表面污点检测系统及其检测方法技术方案

一种表面污点检测系统，其包括至少一个影像获取装置，用于获取待测物表面信息的影像；至少一个光源装置，用于照亮所述待测物的表面；一个与影像获取装置电气连接的信号处理装置，用于对影像获取装置所获取的影像进行处理，以检测所述待测物的表面是否符合预定的标准值，并对亮度值大于平均值的像素点进行标注。上述的表面污点检测系统在影像获取装置及信号处理装置配合作用下，能够准确地判断污点存在的位置，不仅加快了检测速度，而且避免了人工目检存在的主观因素以及其存在的漏检率，进而提高了检测合格率。本发明专利技术还涉及上述表面污点检测系统的污点检测方法。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术关于一种表面污点检测技术，尤其是关于一种。
技术介绍
随着科技的不断发展，携带式电子装置如移动电话，应用日益广泛，同时也日渐趋向于 轻巧、美观和多功能化，其中照相功能是近年流行的移动电话的附加功能。应用于移动电话 的数码相机模组不仅要满足轻薄短小的要求，其还须具有较高的照相性能。但随着对数码相 机及移动电话相机模组的影像品质的要求的不断提高，彩色滤光片作为相机模组的重要组成 部分，对其质量的检测将关系到影像品质的好坏。故，需要来检测其上的瑕疵位置，及大小 等。因此，能及时检测出有品质问题的彩色滤光片将有利于提高数码相机的照相品质。目前在组装彩色滤光片过程中，对彩色滤光片的污点检测主要是通过人工目检，即利用 人工一块一块地将成像表面有污点的彩色滤光片挑出来，检测速度很低，且这样的检测方式 存在较大的主观因素，而且人工检测方式还会存在很大的漏检率，从而使得检测合格率降低
技术实现思路
有鉴于此，有必要提供一种能提高检测合格率的。 一种表面污点检测系统，其包括至少一个影像获取装置，用于获取待测物表面的影像，并从该影像中取得各像素点的亮 度值；至少一个光源装置，用于照亮所述待测物的表面；一个与影像获取装置电气连接的信号处理装置，用于对所得的各像素点的亮度值求和， 求各像素点的亮度值的平均值，并将各像素点的亮度值与该所求的平均值比较以检测所述待 测物的表面的各像素点的亮度值是否符合预定的标准值，并对亮度值大于平均值的像素点进 行标注。一种表面污点检测方法，其包括下列步骤 开启光源装置，使其照亮待测物表面；由影像获取装置从待测物表面获取一影像，并从该影像中取得各像素点的亮度值； 由信号处理装置对所得的各像素点的亮度值求和，并求其平均值；由信号处理装置将各像素点的亮度值与该平均值比较；若一像素点的亮度值大于该平均值，则该像素点为污点，并将该污点标注。 与现有技术相比，所述表面污点检测系统在影像获取装置及信号处理装置的配合作用下，能够准确地判断污点存在的位置，不仅加快了检测速度，而且避免了人工目检存在的主观因素以及其存在的漏检率，进而提高了污点检测合格率。 附图说明图l是本专利技术实施例的表面污点检测系统的结构示意图2是本专利技术实施例的表面污点检测方法的流程图。具体实施例方式为了对本专利技术作更进一步的说明，举一较佳实施例并配合附图详细描述如下。请参阅图l，本专利技术实施例所提供的表面污点检测系统包括至少一个用于获取待测物20 表面影像的影像获取装置ll，至少一个用于照亮所述待测物20的表面的光源装置12， 一个与 影像获取装置11电气连接的信号处理装置13，以及一个主控系统14，该主控系统14分别与所 述信号处理装置13以及光源装置12电气连接。在这里需要说明的是，本实施例中，该表面污点检测系统所检测的待测物20可以为平面 玻璃或者是镀有光学滤光薄膜的平面玻璃滤光片，因在各种制程中，如镀膜制程，会有灰尘 ，杂物等落在待测物20的表面，从而形成污点。所述待测物20可放置在一移动平台21上，所 述待测物20可以在该移动平台21的传动机构22的控制下作二维移动。所述主控系统14可以与 该传动机构22电气相连并控制该传动机构22的工作状态。所述影像获取装置ll可以为一个相机模组，该相机模组设置于基座(图未示)上，用于获 取待测物20的表面的影像，并从该影像中取得各像素点的亮度值，同时该各像素点的亮度值 传送给所述的信号处理器13。在本实施例中，所述影像获取装置11所能从待测物20获取的面 积与待测物20的面积相当，因此，只用一个影像获取装置11来获取所述待测物20的表面影像 。当影像获取装置11所能从待测物20获取的面积小于待测物20的面积时，可以在移动平台 21的移动下，移动所述待测物20以让影像获取装置11在待测物20的表面区域作往复扫描以获 得待测物20的表面的全部影像。当然也可以设置若干个影像获取装置，例如，二个影像获取 装置。该两个影像获取装置所能从待测物20获取的总面积与待测物20表面的面积相当。可以想到的是，所述影像获取装置ll还可以设置在一个移动手臂(图未示)上，该移动手 臂可以在一传动机构(图未示)的控制下作二维移动，此时，所述待测物20可以设置在一个固 定平台上。所述光源装置12包括一个光源121和一个与该光源121电气连接的光源控制器122，该光 源121可以为一氦氖激光管，用于照亮所述待测物20的表面，以使影像获取装置ll从照亮的 待测物20的表面获得影像。所述光源控制器122可以通过控制提供给所述光源121的电压来控 制光源的亮度，以提升所述影像获取装置ll所获取影像的品质。当然可以想到的是，为了为 待测物20表面提供更亮、更均匀的光照，该表面污点检测系统可以包括多个光源装置。所述信号处理装置13的数量与影像获取装置11的数量相对应。在本实施例中，该表面污 点检测系统具有一个信号处理装置13。该信号处理装置13包括一个处理器(图未示)，内安装 有可识别并处理相关数据的处理程序，用于处理各种数据并输出结果。该信号处理装置13与 影像获取装置ll电气相连，且该信号处理装置13利用其内置的程序可控制所述影像获取装置 ll的开启与截止。所述主控系统14可以为一计算机，该主控系统14可识别处理有关数据，并输出结果。本 实施例中，所述主控系统14为一台中央处理器，其内安装有可识别并处理相关数据的程序。 该主控系统14分别与光源控制器122以及信号处理装置13电气连接，利用相关程序以系统地 配合并控制所述光源控制器122以及信号处理装置13工作，即通过该主控系统14配合并控制 所述光源控制器122提供给光源121的电压来控制光的亮度。通过该主控系统14还可以控制所 述信号处理装置13工作，即通过该主控系统14来配合并控制所述信号处理装置13处理来自影 像获取装置ll的信号。在这里需要进一步说明的是，光源装置12的电源还可以直接由主控系统14直接供给，并 由该主控系统14来控制该光源装置12提供的光的亮度。下面将对本实施例所提供的表面污点检测系统的污点检测方法进行详细说明，如图2所 示，为检测待测物表面污点的方法流程图。首先，步骤S201，开启光源装置12，使其照亮待测物20的表面；步骤S202，由影像获取装置11从待测物20表面获取一影像，并从该影像中取得各像素点 的亮度值；步骤S203，由信号处理装置13对所获取的影像信号进行噪声过滤； 步骤S204，由信号处理装置13对所得影像的各像素点的亮度值求和，并求其平均值； 步骤S205，由信号处理装置13将所有像素点的亮度值与该平均值比较； 步骤S206，若一像素点的亮度值大于该平均值，则该像素点为污点，并将该污点标注。 在步骤S203中，由于在所获取的影像信号在获取、传输中可能会有噪声产生时，因此， 本实施例中还由信号处理装置对该噪声进行过滤消除。在步骤S204中，其平均值计算所根据的数学原理为以下公式<formula>formula see original document page 7</formula>其中，1 )为某一像素点的亮度值，T为一定范围内的像素亮度值的平均值，"为这 一范围内的像素数量。在步骤S206中，当信号处本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种表面污点检测系统，其特征在于，该表面污点检测系统包括：　至少一个影像获取装置，用于获取待测物表面的影像，并从该影像中取得各像素点的亮度值；　至少一个光源装置，用于照亮所述待测物的表面；　一个与影像获取装置电气连接的信号处理装置，用于对所得的各像素点的亮度值求和，求各像素点的亮度值的平均值，并将各像素点的亮度值与该所求的平均值比较以检测所述待测物的表面的各像素点的亮度值是否符合预定的标准值，并对亮度值大于平均值的像素点进行标注。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：赖柏元，简义本，林信力，林光伟，
申请(专利权)人：鸿富锦精密工业深圳有限公司，鸿海精密工业股份有限公司，
类型：发明
国别省市：94[中国|深圳]