一些示例性实施方式中，所述将所述数字子电路划分为一个或多个边界扫描块，可以包括：将所述数字子电路内的多个边界扫描芯片按照功能划分为一个或多个边界扫描块。在本示例性实施例中，按照功能将多个边界扫描芯片进行分块，可以减小扫描链的长度，从而提高测试效率。在一些示例性实施方式中，针对所述非边界扫描块，利用环绕所述非边界扫描块的边界扫描块的测试输出数据，确定所述非边界扫描块是否存在故障，可以包括：根据环绕所述非边界扫描块的边界扫描块，确定与所述非边界扫描块的输入输出管脚对应的边界扫描芯片的管脚；通过比较与非边界扫描块的输入输出管脚相关的测试输出数据与所述非边界扫描块无故障时的数据，确定所述非边界扫描块是否存在故障。在本示例性实施例中，利用环绕非边界扫描块的边界扫描芯片，可以对非边界扫描块进行集中测试，从而提高测试效率。在一些示例性实施方式中，所述边界扫描控制装置可以包括：主控制器和边界扫描控制器，其中，所述主控制器配置为控制所述边界扫描控制器产生所述控制信号，所述控制信号包括：测试模式信号、测试时钟信号以及测试输入数据。在一些示例性实施方式中，本实施例的机内测试设计方法还可以包括：对所述模拟子电路进行区块划分，得到多个模拟子电路块；确定任两个模拟本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种机内测试设计方法，其特征在于，包括：/n将待测混合电路划分为模拟子电路和数字子电路；/n将所述数字子电路划分为一个或多个边界扫描块和非边界扫描块，所述边界扫描块包括一个或多个边界扫描芯片；/n在机内测试过程中，针对任一边界扫描块，通过边界扫描控制装置向所述边界扫描块提供控制信号，接收所述边界扫描块根据所述控制信号产生的测试输出数据，并根据所述测试输出数据的分析结果，确定所述边界扫描块是否存在故障；针对所述非边界扫描块，利用环绕所述非边界扫描块的边界扫描块的测试输出数据，确定所述非边界扫描块是否存在故障。/n

【技术特征摘要】
1.一种机内测试设计方法，其特征在于，包括：
将待测混合电路划分为模拟子电路和数字子电路；
将所述数字子电路划分为一个或多个边界扫描块和非边界扫描块，所述边界扫描块包括一个或多个边界扫描芯片；
在机内测试过程中，针对任一边界扫描块，通过边界扫描控制装置向所述边界扫描块提供控制信号，接收所述边界扫描块根据所述控制信号产生的测试输出数据，并根据所述测试输出数据的分析结果，确定所述边界扫描块是否存在故障；针对所述非边界扫描块，利用环绕所述非边界扫描块的边界扫描块的测试输出数据，确定所述非边界扫描块是否存在故障。


2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述将待测混合电路划分为模拟子电路和数字子电路，包括：依据多端口置换定理，将待测混合电路划分为模拟子电路和数字子电路。


3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述将所述数字子电路划分为一个或多个边界扫描块，包括：将所述数字子电路内的多个边界扫描芯片按照功能划分为一个或多个边界扫描块。


4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，针对所述非边界扫描块，利用环绕所述非边界扫描块的边界扫描块的测试输出数据，确定所述非边界扫描块是否存在故障，包括：
根据环绕所述非边界扫描块的边界扫描块，确定与所述非边界扫描块的输入输出管脚对应的边界扫描芯片的管脚；
通过比较所述非边界扫描块的输入输出管脚相关的测试输出数据与所述非边界扫描块无故障时的数据，确定所述非边界扫描块是否存在故障。


5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述边界扫描控制装置包括：主控制器和边界扫描控制器，其中，所述主控制器配置为控制所述边界扫描控制器产生所述控制信号，所述控制信号包括：测试模式信号、测试时钟信号以及测试输入数据。


6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
对所述模拟子电路进行区块划分，得到多个模拟子电路块；
确定任两个模拟子电路块之间的撕裂节点、每个模拟子电路块内的诊断用测试节点；
通过电路仿真分析，获取并存储撕裂节点和诊断用测试节点的电压仿真计算值；
在机内测试过程中，对模拟子电路和数字子电路之间的撕裂节点、任两个模拟子电路块之间的...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈圣俭，陈超，段靖辉，陈高升，林枫，宋钱骞，沈峰，
申请(专利权)人：北京旋极信息技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：北京;11