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一种机内测试设计方法,包括:将待测混合电路划分为模拟子电路和数字子电路;将数字子电路划分为一个或多个边界扫描块和非边界扫描块,所述边界扫描块包括一个或多个边界扫描芯片;在机内测试过程中,针对任一边界扫描块,通过边界扫描控制装置向所述边界扫描...该专利属于北京旋极信息技术股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过北京旋极信息技术股份有限公司授权不得商用。
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一种机内测试设计方法,包括:将待测混合电路划分为模拟子电路和数字子电路;将数字子电路划分为一个或多个边界扫描块和非边界扫描块,所述边界扫描块包括一个或多个边界扫描芯片;在机内测试过程中,针对任一边界扫描块,通过边界扫描控制装置向所述边界扫描...