用以检测光学元件品质的检测方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术关于一种用以检测光学元件品质的检测方法及装置，该方法包含下列步骤：利用一光源产生装置以提供一点状光源；输出该点状光源，并使其穿经由一握持装置所握持的光学镜头组，以于一光学影像处理装置处形成一第一光学影像；于该第一光学影像中具有一阴影区块时，调整该光学镜头组的位置状态，以使该点状光源于穿经遂行调整动作的该光学镜头组后，而于该光学影像处理装置处形成一第二光学影像；以及比较该第一与第二光学影像，以判断该阴影区块是否因应该光学镜头组的调整动作而同步移动，决定该光学元件的品质。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术关于一种用以检测光学元件品质的检测方法及装置，尤指一种用以检测一光学元件中是否留存有阻挡光程路径的阻碍物的光学元件品质的检测方法及装置。
技术介绍
随着消费性数字电子产品的流行，于所述产品上附加照相功能，已是目前的主要发展趋势之一。但是，因数字电子产品的整体体积，通常会基于成本与便利性的考虑而有所限制，如此一来，与其搭配的相机模块的整体体积当然更加受限。这样，应用其中的光学镜头组的整体体积，亦需跟着一起变小。此等结果，对于遂行判断所述小型光学镜头组的光学镜面是否存有瑕疵或受到污染(例如，留有灰尘、受到刮伤、材质不均等等)的检测工作，即形成一大挑战。公知针对所述小型光学镜头组的光学镜面是否存有瑕疵或受到污染的品质检测方法，通常是以高倍显微镜与强光，配合目视方式为之。对于留存于光学镜面表面的污点虽然可以此方式得知，但对于光学镜头组内部阻碍光程路径的阻碍物，抑或属于较不易直接以肉眼目视察觉的瑕疵，则显不易由此方式发现。如此一来，一旦此等具有瑕疵的光学镜头组被组装于产品中，显将引发后续品管与维修问题，甚或造成消费纠纷。
技术实现思路
本专利技术的目的之一，是希望提供一种能轻易发现光学镜头组内部阻碍光程路径的阻碍物的光学元件品质检测方法。本专利技术的另一目的，是希望提供一种能轻易发现光学镜头组内部阻碍光程路径的阻碍物的光学元件品质检测装置。为了达到上述目的，本专利技术提供一种用以检测光学元件品质的检测方法，包含下列步骤提供一点状光源；输出该点状光源，并使其穿经一光学元件，以于一光学影像处理装置处形成一第一光学影像；于该第一光学影像中具有一阴影区块时，调整该光学元件的位置状态，以使该点状光源于穿经遂行调整动作的该光学元件后，而于该光学影像处理装置处形成一第二光学影像；以及比较该第一与第二光学影像，以判断该阴影区块是否因应该光学元件的调整动作而同步移动，决定该光学元件的品质。依据本专利技术上述的构想，其中该点状光源可为一激光光源。依据本专利技术上述的构想，其中该光学元件可包含一供该点状光源穿经其中的光学镜头组，与一用以握持该光学镜头组的镜头组夹具。依据本专利技术上述的构想，其中该镜头组夹具具有一位置调整元件，以调整该光学镜头组可处于不同的位置状态。依据本专利技术上述的构想，其中可为以旋转方式，抑或以倾斜方式改变该光学镜头组的位置状态。依据本专利技术上述的构想，其中该阴影区块为由一留存于该光学元件中的阻碍物阻挡该点状光源的光程路径而形成。依据本专利技术上述的构想，其中该光学影像处理装置可为一具有二维坐标标记的屏幕，以供该第一与第二光学影像投射于其上。依据本专利技术上述的构想，其中该阴影区块的二维坐标值于因应该光学元件的位置调整动作而同步改变时，即表示该光学元件的品质不佳。依据本专利技术上述的构想，其中该光学影像处理装置可为一设有光学感测元件的计算机处理装置，以输入该第一与第二光学影像。依据本专利技术上述的构想，其中该计算机处理装置判断该阴影区块的感测影像坐标值于因应该光学元件的位置调整动作而同步改变时，即表示该光学元件的品质不佳。本专利技术的另一较佳做法，关于一种用以检测光学元件品质的检测方法，包含下列步骤提供一点状光源；输出该点状光源，并使其穿经可处于不同位置状态的一光学元件，以于一光学影像处理装置中留存不同的光学影像；以及判断该些不同光学影像中是否皆具有形式相同的阴影区块，决定该光学元件的品质。本专利技术的又一较佳做法，关于一种用以检测光学元件品质的检测装置，包含一光源产生装置，其用以产生一点状光源；一握持装置，设于该光源产生装置的后方，其用以握持一可供该点状光源穿经其中的光学镜头组，且可调整该光学镜头组的位置状态；以及一光学影像处理装置，设于该光学镜头组的后方，以输入该点状光源于穿经处于不同位置状态的光学镜头组后而所产生的不同光学影像，且可依据该些不同光学影像中的阴影区块是否因应该光学镜头组的调整动作而同步移动，决定该光学元件的品质。依据本专利技术的上述构想，该点状光源可为一激光光源，且该握持装置可为一用以握持该光学镜头组的镜头组夹具，该镜头组夹具具有一位置调整元件，以旋转或以倾斜方式，调整该光学镜头组处于不同的位置状态。依据本专利技术的上述构想，该阴影区块为由一留存于该光学镜头组中的阻碍物阻挡该点状光源的光程路径而形成。依据本专利技术的上述构想，该光学影像处理装置可为一具有二维坐标标记的屏幕，以供该第一与第二光学影像投射于其上，且该阴影区块的二维坐标值于因应该光学元件的位置调整动作而同步改变时，即表示该光学元件的品质不佳。依据本专利技术的上述构想，该光学影像处理装置可为一设有光学感测元件的计算机处理装置，以输入该第一与第二光学影像，且该计算机处理装置判断该阴影区块的感测影像坐标值于因应该光学元件的位置调整动作而同步改变时，即表示该光学元件的品质不佳。本专利技术的用以检测光学元件品质的检测方法和装置，能够在不大幅增加成本的前提下，轻易地检验出光学元件品质。附图说明图1其为本专利技术的一较佳实施流程的步骤示例图。图2(a)、图2(b)其皆为本专利技术的一第一较佳实施装置的结构与运作示例图。图3(a)、图3(b)其皆为本专利技术的一第二较佳实施装置的结构与运作示例图。其中，附图标记说明如下 1—检测装置；11—光源产生装置；110—点状光源；111—第一光学影像；112—第一光学影像；12—握持装置；121—位置调整元件；13—光学影像处理装置；14—光学镜头组；141—阴影区块；2—检测装置；21—光源产生装置；210—点状光源；211—第二光学影像；212—第二光学影像；22—握持装置；221—位置调整元件；23—光学影像处理装置；231—光学感测元件；232—微处理器；233—输出装置；2321—位置调整信号；24—光学镜头组；241—阴影区块；R—旋转动作；X—二维坐标轴；Y—二维坐标轴。具体实施例方式以下兹列举较佳实施例以说明本专利技术，然熟悉此项技术者皆知此仅为一举例，而并非用以限定专利技术本身。首先，兹提出本专利技术的一较佳实施方法。请参阅图1，其为本专利技术的一较佳实施方法的流程示例图，其详细步骤如下所述步骤(a)开始；步骤(b)提供一属于点状光源的激光光源；步骤(c)输出该激光光源，并使其穿经一光学元件，以于一光学影像处理装置处形成一第一光学影像；较佳者，其中该光学元件可包含一供该激光光源穿经其中的光学镜头组，与一用以握持该光学镜头组的镜头组夹具；至于该镜头组夹具，则可具有一位置调整元件，以旋转方式抑或以倾斜方式，调整该光学镜头组处于不同的位置状态；步骤(d)于该第一光学影像中具有一阴影区块时，向左或向右旋转调整该光学镜头组的位置状态，以使该激光光源于穿经遂行调整动作的该光学镜头组后，而于该光学影像处理装置处形成一第二光学影像；其中，该阴影区块为由一留存于该光学镜头组中的阻碍物阻挡该激光光源的光程路径而形成；步骤(e)比较该第一与第二光学影像，以判断该阴影区块是否因应该光学镜头组的调整动作而同步移动，决定该光学镜头组的品质； 其中，于该光学影像处理装置为一具有二维坐标标记的屏幕以供该第一与第二光学影像投射于其上，且，该阴影区块的二维坐标值于因应该光学镜头组的位置调整动作而同步改变时，即表示该光学镜头组的品质不佳；抑或，该光学影像处理装置亦可为一设有光学感测元件的计算机处理装置本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用以检测光学元件品质的检测方法，其中包含下列步骤：提供一点状光源；输出该点状光源，并使其穿经一光学元件，以于一光学影像处理装置处形成一第一光学影像；于该第一光学影像中具有一阴影区块时，调整该光学元件的位置状态，以 使该点状光源于穿经遂行调整动作的该光学元件后，而于该光学影像处理装置处形成一第二光学影像；以及比较该第一与第二光学影像，以判断该阴影区块是否因应该光学元件的调整动作而同步移动，决定该光学元件的品质。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：秦厚敬，陈祥男，
申请(专利权)人：致伸科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：71[中国|台湾]